一种识别测试仪自动测试生成测试报告系统

    公开(公告)号:CN113866530A

    公开(公告)日:2021-12-31

    申请号:CN202110941861.X

    申请日:2021-08-17

    Abstract: 一种识别测试仪自动测试生成测试报告系统,包括自动测试控制模块、标准源硬件驱动模块、MMS通信模块和测试仪;所述标准源硬件驱动模块和MMS通信模块与自动测试控制模块连接,所述标准源硬件驱动模块或MMS通信模块传输数据信息至自动传输控制模块,所述自动传输控制模块接收标准源硬件驱动模块或MMS通信模块发送的数据信息;所述自动测试控制模块与测试仪连接,所述测试仪发送数据信息至自动测试控制模块,所述自动测试控制模块接收测试仪发送的数据信息。实现测试仪读取数据库中的测试数据,更新当前测试仪的测试数据,测试仪将测试结果发送至自动测试控制模块,并进行误差计算和判断生成测试报告。

    一种测控设备的检测系统及检测方法

    公开(公告)号:CN113641542A

    公开(公告)日:2021-11-12

    申请号:CN202110863846.8

    申请日:2021-07-29

    Abstract: 本发明公开了一种测控设备的检测系统及检测方法,其中检测系统包括中央处理器、接口模块、临时存储模块、数据采集模块、数据分析模块、检测模块、存储单元、无线通信模块、显示模块、芯片检测模块、企业数据库、芯片数据库和大数据查询平台;中央处理器分别与数据采集模块、数据分析模块、检测模块、存储单元、无线通信模块、显示模块、芯片检测模块连接。该测控设备自主可控性检测系统及检测方法,对测控设备进行自主可控性检测,并通过与大数据平台进行结果验证,实现了高准确的检测结果的输出,其次,通过检测模块、芯片检测模块和数据分析模块,对测控设备进行智能化整合、分类和评估,实现了对测控设备全面的自主可控性检测。

    基于插值区间动态变化的PMU数据恢复方法及系统

    公开(公告)号:CN113608927A

    公开(公告)日:2021-11-05

    申请号:CN202110863531.3

    申请日:2021-07-29

    Abstract: 本发明提供一种基于插值区间动态变化的PMU数据恢复方法及系统,其中方法包括:建立PMU数据丢失的基本场景;获取初始PMU量测数据并进行分析,确定数据丢失场景类型;若数据丢失场景类型为连续多点数据丢失场景,先将初始PMU测量数据分割为若干个区间,对每个区间采用低次插值,进行整合后与初始PMU测量数据进行对比分析;若数据丢失场景类型为单点数据丢失场景,运用插值函数对丢失数据进行计算恢复,然后与初始PMU测量数据进行对比分析,进而进行复查验证。本发明对不同类型的丢失数据均可有效恢复数据,不受电网拓扑结构的约束,仅通过输入PMU实时量测数据即可实现。为保证PMU数据质量提供了一种有效、可行的方法。

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