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公开(公告)号：CN104569002A
公开(公告)日：2015-04-29
申请号：CN201310504035.4
申请日：2013-10-23
申请人： 北京纳米维景科技有限公司
IPC分类号： G01N23/04 , G01N23/083
摘要： 本发明公开了一种基于光子计数的X射线相衬成像系统，同时还公开了该系统实现X射线相衬成像的方法及其关键设备。在该系统中，X射线源向扫描平台上的样品发射X射线，X射线在穿透样品时，产生携带空间位置中材料特征信息的光子，光子计数探测器对成像平面的光子进行计数，获得入射光子的投影数据和能量数据，并传输至三维重建系统；三维重建系统根据投影数据和能量数据重建样品内部的三维结构和物质成分类别，对样品的组成部分进行数字染色，从而对样品的物质成分进行识别。本发明通过光子计数技术、相衬成像技术和三维重建技术对弱吸收物质进行无损伤检测，可以获得具有能量鉴别能力、微米级或纳米级空间分辨能力的数字蜡块。
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公开(公告)号：CN109754446B
公开(公告)日：2023-01-24
申请号：CN201811508587.1
申请日：2018-12-11
申请人： 北京纳米维景科技有限公司
IPC分类号： G06T11/00
摘要： 本发明公开了一种探测器模块之间的拼接缝宽度估计方法及系统。其中，该方法包括如下步骤：将细金属丝竖直固定在靠近旋转台的边界，转动旋转台对被测物体进行投影图采集；将采集的投影图通过数据排列的方式得到正弦图；将正弦图进行分割、拟合，得到每个探测器模块对应的多项式曲线；将一个探测器模块对应的多项式曲线的横坐标平移，当平移后的多项式曲线末尾的横坐标对应的曲线函数值与下一个相邻探测器模块未平移的开端的横坐标对应的曲线函数值相等时，根据平移位置计算拼接缝占有的像素个数。该方法通过正弦图可以快速准确的计算出拼接式探测器的拼接缝占有的像素个数，简单易行。
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公开(公告)号：CN115144417A
公开(公告)日：2022-10-04
申请号：CN202210648188.5
申请日：2022-06-08
申请人： 北京纳米维景科技有限公司
IPC分类号： G01N23/046
摘要： 本发明公开了一种柔性CT探测器及其静态CT系统。该柔性CT探测器包括柔性电路板，用于贴装在CT机架的内侧，并具有信号读取部；柔性转换部，贴装在柔性电路板的内侧，以用于吸收X射线并转换为设定信号，信号读取部用于接收设定信号并输出连续不间断的投影图像。该柔性CT探测器通过采用大面积柔性电路作为探测器的基板，实现整环探测器的像素紧密排列，大幅减少传统刚性探测器组装带来的拼接缝和投影信息丢失问题。在理想情况下，整环探测器仅在首尾相接处存在一个拼接缝，大幅降低算法修正的难度。
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公开(公告)号：CN105361900B
公开(公告)日：2019-01-22
申请号：CN201410425061.2
申请日：2014-08-26
申请人： 北京纳米维景科技有限公司
IPC分类号： A61B6/03
摘要： 本发明公开了一种静态实时CT成像系统，包括环形光子计数探测器、环形扫描X射线源和扫描时序控制器。其中，在扫描时序控制器的控制下，环形扫描X射线源发射窄束X射线，透过被测物体后投照到对应的环形光子计数探测器上。环形光子计数探测器将相应的曝光信息通过扫描主机和主控制单元送入CT主机及人机交互单元，在CT主机及人机交互单元中完成图像重建。本发明通过电子控制依次切换X射线投照位置，使扫描速度提高数十倍，可以获得动态三维立体图像；采用光子计数探测器，可以获得吸收数据和能量数据，并由此实现实时数据重建；采用窄束X射线，可以在传统CT成像系统的十分之一剂量下获得优质的图像，避免患者过量辐射。
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公开(公告)号：CN108811488A
公开(公告)日：2018-11-13
申请号：CN201880000723.8
申请日：2018-02-27
申请人： 北京纳米维景科技有限公司
IPC分类号： A61B6/03
CPC分类号： A61B6/03
摘要： 一种适应大视野要求的静态实时CT成像系统及其成像方法。该静态实时CT成像系统包括多焦点环形X射线源(21)和环形光子探测器(22)；其中，多焦点环形X射线源(21)由排列成环形的多个扫描X射线源组成，环形光子计数探测器(22)由排列成环形的多个光子计数探测器模组组成；各扫描X射线源轮流发射宽束X射线，透过被测物体后投照到对应的光子计数探测器模组上，扫描X射线源与对应的光子计数探测器模组之间采用非反向几何成像方式；各光子计数探测器模组以交叠方式进行工作，将相应的曝光信息送入数据采集处理单元，在数据采集处理单元中完成图像的实时重建和可视化再现。
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公开(公告)号：CN104970815B
公开(公告)日：2018-03-16
申请号：CN201410137171.9
申请日：2014-04-04
申请人： 北京纳米维景科技有限公司
IPC分类号： A61B6/00
摘要： 本发明公开了一种基于光栅相位衬度和光子计数的X射线成像系统及方法。其中，X射线经光源光栅整形后，变成相干X射线，穿过样品以后的含有相位变化的相干X射线经相位光栅，形成分束的X射线，再经过分析光栅后将X射线的相位变化转化成光强的变化，然后再由光子计数探测器记录下强度不同的X射线相衬信息，通过三维重建系统得到基于相位衬度的断层影像，最终获得软组织样品的组成成份和内部精细结构信息。本发明可以用于医院病理科、放射科和科研部门对软组织样品标本的检验，有利于发现组织样品中的细小病灶等早期病变信息，大大提高检出率。
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公开(公告)号：CN106033598A
公开(公告)日：2016-10-19
申请号：CN201510119411.7
申请日：2015-03-18
申请人： 北京纳米维景科技有限公司
摘要： 本发明公开了一种用于消除散射辐射影响的数字滤线栅成像方法，包括如下步骤：S1，利用感兴趣区域的数据，计算出自适应的对数曲线，对图像亮度进行校正；S2，对进行亮度校正的图像做反白处理；S3，对反白处理后的图像进行虚拟滤线栅处理，得到输出图像。本发明可以改善对于厚体位图像质量不佳的问题，同时有效解决在实际使用过程中效果不稳定的问题，大大提高了稳定性以及图像质量，在降低病人辐射剂量水平的情况下，保证诊断质量。
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公开(公告)号：CN118279469A
公开(公告)日：2024-07-02
申请号：CN202211739643.9
申请日：2022-12-30
申请人： 北京纳米维景科技有限公司
IPC分类号： G06T17/00 , A61B6/03 , A61B6/00 , G06T7/73 , G06T5/20 , G06F17/18 , G16H30/00 , A61B6/40 , A61B6/42
摘要： 本发明公开了一种非对称锥角伪影的加权解析滤波反投影重建方法及系统。该方法包括如下步骤：基于射线源环与探测器环的相对位置，将重建区域划分为多个权重区；其中，射线源环与探测器环相互错位，以形成非对称锥角伪影；获取各权重区内的体素点受X射线照射的投影数据量；根据各权重区内的体素点受X射线照射的投影数据量，对各权重区赋予不同的初始权重；采用转移权重对各权重区的初始权重进行平滑过渡，以形成各权重区赋予的最终权重；根据各权重区不同的最终权重，对大锥束张角几何下采集的投影数据p(α,β,γ)进行最终的加权解析重建，以获取反投影图像。该方法可以有效估算并补偿由于射线源与探测器错位所造成的不对称锥角伪影。
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公开(公告)号：CN117958860A
公开(公告)日：2024-05-03
申请号：CN202311866290.3
申请日：2023-12-30
申请人： 北京纳米维景科技有限公司
摘要： 本发明公开了一种探测器的非线性校正方法、校正系统及静态CT设备。该方法包括如下步骤：在静态CT设备的探测区域设置模体，并使模体的旋转轴线与静态CT设备的中心轴线相平行；控制双环结构与模体相对转动，采集相对转动过程中模体的图像数据；计算各相对角度下的像素差值；绘制各投影位置对应的拟合曲线；保存每个拟合曲线的曲线系数，作为对应投影位置下投影图像的非线性校正系数；基于各非线性校正系数，对各投影位置下的投影图像进行非线性校正。该方法通过每个相对角度下的投影值与标准模板投影值的差异，进行多项式拟合得到非线性校正表，并且，由于每个投影位置均具有足够多的统计数据，从而使得非线性校正能够达到理想效果。
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公开(公告)号：CN117679056A
公开(公告)日：2024-03-12
申请号：CN202311773367.2
申请日：2023-12-21
申请人： 北京纳米维景科技有限公司
摘要： 本发明公开了一种用于静态CT的散射校正方法及散射校正系统。该散射校正方法包括：预先通过设置在主探测器至少一侧的散射探测器采集散射数据，以获取散射校正表，并经过模型训练得到预训练模型；其中，散射校正表包括每个床位和角度对应的散射分布；获取用户的原始图像；对原始图像进行预校正，以获取第一图像；对第一图像按照偏心切图，以获取第二图像；判读用户的CT扫描方式是否为螺旋扫描；若判断结果为是，则利用散射校正表对第二图像进行散射校正；若判断结果为否，则基于预训练模型获取第二图像对应的散射分布，并对第二图像进行散射校正。该散射校正方法利用插值方式得到散射校正表，能够进行精准的散射校正，提高了散射校正的效果。
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