一种半导体器件特性分析测试装置

    公开(公告)号:CN2239628Y

    公开(公告)日:1996-11-06

    申请号:CN95239616.5

    申请日:1995-04-21

    Applicant: 南京大学

    Inventor: 胡立群 郑有炓

    Abstract: 一种半导体器件特性分析测试装置,以PC扩展卡的形式制成本装置,它包含数模/模数转换接口,直接数字量的I/O端口、恒流源电路、扫描电压形成/控制电路功耗电阻网络和信号拾取单元。恒流源电路是微机控制下的压控恒流源,电压信号由微机数字化设定;扫描电压信号由微机给出对应数据,经D/A转换电路,功率放大电路,加在被测器件的电极上。功耗电阻网络由数字量I/O控制相应继电器或模拟开关选择。

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