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公开(公告)号：CN112903598B
公开(公告)日：2021-11-19
申请号：CN202110084277.7
申请日：2021-01-21
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明属于光学电子器件技术领域，具体为一种椭偏测量系统中偏振元件方位角的差分光谱定标方法。本发明的原理是对由起偏器出射的两束偏振方向相互垂直的线偏光，经过已知介电函数谱的样品后，其反射椭偏光的椭圆方位角的进行差分光谱分析，准确地获得起偏器方位角的位置。其中通过可旋转检偏器以及光栅光谱仪，对550‑650 nm光谱范围内的200个以上的波长点，完成差分光谱数据的采集，分析确定偏振元件方位角的位置，完成定标过程。本发明通过Si和Au体材料的测试验证；克服了传统定标方法对反射材料光学常数的精确度、探测器光强灵敏度要求较高，稳定性较差等缺点，能快速准确地完成椭偏测量系统中偏振元件方位角的定标。
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公开(公告)号：CN101819151A
公开(公告)日：2010-09-01
申请号：CN201010153460.X
申请日：2010-04-22
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明属于光学电子器件技术领域，具体公开了一种主动式大气光谱快速获取系统。该系统将脉冲高压加在电离室中的金属针上，将气体样品电离而发光，光经透镜系统聚焦后，通过可调狭缝，被平面镜M1反射到柱形凹面镜M2后成为平行光，再入射到由多光栅组成的复合光栅G上；调节各子光栅的方位角，使各子衍射光谱区落在相同的衍射张角内，再反射至组合式柱面镜M3，在入射面内沿波长分布方向对光谱线进行聚焦，成像在探测器D的受光面上；最后由探测器将探测到的光信号转换为电信号，由数据采集卡送到计算机内进行数据处理，从而快速获得气体样品的发射光谱。
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公开(公告)号：CN111693561B
公开(公告)日：2023-02-10
申请号：CN202010471013.2
申请日：2020-05-28
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明涉及一种纳米材料燃点测量方法及测量系统，所述测量方法包括以下步骤：1)利用变温椭圆偏振光谱仪在单波长和单角度下测量不同温度下纳米材料的P光、S光的复反射率比值ρ，进而获得两个椭偏参数ψ与Δ；2)基于步骤1)获得椭偏参数ψ、Δ随温度的变化谱；3)基于所述变化谱上的突变点确定纳米材料的相变点；4)根据每一所述相变点前后物质的变化情况，判断所述相变点是否为燃点，从而测量获得纳米材料的最终燃点。与现有技术相比，本发明具有无接触、快速、可靠性高等优点。
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公开(公告)号：CN112557304B
公开(公告)日：2021-09-17
申请号：CN202011316227.9
申请日：2020-11-22
Applicant: 复旦大学
IPC: G01N21/21
Abstract: 本发明属于纳米材料和光学技术领域，具体为一种基于椭偏参数轨迹拓扑特征识别薄膜材料纳米结构的方法。本发明方法包括以下步骤：利用椭圆偏振光谱仪测量薄膜材料的P光、S光的复反射率比值ρ，进而获得两个椭偏参数ψ与Δ；获得椭偏参数(ψ、Δ)的轨迹曲线；根据所述轨迹曲线的拓扑特征判定薄膜材料纳米结构由颗粒到网状的转变；求得(ψ、Δ)轨迹的切线方位角曲线；根据所述切线方位角曲线的拓扑特征判定薄膜材料纳米结构连续性的转变，从而实现对薄膜材料纳米结构的识别。本发明可用于薄膜材料生长过程中纳米结构的原位监测，对利用人工智能识别纳米结构有着重要的参考价值，具有非接触、非破坏、对环境要求不苛刻等优点。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112903598A
公开(公告)日：2021-06-04
申请号：CN202110084277.7
申请日：2021-01-21
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明属于光学电子器件技术领域，具体为一种椭偏测量系统中偏振元件方位角的差分光谱定标方法。本发明的原理是对由起偏器出射的两束偏振方向相互垂直的线偏光，经过已知介电函数谱的样品后，其反射椭偏光的椭圆方位角的进行差分光谱分析，准确地获得起偏器方位角的位置。其中通过可旋转检偏器以及光栅光谱仪，对550‑650 nm光谱范围内的200个以上的波长点，完成差分光谱数据的采集，分析确定偏振元件方位角的位置，完成定标过程。本发明通过Si和Au体材料的测试验证；克服了传统定标方法对反射材料光学常数的精确度、探测器光强灵敏度要求较高，稳定性较差等缺点，能快速准确地完成椭偏测量系统中偏振元件方位角的定标。
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公开(公告)号：CN110320745A
公开(公告)日：2019-10-11
申请号：CN201910557029.2
申请日：2019-06-26
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明属于能源技术领域，具体为具有理想发射谱的柔性被动冷却薄膜及其制备方法。本发明制备方法包括：获取紫外固化树脂的光学常数；根据光学常数设计光子晶体微结构；通过微纳加工技术在光阻上制备出微结构；通过紫外纳米压印卷对卷方法将微结构制备到柔性衬底上。本发明制备的被动冷却薄膜，在晴天时可以将户外物体的热量通过大气窗口辐射到宇宙空间中。由于本方法制备的辐射冷却薄膜表面具有微结构，可以大大提高辐射冷却的功率，使目标物体的降温幅度增加；同时，使用紫外纳米压印技术与工业卷对卷生产相结合，使本发明制备的冷却薄膜可以制备到柔性塑料衬底上，拓宽了应用的范围。
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公开(公告)号：CN101819151B
公开(公告)日：2011-12-07
申请号：CN201010153460.X
申请日：2010-04-22
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明属于光学电子器件技术领域，具体公开了一种主动式大气光谱快速获取系统。该系统将脉冲高压加在电离室中的金属针上，将气体样品电离而发光，光经透镜系统聚焦后，通过可调狭缝，被平面镜M1反射到柱形凹面镜M2后成为平行光，再入射到由多光栅组成的复合光栅G上；调节各子光栅的方位角，使各子衍射光谱区落在相同的衍射张角内，再反射至组合式柱面镜M3，在入射面内沿波长分布方向对光谱线进行聚焦，成像在探测器D的受光面上；最后由探测器将探测到的光信号转换为电信号，由数据采集卡送到计算机内进行数据处理，从而快速获得气体样品的发射光谱。
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公开(公告)号：CN1974883A
公开(公告)日：2007-06-06
申请号：CN200610118916.2
申请日：2006-11-30
Applicant: 复旦大学
CPC classification number: Y02P20/125
Abstract: 本发明属于纳米光电材料技术领域，具体为一种电子束蒸发制备硅纳米晶的方法。传统的硅纳米晶的制备方法包括电化学腐蚀法、离子注入法、溅射法、化学气相沉积法，以及热蒸发法等。本发明采用电子束蒸发生长SiOx/SiO2(1＜x＜2)超晶格多层膜结构，其中SiOx层和SiO2层将分别蒸发SiO粉末源材料和SiO2源材料而得到，然后在高温氮气环境中退火，从而获得SiO2基体中尺寸大小可控、且均匀分布的硅纳米晶。薄膜中硅纳米晶的尺寸大小、尺寸分布和硅纳米晶的密度可以独立控制，而且硅纳米晶在薄膜样品中的位置以及样品的超晶格周期也可以任意设计。本发明所涉及与成熟的Si基光电子集成工艺相兼容，为将来的器件研制打下基础。
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公开(公告)号：CN1204382C
公开(公告)日：2005-06-01
申请号：CN02137501.1
申请日：2002-10-17
Applicant: 复旦大学
Abstract: 本发明是一种多光栅光谱成像仪。在传统采用光栅和阵列探测器结合光谱成像仪结构中，受探测器的像素尺寸和数目的限制，难以兼顾光谱覆盖宽度和分辨率的矛盾，因此，仍需采用机械传动控制光栅的办法，限制了光谱检测速度。本发明采用由多个子光栅和多个线阵探测器构成的组合式光栅和探测器系统，无任何光学部件的机械位移，即可实现全光谱的快速检测和分析，具有很高的光谱分辨率和工作可靠性。
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