多物联网射频识别设备防碰撞方法、装置及存储介质

    公开(公告)号:CN109299765B

    公开(公告)日:2021-11-26

    申请号:CN201811289185.7

    申请日:2018-10-31

    IPC分类号: G06K17/00 G06K7/00

    摘要: 本发明公开了一种多物联网射频识别设备防碰撞方法,在依据当前业务场景中的物联网射频识别设备数量确定出原始随机数范围之后,就将原始随机数范围发送至各物联网射频识别设备以生成自身随机数;然后读写器将在原始随机数范围内选择目标随机数发送至各物联网射频识别设备;最后接收自身随机数与目标随机数一致的目标物联网射频识别设备的序列号。由此可见,该方法,通过使各物联网射频识别设备产生的自身随机数和读写器选择的目标随机数的方式获取各物联网射频识别设备的序列号,可减少数据发生碰撞的概率,进而可以缩短耗时时间以及提高数据获取效率。另外,本发明还公开了一种多物联网射频识别设备防碰撞装置及存储介质,效果如上。

    一种集成电路光刻蚀结构,制备方法及集成电路

    公开(公告)号:CN110277372A

    公开(公告)日:2019-09-24

    申请号:CN201910667327.7

    申请日:2019-07-23

    摘要: 本发明公开了一种集成电路光刻蚀结构,包括第一导体和第二导体,第一导体与第二导体均通过预设版图光刻蚀而成;预设版图包括对应第一导体的第一遮蔽图形,以及对应第二导体的第二遮蔽图形;第一遮蔽图形包括至少一个沿预设方向延伸的遮蔽指。在光刻蚀工艺中由于光学邻近效应会使得版图中的拐角处发生畸变,由于受制备工艺中随机扰动的影响,该畸变具有较强的随机性,使得集成电路光刻蚀结构的寄生电容值也不相同。该集成电路光刻蚀结构可以较好的捕获集成电路生产过程中的工艺随机扰动,可用于生成集成电路的标识信息;使用该集成电路光刻蚀结构的制作成本很低。本发明还提供了一种制备方法及一种集成电路,同样具有上述有益效果。

    一种用于料带的芯片查补设备

    公开(公告)号:CN109775331A

    公开(公告)日:2019-05-21

    申请号:CN201910168054.1

    申请日:2019-03-06

    摘要: 本发明公开了用于料带的芯片查补设备,包括:底座、控制装置以及依次设于底座上的输送装置、检测装置、剥离装置、补料装置以及封合装置,输送装置用于驱动料盘旋转以将料盘中的料带从第一料盘输送至第二料盘;检测装置位于料带输送路径上并用于检测料带中是否缺失芯片;剥离装置用于剥离料带中芯片缺失处的载带与盖带;补料装置用于补充芯片至与盖带分离的载带上;封合装置用于封合已补充芯片的载带与盖带;输送装置、检测装置、剥离装置、补料装置和封合装置信号连接于控制装置。能实现芯片缺失的自动检测与自动补充,有效避免了手工操作时效率低、材料浪费等问题,极大提高了芯片出厂效率与质量。

    应用于芯片生产的空压机故障预警方法、系统及相关装置

    公开(公告)号:CN109737045A

    公开(公告)日:2019-05-10

    申请号:CN201910027185.8

    申请日:2019-01-11

    IPC分类号: F04B49/10 F04B49/06

    摘要: 本申请公开了一种应用于芯片生产的空压机故障预警方法、系统及相关装置,包括:获取空气压缩机的历史观测向量,其中,历史观测向量中包括多个变量的监测数据;将历史观测向量分为第一历史观测向量和第二历史观测向量,通过第一历史观测向量构建故障预警模型,根据故障预警模型及第二历史观测向量确定故障预警阈值;获取空气压缩机的实际观测向量;通过故障预警模型及故障预警阈值判断实际观测向量是否满足故障预警条件,若是,生成预警信号。本申请中,当判定实际观测向量满足预警条件时,生成故障预警信号,使现场的工作人员提前发现空气压缩机故障的早期征兆,采取正确措施,以降低故障损失,极大提高启动生产过程的安全性和经济性。

    用于芯片生产的动态记忆矩阵构建方法、系统及相关装置

    公开(公告)号:CN109726502A

    公开(公告)日:2019-05-07

    申请号:CN201910027189.6

    申请日:2019-01-11

    IPC分类号: G06F17/50

    摘要: 本申请公开了一种用于芯片生产的动态记忆矩阵构建方法、系统及相关装置,包括获取空气压缩机的历史观测向量,其中,历史观测向量中包括多个变量的监测数据;计算各个变量之间的相关性系数,根据相关性系数将各个变量分为多个小组,在每个小组里确定任意一个变量作为待选变量,通过待选变量构成待选历史观测向量;获取新观测向量,计算待选历史观测向量对新观测向量的影响值,将影响值满足剔除条件的待选历史观测向量剔除;通过剔除操作后剩余的待选历史观测向量构建动态记忆矩阵。本申请优化了构建动态记忆矩阵的行和列,降低了动态记忆矩阵的构建复杂度,从而降低了构建MSET模型的复杂度,提高了模型的预测精度与泛化能力。

    芯片生产用空压机的稳压方法、系统、装置及存储介质

    公开(公告)号:CN109578264B

    公开(公告)日:2020-10-27

    申请号:CN201910073183.2

    申请日:2019-01-25

    IPC分类号: F04B49/06

    摘要: 本申请公开了一种芯片生产用空压机的稳压方法,包括:获取空气压缩机的稳态工况数据;根据稳态工况数据设定模糊控制器的模糊规则;获取储气罐压力和排气压力;将储气罐压力和排气压力输入模糊控制器,得到模糊控制器进行模糊推理后输出的变频控制信号;利用模糊控制器输出的变频控制信号控制空气压缩机的电机转速,以稳定储气罐压力。由于本发明利用模糊控制器,根据储气罐压力和排气压力对空气压缩机的电机转速进行变频控制,保证电机转速和排气压力符合模糊控制器的模糊规则,使储气罐压力更稳定,避免出现上下波动较大的情况,满足芯片生产所需的高质量气动生产环境。相应的,本申请还公开了一种芯片生产用空压机的稳压系统、装置及存储介质。

    一种物理不可克隆函数电路,集成电路及制备方法

    公开(公告)号:CN110263588A

    公开(公告)日:2019-09-20

    申请号:CN201910667328.1

    申请日:2019-07-23

    IPC分类号: G06F21/73 G06F21/76

    摘要: 本发明公开了一种物理不可克隆函数电路,包括至少两个串联光刻蚀结构和运算放大器,串联光刻蚀结构包括相互串联的第一光刻蚀结构和第二光刻蚀结构,第一光刻蚀结构与第二光刻蚀结构之间形成有连接点,运算放大器的两个输入端分别与两个串联光刻蚀结构的连接点连接。第一光刻蚀结构具体通过第一预设版图光刻蚀而成,第一预设版图的第一遮蔽图形包括第一遮蔽指,第二光刻蚀结构具体通过第二预设版图光刻蚀而成,第二预设版图的第三遮蔽图形包括第二遮蔽指。上述物理不可克隆函数电路仅由串联光刻蚀结构和运算放大器构成,其结构非常简单。本发明还提供了一种物理不可克隆函数电路的制备方法及一种集成电路,同样具有上述有益效果。

    一种智能电表的网络构建装置

    公开(公告)号:CN109922429A

    公开(公告)日:2019-06-21

    申请号:CN201910188784.8

    申请日:2019-03-13

    摘要: 本申请公开了一种智能电表的网络构建装置,包括:用于获取目标智能电表的地理位置的掌机;用于将目标智能电表与目标变压器建立映射关系的拓扑组件;与掌机和拓扑组件无线相连,用于显示地理位置和映射关系的应用服务器。这样一来,当目标智能电表需要维修时,工作人员就能够通过应用服务器实时查看到目标智能电表的地理位置,并且,当工作人员需要对目标变压器进行检修时,也能够通过建立的目标智能电表与目标变压器的映射关系,向目标变压器下挂载的目标智能电表发送停电信息,由此大大提高了工作人员在对目标智能电表进行维修过程中的工作效率与服务质量。

    芯片生产用空压机的稳压方法、系统、装置及存储介质

    公开(公告)号:CN109578264A

    公开(公告)日:2019-04-05

    申请号:CN201910073183.2

    申请日:2019-01-25

    IPC分类号: F04B49/06

    摘要: 本申请公开了一种芯片生产用空压机的稳压方法,包括:获取空气压缩机的稳态工况数据;根据稳态工况数据设定模糊控制器的模糊规则;获取储气罐压力和排气压力;将储气罐压力和排气压力输入模糊控制器,得到模糊控制器进行模糊推理后输出的变频控制信号;利用模糊控制器输出的变频控制信号控制空气压缩机的电机转速,以稳定储气罐压力。由于本发明利用模糊控制器,根据储气罐压力和排气压力对空气压缩机的电机转速进行变频控制,保证电机转速和排气压力符合模糊控制器的模糊规则,使储气罐压力更稳定,避免出现上下波动较大的情况,满足芯片生产所需的高质量气动生产环境。相应的,本申请还公开了一种芯片生产用空压机的稳压系统、装置及存储介质。

    一种芯片出厂检验装置
    20.
    发明公开

    公开(公告)号:CN109003924A

    公开(公告)日:2018-12-14

    申请号:CN201810891363.7

    申请日:2018-08-07

    IPC分类号: H01L21/67

    摘要: 本发明公开一种芯片出厂检验装置,包括机体底座、设置于所述机体底座的两端并驱动料盘同步旋转以水平送出芯片料带的支撑驱动机构、设置于所述机体底座上并用于在所述芯片料带的运输过程中检测芯片的出厂质量参数的检测机构,以及与所述检测机构信号连接、用于根据内置程序控制其检测流程的控制主机。本发明所提供的芯片出厂检验装置,通过支撑驱动机构驱动两端料盘旋转,对芯片料带进行卷绕,从而实现对芯片的运输效果,并通过检测机构在芯片料带的卷绕过程中实现对各个芯片的出厂质量参数的检测,同时在检测过程全程中辅以控制主机进行自动控制,快速、高效完成对芯片的批量出厂质量检验,提高质量检测精度,降低人工劳动量和人力成本。