用于测量光盘厚度的系统、仪器、设备以及机器可读媒介

    公开(公告)号:CN101131316A

    公开(公告)日:2008-02-27

    申请号:CN200710154704.4

    申请日:2003-06-24

    CPC classification number: G01B11/0625 G01B11/0675 G11B7/00375 G11B7/268

    Abstract: 本发明公开了一种利用光盘层的干涉效应来测量包括隔离层和覆盖层的光盘的一个或多个层的厚度的系统,所述系统包括:分光计,用于将从光盘的表面反射的光分离为其多个组成频率;光强测量单元,用于分别测量所述组成频率的强度作为第一光谱数据;以及处理器,用于至少进行以下步骤:将所述的第一光谱数据转换成作为折射率和波长的函数而显示变化的第二光谱值,利用快速傅立叶变换来变换所述第二光谱,以及基于所述的变换后的光谱来分别检测一个或多个隔离层和覆盖层的厚度。本发明所公开的方法在高精度测量光盘厚度方面具有优点。

    记录介质、配置其控制信息的方法、使用所述介质的记录/再现方法、及其装置

    公开(公告)号:CN1826644A

    公开(公告)日:2006-08-30

    申请号:CN200480019290.9

    申请日:2004-07-02

    Inventor: 金进镛 徐相运

    Abstract: 本发明提供一种在包括至少一个记录层的可记录光盘中记录盘控制信息的方法,更加具体地,涉及一种记录指示盘控制信息在盘控制信息本身内的特定位置的信息的方法,和一种搜索请求的盘控制信息的方法,从而允许一致的应用标准化的盘控制信息以有效的应付光盘记录/重放和有效搜索多个盘信息。在包括至少一个或多个记录层的光盘的管理区中记录控制信息的步骤中,本发明包括给管理区提供至少一个或多个盘控制信息,其中所述至少一个或多个盘控制信息在每个可应用的记录层和每个可应用的写入速度下被分开的提供,并且其中指示每个可应用写入速度下的第1盘控制信息的位置的信息与指示盘控制信息中的将要记录的可应用记录层的盘信息位置的信息分开。

    记录媒介、记录其标识信息的方法和其记录/再现方法

    公开(公告)号:CN1820311A

    公开(公告)日:2006-08-16

    申请号:CN200480019633.1

    申请日:2004-06-29

    Inventor: 金进镛 金永国

    CPC classification number: G11B7/00736 G11B7/00456 G11B2007/0013

    Abstract: 本发明提供了一种记录媒体,更特别地提供了一种在可记录光盘的管理区内记录盘标识信息的方法以及使用其的光盘记录/再现方法。在盘管理区内记录光盘标识信息的过程中,本发明分别包括记录标识光盘记录媒体类型的媒体类型标识信息以及标识光盘制造商的盘制造商标识信息。因此,本发明提供了将盘标识信息记录于高密度光盘中的管理区内的各种具体方法,从而能有效地应对使用所记录的标识信息对光盘的记录/再现。

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