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公开(公告)号：CN100412978C
公开(公告)日：2008-08-20
申请号：CN200410055275.1
申请日：2004-03-17
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B2020/1873
Abstract: 一种记录方法、记录装置、光学记录介质、和计算机可读记录介质，所述记录介质中存储了用于所述记录方法的程序，其中所述方法包括：将在整个临时缺陷信息之中的具有大小等于预定大小(K)的倍数(N＝0、1、2、…)的临时缺陷信息以及在该整个临时缺陷信息之中的排除大小等于K×N的临时缺陷信息之外的剩余的临时缺陷信息分别记录到光学记录介质中。
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公开(公告)号：CN101233566A
公开(公告)日：2008-07-30
申请号：CN200680027333.7
申请日：2006-05-25
CPC classification number: G06F12/1458 , G11B19/04 , G11B19/122 , G11B20/00086 , G11B20/00152 , G11B20/00702 , G11B23/288 , G11B2220/215 , G11B2220/2537
Abstract: 一种包含虚拟写保护信息的光学介质可以被记录在驱动器和系统中而不用通过接收有效用户输入而首先将写保护从打开改变为关闭。虚拟写保护还可以通过盘上的附加信息被启用或禁用。
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公开(公告)号：CN101083112A
公开(公告)日：2007-12-05
申请号：CN200710126967.4
申请日：2003-09-23
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B2020/1873 , G11B2220/20
Abstract: 一种用于使用盘中的临时缺陷管理区域来管理盘中的盘缺陷的方法和设备，以及盘，其中，该方法包括：将用户数据记录在数据区域中；和将关于记录在数据区域中的用户数据的临时缺陷信息和临时缺陷管理信息记录在存在于引入区域和引出区域的至少一个中的临时缺陷管理区域中。因此，该方法和设备可应用到可记录的盘并且能够有效地使用缺陷管理区域。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101071609A
公开(公告)日：2007-11-14
申请号：CN200710126809.9
申请日：2004-05-21
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G11B20/1217 , G11B20/1866 , G11B2020/1222 , G11B2020/1272 , G11B2020/1288 , G11B2020/1846 , G11B2220/2537
Abstract: 本发明提供了一种使用填充信息在盘上记录和/或再现数据的设备和方法以及一种相应的信息存储介质。该记录方法包括：记录无效数据被填充在其部分中的记录单元块，并记录指示无效数据被包括的填充信息。根据该方法，盘驱动器能够区分纠错块中的有效数据和无效数据，从而再现的可靠性增加并可提高系统的稳定性。
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公开(公告)号：CN101067951A
公开(公告)日：2007-11-07
申请号：CN200710102202.7
申请日：2004-03-04
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 一种保存一次写入记录介质的数据记录状态的一次写入记录介质、一种保存一次写入记录介质的数据记录状态的方法、一种包括也用于相同目的计算机可读记录代码的介质、和一种记录和/或再现装置。在该保存一次写入记录介质的数据记录状态的方法中，首先，将数据记录在该一次写入介质上。接着，产生表示已占用区域的记录状态数据，并将其记录在分配在该一次写入记录介质中的临时缺陷管理区域中。之后，接收最终确定命令以保存该一次写入记录介质的数据记录状态。然后，响应于该最终确定命令，将预定数据记录在临时缺陷管理区域中，以防止还在该一次写入记录介质上记录数据。因此，可以保存已最终确定的一次写入记录介质的数据记录状态。
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公开(公告)号：CN101064159A
公开(公告)日：2007-10-31
申请号：CN200710109153.X
申请日：2005-01-28
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B20/12
CPC classification number: G11B20/1217 , G06F12/0246 , G11B20/1883 , G11B27/329 , G11B2020/1275 , G11B2020/1278 , G11B2020/1295 , G11B2020/1873 , G11B2220/20 , G11B2220/218 , G11B2220/237 , G11B2220/2537
Abstract: 一种一次写入盘，包括：预定种类的更新信息被记录在其中的多个更新区；主访问信息被记录在其中的至少一个主访问信息区，该主访问信息指示在所述多个更新区之中最终更新的信息被记录在其中的最终更新区；和子访问信息被记录在其中的至少一个子访问信息区，该子访问信息指示记录在最终更新区中的最终更新的信息的位置。因此，可减少用于读取使用该一次写入盘所需的预定种类的信息的访问时间。
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公开(公告)号：CN1993756A
公开(公告)日：2007-07-04
申请号：CN200580025710.9
申请日：2005-07-18
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B20/12
CPC classification number: G11B27/3027 , G06F3/0619 , G06F3/064 , G06F3/0677 , G11B20/1217 , G11B20/1883 , G11B2020/10907 , G11B2020/1873 , G11B2020/1893 , G11B2220/20 , G11B2220/218 , G11B2220/2541
Abstract: 一种信息记录介质和一种记录/再现设备以及一种用于记录介质的记录/再现方法。通过用一个或多个替换记录块替换原始记录块来顺序地更新原始数据。替换记录块包括原始地址字段或先前地址字段中的至少一个，原始地址字段指示原始记录块的位置，先前地址字段指示紧先前的记录块的位置。通过参照各替换记录块中的地址字段，在备用区或用户数据区发生逻辑重写(LOW)的替换的系统中可以有效地恢复替换系统。
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公开(公告)号：CN1311440C
公开(公告)日：2007-04-18
申请号：CN03824368.7
申请日：2003-09-22
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B7/007
CPC classification number: G11B7/00375 , G11B7/004 , G11B7/00736 , G11B7/24038 , G11B20/1883 , G11B2020/1873 , G11B2020/1893 , G11B2220/20 , G11B2220/218
Abstract: 提供了一种管理盘中的缺陷的方法，该盘包括用户数据区和除了用户数据区之外的备用区，该方法包括：将用户数据记录在用户数据区中；将记录在用户数据区的存在缺陷的缺陷区中的用户数据再次记录在备用区中以产生记录在缺陷区中的用户数据的替换数据；和将在用户数据区中最后记录的最后用户数据的地址和在备用区中记录的最后替换数据的地址记录在在盘上的临时缺陷管理区中，该临时缺陷管理区由该设备使用以针对该盘执行盘缺陷管理。本发明还提供了一种使用具有用户数据区和除了用户数据区之外的临时缺陷管理区和备用区的盘的记录和/或再现设备。
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