一种电路板缺陷检测定位方法、装置和存储介质

    公开(公告)号:CN113222913A

    公开(公告)日:2021-08-06

    申请号:CN202110463780.3

    申请日:2021-04-28

    摘要: 本发明公开一种电路板缺陷检测定位方法、装置和存储介质,方法包括:利用机器学习算法对电路板进行缺陷检测,得到存在缺陷的电路板的缺陷部位图像信息,存储缺陷部位元件名称;将缺陷部位的局部放大图像输入预先训练的深度学习网络检测模型,得到其异常类型信息以及异常位置区域;获取待检测电路板的元件实际坐标文件数据,以及预先确定的电路板整板图像中元件像素坐标与元件实际坐标之间的关系表达式;根据缺陷部位元件名称和关系表达式,计算缺陷部位在电路板整板图像中的像素坐标;最后将缺陷部位的异常类型以及异常位置区域信息,和缺陷部位在电路板整板图像中的定位位置输出至人机交互界面。利用本发明能够快速定位和展示电路板上的缺陷位置,提高板卡检测的效率和可靠性。