Patent search ap:("西安交通大学") AND inv:"穆为磊" Page 2

11.

外观设计
工业射线检测底片数字化仪器失效

公开(公告)号：CN301379506S

公开(公告)日：2010-11-10

申请号：CN201030012540.4

申请日：2010-01-22

Applicant: 西安交通大学

Designer： 李成 , 高建民 , 冯钊 , 穆为磊

Abstract: 1.本外观设计产品名称：工业射线检测底片数字化仪器。2.本外观设计产品用途：本仪器是一种小型台式设备，可放置在普通办公桌上，通过本仪器可将黑度值在1.0-4.5之间的工业射线检测底片处理成计算机上的高质量数字图像。3.本外观设计产品设计要点：设计要点在主视图。4.指定立体图为最能表明设计要点的照片。

Patent Agency Ranking