公开(公告)号：CN105784336A

公开(公告)日：2016-07-20

申请号：CN201610265283.1

申请日：2016-04-26

Applicant: 哈尔滨工程大学

Inventor： 杨军 ,  梁帅 ,  李创 ,  苑勇贵 ,  彭峰 ,  吴冰 ,  喻张俊 ,  苑立波

IPC: G01M11/02

CPC classification number: G01M11/02

Abstract: 本发明提供的是一种光纤器件的透射和反射性能同时测试的装置及方法。向待测器件中注入宽谱光，产生能反映其透射和反射性能的两路光信号，并将光信号注入到光学相干域偏振测量技术透射性能测试结构和光学低相干反射技术的反射性能测试结构中，使用共用延迟部件进行扫描，对两路光信号进行测量，同时得到待测光纤器件的透射和反射特征。在使用同一光源和同一延迟部件的情况下，光纤器件的透射和反射性能测试装置可精确测量待测器件的偏振性能、色散特性、损耗特性、相干光谱特性等特征参数。本发明具有集成程度高、测试参数全、抗电磁干扰、器件组成简单等优点，可广泛用于保偏光纤、集成波导调制器等光学器件性能的高精度测量与分析。

公开(公告)号：CN105043718A

公开(公告)日：2015-11-11

申请号：CN201510212810.8

申请日：2015-04-30

Applicant: 哈尔滨工程大学

Inventor： 杨军 ,  梁帅 ,  李创 ,  喻张俊 ,  苑勇贵 ,  吴冰 ,  彭峰 ,  苑立波

IPC: G01M11/02

Abstract: 本发明属于光纤测量技术领域，具体涉及到一种光学偏振器件分布式偏振串扰测量的噪声抑制装置与抑制方法。一种光学偏振器件分布式偏振串扰测量的噪声抑制装置，包括宽谱光源、起偏器、第1光纤旋转连接器、第2光纤旋转连接器、待测光纤器件、光程相关器、偏振串扰检测与信号记录装置。本发明使用偏振分束器将传输光与耦合光彻底分离，避免干涉拍噪声的影响；在控制电路热噪声的基础上，使用衰减器对传输光进行衰减，让耦合光成为主探测光，使散粒噪声成为限制系统信噪比的主要噪声，使用本发明提供的方法调节至合适参数，可保持系统动态范围不变的前提下，信噪比提升20～40dB，有效提高测量灵敏度。