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公开(公告)号:CN103743487A
公开(公告)日:2014-04-23
申请号:CN201310739314.9
申请日:2013-12-30
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01J4/04
Abstract: 本发明设计属于光纤测量技术领域,具体涉及到差分对称光程扫描的一种光学相干域偏振测量装置。本发明的宽谱光源、起偏器、待测偏振器件、检偏器、光程相关器、差分探测装置、光电信号转换与信号记录装置按照上述顺序连接在一起。本发明利用光学相干域偏振测量装置信号输出幅度与光程扫描延迟器透射光强的乘积成正比的特点,使处于光程相关器两干涉臂中的差分对称光程扫描装置实现光强自动补偿,极大地抑制了单一扫描器强度浮动对测量的影响,提高偏振串音的测量精度,降低对扫描器强度浮动性能的要求。
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公开(公告)号:CN102927924A
公开(公告)日:2013-02-13
申请号:CN201210381976.9
申请日:2012-10-10
Applicant: 哈尔滨工程大学
Abstract: 本发明提供的是一种短基线差分式激光应变测量仪。包括单频激光干涉传感器、悬吊系统、测量基线杆、基线固定装置、测量控制和信号记录与处理系统、测量标定装置以及测量反射镜限位系统,固定在第1基岩上的单频激光干涉传感器与测量反射镜构成一个完整的单频激光干涉仪;测量反射镜通过测量反射镜限位系统与测量基线的首端连接;测量基线的末端安装测量标定装置、并通过基线固定装置固定在第2基岩上;测量基线的中间安装悬挂系统;单频激光干涉传感器和测量标定装置通过信号连接线与测量控制和信号记录与处理系统连接。本发明性能价格比高,可广泛应用于前兆数字台网的改造和建设。
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公开(公告)号:CN107688175B
公开(公告)日:2021-03-30
申请号:CN201710722263.7
申请日:2017-08-22
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01S11/12
Abstract: 本发明提供一种用于中子散射相机快速测距的方法,主要应用于具有中子放射性的特殊核材料与中子放射源的监管与探测,属于特殊材料监测领域。本发明公开的方法内容如下:将液闪探测器进行分组摆放,前排探测器数量应大于后排数量,后排探测器距前排20‑40cm对称摆放,构成一组;两组探测器的探测灵敏面均尽可能朝向目标方向,前排探测器距离目标位置应尽可能小于后排与目标距离,相互摆放距离应与目标所处距离基本相当。利用两组探测器所组成的中子散射相机,对比两组探测器所形成的中子反投影图像的差异,来判断目标与探测器的距离。本发明提供的方法具有探测速度快、算法易实现、测距结果准确、适应多个量程等优点。
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公开(公告)号:CN105841928B
公开(公告)日:2018-08-17
申请号:CN201610157528.9
申请日:2016-03-18
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明设计属于光纤测量技术领域,具体涉及到一种光纤偏振器件的高消光比测量方法。一种光纤偏振器件的高消光比测量方法,在待测高消光比偏振器件即Y波导的输入、输出端分别焊接两段不同长度的保偏光纤,构成带有定量串扰标记的测量组件;焊接时利用集总式消光比测试仪对焊接点的消光比进行定量控制并记录其测量值,同时对起偏器尾纤、检偏器尾纤、高消光比偏振器件尾纤、焊接保偏光纤的长度进行设定;将测量组件接入分布式光纤偏振串扰测试装置中,利用外接光纤焊接点之间的二阶串扰测量值对待测偏振器件消光比进行标定和自校准。在测量过程时,可对串扰标记和测量峰进行同步测量,杜绝测量环境改变和器件连接精度等引入的误差。
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公开(公告)号:CN105784336B
公开(公告)日:2018-05-18
申请号:CN201610265283.1
申请日:2016-04-26
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明提供的是一种光纤器件的透射和反射性能同时测试的装置及方法。向待测器件中注入宽谱光,产生能反映其透射和反射性能的两路光信号,并将光信号注入到光学相干域偏振测量技术透射性能测试结构和光学低相干反射技术的反射性能测试结构中,使用共用延迟部件进行扫描,对两路光信号进行测量,同时得到待测光纤器件的透射和反射特征。在使用同一光源和同一延迟部件的情况下,光纤器件的透射和反射性能测试装置可精确测量待测器件的偏振性能、色散特性、损耗特性、相干光谱特性等特征参数。本发明具有集成程度高、测试参数全、抗电磁干扰、器件组成简单等优点,可广泛用于保偏光纤、集成波导调制器等光学器件性能的高精度测量与分析。
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公开(公告)号:CN105157733B
公开(公告)日:2017-11-21
申请号:CN201510293444.3
申请日:2015-06-02
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01D5/26
Abstract: 本发明设计属于光纤干涉仪测量领域,具体涉及到一种改进的生成载波相位PGC解调方法。改进的生成载波相位PGC解调方法,用干涉仪后端的3×3耦合器输出的第一路固定相移FPS信号和第二路FPS信号进行FPS算法相位解调;第一路PGC信号采用相位生成载波算法进行解调,最后将两种算法解调结果进行合理融合。本发明将基于3×3耦合器的固定相移法与PGC算法相结合,使用PGC算法解调低频小信号,使用FPS算法输出高频大信号,这样可以在保持原有的采样率的情况下提高系统的相位分辨率,增大动态范围最终实现保持采样率不变的情况下,增加相位分辨率与动态范围,消除伴生调幅影响。
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公开(公告)号:CN104280217B
公开(公告)日:2017-10-03
申请号:CN201410535211.5
申请日:2014-10-11
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明设计属于光学器件测量技术领域,具体涉及到一种Y波导双通道光学性能测量装置。Y波导双通道光学性能测量装置,包括高偏振宽谱光源、待测Y波导器件、光学干涉扫描解调装置、偏振串音检测与记录装置:待测Y波导的第一输出保偏尾纤、第二通道输出保偏尾纤分别与光学干涉扫描解调装置的第一输入端、第二输入端连接,构成马赫‑泽德干涉仪;光学干涉扫描解调装置依次由光程发生器、光程扫描装置和光电探测器连接构成。该测试装置使用Y波导作为白光干涉仪的一部分测试其两个输出通道光学性能,两个通道不会交叉干扰,这样使测试结果更加准确。
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公开(公告)号:CN104280216B
公开(公告)日:2017-05-24
申请号:CN201410535202.6
申请日:2014-10-11
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: G01M11/02
Abstract: 本发明设计属于光学器件测量技术领域,具体涉及到一种Y波导器件的双通道光学性能同时测试装置及其Y波导偏振串音识别与处理方法。Y波导器件的双通道光学性能同时测试装置,包括高偏振宽谱光源、待测集成波导调制器即Y波导、双通道光耦合装置、光程解调装置、偏振串音检测与记录装置,双通道光耦合装置第一输入端,第一输入端连接Y波导第一通道输出端、第二通道输出端,将两个通道的光信号合并为一路,由输出端输出送入光程解调装置。该测试装置使Y波导的测试更加简便易行,其装置将待测试器件的两个输出通道光信号耦合为一路,然后仅仅用一套解调干涉仪即可实现双通道性能同时测量。这很好保证了测试的一致性,提高了测试精度。
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公开(公告)号:CN103746745B
公开(公告)日:2017-04-12
申请号:CN201310739371.7
申请日:2013-12-30
Applicant: 哈尔滨工程大学
IPC: H04B10/25
Abstract: 本发明属于光纤传感与光学测量领域,具体涉及到了一种大量程光学延迟装置。大量程光学延迟装置,由阶跃型光程倍增装置与连续式光程扫描装置通过传输光纤连接而成;其中,连续式光程扫描装置的光程连续扫描范围为0~X0;阶跃型光程倍增装置(110)由n个长度固定的不同延迟光路a0、a1……an组成,延迟光路的光程分别为L0、L1……、Ln,L0=0,n=0,1,2,……,相邻延迟光路的光程增加满足Ln+1‑Ln<X0,X0‑d<Ln+1‑Ln<X0,且Ln+2‑Ln+1≤Ln+1‑Ln,本发明将固定延迟模块和可变光程延迟机构组合在一起,实现了任意光程的连续扩展;通过本装置实现了光程的无缝接续,借助于扫描台的高精度,满足了在同一精度下的连续扫描功能。
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公开(公告)号:CN106441226A
公开(公告)日:2017-02-22
申请号:CN201610810938.9
申请日:2016-09-08
Applicant: 哈尔滨工程大学
CPC classification number: G01C9/00 , G01C2009/066 , G01D5/35325 , G01D5/35329 , G01D5/35387
Abstract: 本发明设计属于光纤干涉仪测量领域,具体涉及到一种基于复合干涉仪结构的测斜装置。该装置核心光路为复用干涉仪20,该光路封装于传感探头1中;复用干涉仪20光路连接关系为宽谱光源209连接至第二环形器222的a端口,第二环形器222的b端口连接至第一环形器221的a端口;第一环形器221的b端口连接至1号光栅261,之后通过1号光栅尾纤261a连接至2号探测器202。本发明将4个干涉仪进行复用,体积小,质量轻,节约了制作成本,提高系统集成度。抗电磁干扰能力强,能够适应几百度高温。灵敏度高,动态范围大,使用干涉信号相位作为测量标准,对加速度的频域分辨率最小可达到ng量级。
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