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    散射补偿方法和散射测量方法
    1.
    发明授权
    散射补偿方法和散射测量方法 失效

    公开(公告)号：CN100563572C

    公开(公告)日：2009-12-02

    申请号：CN200610082095.1

    申请日：2006-03-01

    申请人： GE医疗系统环球技术有限公司

    发明人： 贯井正健

    IPC分类号： A61B6/03

    CPC分类号： G01N23/046 ,  A61B6/5282 ,  A61B6/583 ,  G01N2223/419 ,  G01N2223/612 ,  Y10S378/901

    摘要： 本发明的一个目的是补偿在多层放射线摄影期间出现的散射。导致散射的非患者实体(不同于患者的实体)的投影长度pro_ex被获取，并且放射线摄影对象的投影长度pro_pt被获取。对放射线摄影对象进行放射线摄影，以便测量数据I(do，do)，其中将线束厚度设置成与探测器厚度do具有相同的值。对放射线摄影对象进行放射线摄影，以便测量数据I(do，d)，其中将线束厚度设置成大于探测器厚度do的值d。根据数据I(do，do)和数据I(do，d)之间的差值，散射量S(do，d)被计算并与投影长度和pro_pt+pro_ex相关联地被存储。在对患者进行放射线摄影以产生数据后，患者的投影长度pro_pt被计算，已经对数据造成影响的非患者实体的投影长度pro_ex也被计算。和患者投影长度pro_pt与非患者实体投影长度pro_ex的和相关的散射量S(do，d)被读出。因此，数据被校正以便补偿散射。最后，由散射引起的CT图像质量退化可以被抑制。

    X射线剂量补偿方法及X射线计算机断层摄影设备
    2.
    发明公开
    X射线剂量补偿方法及X射线计算机断层摄影设备 无效

    公开(公告)号：CN1757378A

    公开(公告)日：2006-04-12

    申请号：CN200510108420.2

    申请日：2005-10-08

    申请人： GE医疗系统环球技术有限公司

    发明人： 西出明彦 ,  贯井正健

    IPC分类号： A61B6/03

    CPC分类号： G01T1/2985 ,  A61B6/032 ,  G01T1/166

    摘要： 本发明提供了X射线剂量补偿方法，用于对来自多阵列探测器(24)的、具有改善SNR的探测器信号进行X射线剂量补偿，该SNR用于通过使用多阵列探测器(24)探测到的探测器信号，其中沿通道方向置成一维阵列的多个X射线探测通道沿行方向被堆叠成多个行，从而形成二维矩阵的X射线探测通道。多阵列探测器(24)或X射线平面探测器或X射线图像增强器内的多个特定X射线探测通道被用作X射线剂量参考通道(30)，通过来自这些X射线剂量参考通道(30)的探测器信号总和或平均值而用于X射线剂量补偿。

    X－射线CT设备和控制它的方法
    3.
    发明授权
    X－射线CT设备和控制它的方法 失效

    公开(公告)号：CN1219491C

    公开(公告)日：2005-09-21

    申请号：CN03106888.X

    申请日：2003-03-06

    申请人： GE医疗系统环球技术有限公司

    发明人： 西出明彦 ,  熊崎昌也 ,  贯井正健

    IPC分类号： A61B6/03

    CPC分类号： A61B6/587 ,  A61B6/08 ,  A61B6/583 ,  Y10S378/901

    摘要： 为了确定X-射线管的位置距预定位置的偏移并基于所确定的偏移校正轴向投影数据D1和像素投影数据D2，通过使用X-射线焦点2102和检测器2103并通过如下的方式可以获得适当的轴向投影数据D1：使用通过检测从X-射线焦点2102发射出的并经过点2104的X-射线的通道获得的投影数据D0确定在点2104上的轴向投影数据D1，以及在x-轴的(+)-方向上将所确定的轴向投影数据D1移动距离DIS1。在另一方面，取y＝Ye/2(y＝r1-r2)作为实例，并且在通过X-射线焦点2102和检测器2103确定在y＝r1-r2上的适当的像素投影数据D2时，可以类似地实施偏移校正处理，即在x-轴的(+)-方向上将在点2106上的像素投影数据D2移动在两点2106和2107之间的距离DIS2(即偏移)。

    X射线CT设备和成像方法
    4.
    发明公开
    X射线CT设备和成像方法 失效

    公开(公告)号：CN1644165A

    公开(公告)日：2005-07-27

    申请号：CN200510004720.6

    申请日：2005-01-19

    申请人： GE医疗系统环球技术有限公司

    发明人： 乡野诚 ,  贯井正健

    IPC分类号： A61B6/02 ,  A61B6/03

    CPC分类号： A61B6/488 ,  A61B6/027 ,  A61B6/032 ,  A61B6/469 ,  A61B6/5223 ,  G01N23/04 ,  Y10S378/901

    摘要： 为了允许通过对象的任意横截面进行容易和快速的图像重构而不取决于X射线发射的方向或扫描台架的旋转方向，一种用于X射线CT设备的成像方法，其中该X射线CT设备具有X射线源和被设置以面向X射线源的X射线检测器，在X射线源和X射线检测器之间设置对象，该设备用于围绕对象旋转X射线源和X射线检测器中的至少一个，并通过X射线检测器检测从X射线源朝向对象发射的X射线，所述方法包括步骤：在与由X射线源和X射线检测器中的至少一个围绕对象旋转而形成的平面不平行的平面中为对象限定(ST1－ST3)重构平面；通过从X射线源发射锥形形状X射线来扫描(ST5)对象；以及基于限定的重构平面重构(ST6)对象的层析图像。

    累加断层分析图像产生方法和X射线CT设备
    5.
    发明公开
    累加断层分析图像产生方法和X射线CT设备 失效

    公开(公告)号：CN1340329A

    公开(公告)日：2002-03-20

    申请号：CN01132515.1

    申请日：2001-08-31

    申请人： GE医疗系统环球技术有限公司

    发明人： 贯井正健 ,  西出明彦

    IPC分类号： A61B6/03 ,  G01N23/00

    CPC分类号： G06T11/005

    摘要： 为了消除局部体积对通过累加具有不同切片厚度的多个断层分析图像而产生累加断层分析图像的影响,对行数据Ij(j=1－J)实施偏移校正和灵敏度校正,由所述数据可以重构各个断层分析图像Gj;通过利用相应于切片厚度Tj的权Tj/∑Tj对数据Ij进行加权相加而产生累加数据K;对累加数据进行对数处理;以及然后对累加数据进行重构处理,从而产生累加的断层分析图像G。

    串扰校正方法和X射线计算机断层扫描设备
    7.
    发明公开
    串扰校正方法和X射线计算机断层扫描设备 失效

    公开(公告)号：CN1669529A

    公开(公告)日：2005-09-21

    申请号：CN200510054844.5

    申请日：2005-03-15

    申请人： GE医疗系统环球技术有限公司

    发明人： 贯井正健 ,  今井靖浩 ,  乡野诚

    IPC分类号： A61B6/03 ,  G01T1/20

    CPC分类号： G01T1/164 ,  A61B6/583 ,  G01T1/2985

    摘要： 为了提供易于消除切片方向上相邻的闪烁器之间出现的荧光渗漏的串扰校正方法，信道方向上的第一函数拟合部件51和切片方向上的第二函数拟合部件53从倾斜模型投影信息41确定理想投影长度ln(Dn)，式(1)则用来确定渗漏系数ε+和ε－，随后，串扰消除部件82采用式(2)和渗漏系数ε+和ε－、从构成关于受检者的受检者投影信息42的检测信息Sn确定强度信息Dn；这样，受检者投影信息42中包含的切片方向上相邻的闪烁器的渗漏分量通过简易方法被消除，以便消除因切片方向上的渗漏引起的人为现象，从而提高图像质量。

    X射线衰减校正方法、CT装置、图像产生装置及方法
    10.
    发明公开
    X射线衰减校正方法、CT装置、图像产生装置及方法 失效

    公开(公告)号：CN101040781A

    公开(公告)日：2007-09-26

    申请号：CN200610130919.8

    申请日：2006-12-21

    申请人： GE医疗系统环球技术有限公司

    发明人： 贯井正健

    IPC分类号： A61B6/00 ,  G01N23/00 ,  G06T5/00

    CPC分类号： G06T11/005 ,  A61B6/583

    摘要： 本发明提供一种用于校正在对象的X射线吸收率发生变化的边界处X射线束的衰减的X射线衰减校正方法、图像产生装置、X射线CT装置以及图像产生方法。边界信息包括X射线吸收率发生变化的边界位置和从对象的投影信息中提取的变化的幅度，然后边界信息被用来把散射X射线量乘以与在边界位置处变化的幅度对应的量以校正在边界位置处X射线的衰减。在边界位置处X射线的衰减可以连同投影信息的散射X射线的校正一起被校正，从而允许减轻在X射线断层扫描图像中显现的伪影。