基于单晶衍射仪的广角散射测试方法及装置

    公开(公告)号:CN113049617A

    公开(公告)日:2021-06-29

    申请号:CN202110253554.2

    申请日:2021-03-09

    申请人: 西湖大学

    发明人: 缪晓和

    IPC分类号: G01N23/207

    摘要: 本发明涉及一种基于单晶衍射仪的广角散射测试方法及装置,该方案包括以下步骤:对样品进行制样并置于样品台上;将样品与单晶XRD中心对中;选定X射线光源,使得X射线光源对准样品,其中所述X射线光源为铜靶与钼靶切换配合;设定样品与单晶XRD面探测器间的距离,设定曝光时间用以收集散射信号;通过二维面探测器采集散射后的X射线;积分二维散射谱图得到X射线一维衍射角2theta图或相位角gamma图,本方案结合单晶XRD的点焦及二维面探的特点,拓展了单晶XRD的应用领域,且兼容固态与液态材料的表征,对材料的容忍度极高,兼顾透射与掠入射模式的广角散射,快速、高效、经济。

    单晶-单晶原位相变原子级结构监测方法

    公开(公告)号:CN118243709A

    公开(公告)日:2024-06-25

    申请号:CN202410672405.3

    申请日:2024-05-28

    申请人: 西湖大学

    IPC分类号: G01N23/20

    摘要: 本申请提出了光热耦合驱动单晶‑单晶原位相变原子级结构监测方法,包括通过对光敏材料单晶实施精确的温控与智能化脉冲式间歇性光照射,实现了光敏材料相变过程中单晶‑单晶的原子级结构实时监测。该方法包括选材、数据优化、结构解析、温控对中、光照处理及数据采集等步骤,特别设计的光源控制系统保障了光辐照的精确控制与样品保护,结合灵活的光源支撑装置与多波长照明能力,为光催化、光电材料等领域的研究提供了强大工具,实现了从理论到实践的飞跃,促进了材料科学的创新发展。

    单晶-单晶原位相变原子级结构监测方法

    公开(公告)号:CN118243709B

    公开(公告)日:2024-08-16

    申请号:CN202410672405.3

    申请日:2024-05-28

    申请人: 西湖大学

    IPC分类号: G01N23/20

    摘要: 本申请提出了光热耦合驱动单晶‑单晶原位相变原子级结构监测方法,包括通过对光敏材料单晶实施精确的温控与智能化脉冲式间歇性光照射,实现了光敏材料相变过程中单晶‑单晶的原子级结构实时监测。该方法包括选材、数据优化、结构解析、温控对中、光照处理及数据采集等步骤,特别设计的光源控制系统保障了光辐照的精确控制与样品保护,结合灵活的光源支撑装置与多波长照明能力,为光催化、光电材料等领域的研究提供了强大工具,实现了从理论到实践的飞跃,促进了材料科学的创新发展。

    基于单晶衍射仪的广角散射测试方法及装置

    公开(公告)号:CN113049617B

    公开(公告)日:2024-04-02

    申请号:CN202110253554.2

    申请日:2021-03-09

    申请人: 西湖大学

    发明人: 缪晓和

    IPC分类号: G01N23/207

    摘要: 本发明涉及一种基于单晶衍射仪的广角散射测试方法及装置,该方案包括以下步骤:对样品进行制样并置于样品台上;将样品与单晶XRD中心对中;选定X射线光源,使得X射线光源对准样品,其中所述X射线光源为铜靶与钼靶切换配合;设定样品与单晶XRD面探测器间的距离,设定曝光时间用以收集散射信号;通过二维面探测器采集散射后的X射线;积分二维散射谱图得到X射线一维衍射角2theta图或相位角gamma图,本方案结合单晶XRD的点焦及二维面探的特点,拓展了单晶XRD的应用领域,且兼容固态与液态材料的表征,对材料的容忍度极高,兼顾透射与掠入射模式的广角散射,快速、高效、经济。

    基于多场耦合的高分辨原位X射线衍射系统及其测试方法

    公开(公告)号:CN114235869A

    公开(公告)日:2022-03-25

    申请号:CN202111562552.8

    申请日:2021-12-20

    申请人: 西湖大学

    IPC分类号: G01N23/207 G01N23/20025

    摘要: 本发明涉及基于多场耦合的高分辨原位X射线衍射系统及其测试方法,该方案基于高分辨薄膜XRD设备,还包括设于高分辨薄膜XRD上的原位腔体、设于该原位腔体内的样品架、设于该样品架上的电加热条和温度传感器、设于该原位腔体外的外置电化学工作站以及与该外置电化学工作站电连接的正负电极片;原位腔体上还连接有与原位腔体连通的冷却水通道;正负电极片位于原位腔体内。本申请结合现有高分辨薄膜XRD设备的硬件特点,并进行改造,构建加热加电耦合的原位环境,开发出新的原位电热反应的测试系统和方法,填补了现有技术的空白。

    用于检测溶液结晶过程的原位XRD检测设备及方法

    公开(公告)号:CN118777346A

    公开(公告)日:2024-10-15

    申请号:CN202411267377.3

    申请日:2024-09-11

    申请人: 西湖大学

    IPC分类号: G01N23/207

    摘要: 本公开涉及用于检测溶液结晶过程的原位XRD检测设备及方法。该检测设备包括:原位XRD装置,其用于溶液样品在结晶过程中的不同温度下XRD图谱的采集;原位腔体,其设置在原位XRD装置中;样品架,其设置于所述原位腔体的内部并被配置成用于容纳待检测的所述溶液样品;以及冷却介质循环系统。样品架包括:样品架主体限定于其中的凹槽部;至少一层背景衍射材料,其层叠铺设于并覆盖凹槽部的底部;多孔材料,其被配置成用于吸附所述溶液样品;以及密封薄膜,其覆盖在所述多孔材料的上表面。该检测设备和检测方法,结构简单且操作简便,能够对溶液样品在降温结晶过程中的晶体析出进行高精度地监测,填补了在该领域的技术空白。

    基于衍射仪的背靠背双层薄膜的晶体取向评估方法及装置

    公开(公告)号:CN118258834A

    公开(公告)日:2024-06-28

    申请号:CN202410410027.1

    申请日:2024-04-07

    申请人: 西湖大学

    IPC分类号: G01N23/207 G01N23/20025

    摘要: 本公开涉及一种基于衍射仪的背靠背双层薄膜的晶体取向评估方法及装置。该方法包括:提供自设的样品台,使之包括可拆卸地机械固定在一起并以第一间隙相互平行的上基座和下基座;将样品台布置在样品台底座上;形成上薄膜组件和下薄膜组件;将上薄膜组件和下薄膜组件,以第二间隙彼此相对地分别安装在上基座和下基座上;对上薄膜组件和下薄膜组件进行同步面内圆周旋转测试,以得到上薄膜和下薄膜的面内phi谱图;根据上薄膜和下薄膜的面内phi谱图,同时评估上薄膜和下薄膜的相同待测面内晶面的晶体取向。利用该方法,能够同时检测并判断该双层薄膜的相同待测面内晶面的晶体取向是否对齐。

    基于多场耦合的高分辨原位X射线衍射系统及其测试方法

    公开(公告)号:CN114235869B

    公开(公告)日:2024-05-14

    申请号:CN202111562552.8

    申请日:2021-12-20

    申请人: 西湖大学

    IPC分类号: G01N23/207 G01N23/20025

    摘要: 本发明涉及基于多场耦合的高分辨原位X射线衍射系统及其测试方法,该方案基于高分辨薄膜XRD设备,还包括设于高分辨薄膜XRD上的原位腔体、设于该原位腔体内的样品架、设于该样品架上的电加热条和温度传感器、设于该原位腔体外的外置电化学工作站以及与该外置电化学工作站电连接的正负电极片;原位腔体上还连接有与原位腔体连通的冷却水通道;正负电极片位于原位腔体内。本申请结合现有高分辨薄膜XRD设备的硬件特点,并进行改造,构建加热加电耦合的原位环境,开发出新的原位电热反应的测试系统和方法,填补了现有技术的空白。

    泡沫金属电极的原位XRD微电解池的设计及测试方法

    公开(公告)号:CN117269210A

    公开(公告)日:2023-12-22

    申请号:CN202310678717.0

    申请日:2023-06-08

    申请人: 西湖大学

    IPC分类号: G01N23/20 G01N27/28 G01N27/30

    摘要: 本发明提供了一种泡沫金属基电极的原位X射线衍射(XRD)微电解池的设计及测试方法,即在高精度、长时监测的预设工况条件下,通过稳定电解液液位,实现材料结构变化的X射线原位追踪;本发明维持电解液液位恒量的具体流程:通过带有蠕动泵的加液器、控制加液速度来维持液面高度的恒量。本发明利用防空气散射附件重金属片来阻挡杂散光与直射光,大大地提高了低角度衍射峰的信噪比,而且不影响高角度衍射峰信号量,从而能够提升原位XRD检测的灵敏度;本发明中长时原位监测,液位恒量最大限度地减少其他环境因素的干扰,保留了电压电流驱动原位反应的纯正性。

    基于多晶X射线衍射仪的电化学检测装置及其测试方法

    公开(公告)号:CN113311012A

    公开(公告)日:2021-08-27

    申请号:CN202110575783.6

    申请日:2021-05-26

    申请人: 西湖大学

    IPC分类号: G01N23/20008 G01N27/30

    摘要: 本发明涉及基于多晶X射线衍射仪的电化学检测装置及其测试方法,该方案包括多晶X射线衍射仪、电化学原位池、升降台及电化学工作站;升降台设于多晶X射线衍射仪的原样品台位置,电化学原位池活动设于升降台上,通过升降台驱动电化学原位池上下运动实现高度调节;通过电化学原位池放置安装测试电极,通过电化学工作站与测试电极电连接,测试电极上设有沉积研究对象化合物的电极片,测试方法为装置的方法,本方案可通过对催化反应中电极材料的原位表征,来获取比如材料的物相、晶胞参数、结晶度、晶粒尺寸、晶体结构等信息;还原外加电压过程中相应结构的变化趋势等详细信息,大大拓展了原位XRD的应用领域,填补了现有技术的空白。