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公开(公告)号：CN101256808B
公开(公告)日：2011-05-04
申请号：CN200810083615.X
申请日：2005-11-02
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G06F17/30817 , G06F17/30849 , G06F17/30858 , G11B27/002 , G11B2220/41 , Y10S707/99945 , Y10S707/99948
Abstract: 提供一种形成包括关于多个信息存储介质的信息的盘库的方法。用于再现存储在存储介质中的视听数据的一种再现设备，包括：存储单元，存储用于在存储介质中存储的视听数据中搜索期望的视听数据的元数据，和搜索单元，使用存储在存储单元中的元数据搜索期望的视听数据，其中，所述元数据包括指示用于创建存储在存储单元中的盘库的多张盘组成的卷的卷标识符。所述元数据还可包括多张盘公有的盘信息和标题信息，并且搜索单元可使用盘信息、标题信息和卷信息创建盘库，并使用创建的盘库来搜索期望的视听数据。
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公开(公告)号：CN101266821B
公开(公告)日：2011-04-13
申请号：CN200810081210.2
申请日：2004-04-14
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B20/18 , G11B7/0045
Abstract: 提供一种从光学记录介质再现数据的方法，所述光学记录介质包括导入区、数据区、导出区、临时缺陷管理区以及缺陷管理区，所述方法包括：从设置在导入区或导出区中的临时缺陷管理区再现临时盘定义结构，所述临时盘定义结构包括在缺陷管理开/关模式被选择之后在数据区中分配的备用区的大小的信息，其中，所述缺陷管理开/关模式是允许再现设备识别在数据被记录到所述记录介质中的同时缺陷管理是否将被执行的信息。
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公开(公告)号：CN101217047B
公开(公告)日：2011-02-16
申请号：CN200810001370.1
申请日：2005-05-08
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G11B19/04 , G11B19/02 , G11B19/12 , G11B20/00086 , G11B20/00702 , G11B20/1217 , G11B20/1883 , G11B2020/1278 , G11B2020/1826 , G11B2220/20
Abstract: 一种信息记录介质、一种记录/再现方法和设备、以及一种主机设备，被提供以确保具有新标准和现有标准驱动器系统的功能的信息记录介质之间的兼容性。该信息记录介质包括：数据区域；缺陷管理区域，用于管理在数据区域中发生的缺陷；和访问控制区域，其中记录关于由该介质被载入其中的记录/再现设备可识别的功能的访问控制数据和关于由该记录/再现设备不可识别的功能的访问控制数据，其中，记录在缺陷管理区域中的写保护标志和记录在访问控制区域中的访问控制数据提供用于核查该介质是否可重新初始化的重新初始化核查信息。
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公开(公告)号：CN101075465B
公开(公告)日：2010-12-29
申请号：CN200710126964.0
申请日：2005-05-25
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B20/1816 , G11B20/1879 , G11B2020/1285 , G11B2020/1823 , G11B2020/1893 , G11B2220/20 , G11B2220/2537
Abstract: 一种信息记录介质、一种将数据记录到该介质和/或从该介质再现数据的方法、以及一种使用该介质的记录/再现设备，该介质具有数据区域，该数据区域包括用于记录用户数据的用户数据区域和用于记录替换在用户数据区域中发生的缺陷块的替换块的备用区域，其中，缺陷列表条目包括缺陷块和替换块的状态信息，用户数据区域中的缺陷块的状态信息被改变，并且备用区域中的替换块的状态信息被改变，以响应于被新分配以重新初始化该介质的备用区域。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101197164B
公开(公告)日：2010-11-03
申请号：CN200710300119.0
申请日：2005-02-17
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G11B20/1217 , G11B20/1813 , G11B2020/1221 , G11B2020/1222 , G11B2020/1232 , G11B2020/1267 , G11B2020/1272 , G11B2020/1288 , G11B2220/2537
Abstract: 一种记录和/或再现方法、记录和/或再现设备，以及存储用于执行该方法的程序的计算机可读记录介质。在其中无效数据被部分地填充的记录单元块和指示该无效数据被包括在记录单元块中的填充信息一起被写在信息存储介质上。在确定该记录单元块是否包括填充数据时，该填充信息是有用的。因此，驱动系统的非必须再试验过程被减少，从而该驱动系统的性能被改进并且纠错能力被增强。
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公开(公告)号：CN101197148B
公开(公告)日：2010-11-03
申请号：CN200710192706.2
申请日：2004-06-11
Applicant: 三星电子株式会社
CPC classification number: G11B7/00736 , G11B7/0953 , G11B7/1267 , G11B7/24038 , G11B2007/0013 , G11B2020/1275 , G11B2020/1277 , G11B2220/235 , G11B2220/2537
Abstract: 一种能够控制最佳记录功率的信息存储介质，一个层中的最佳功率控制(OPC)区不影响不同层中的OPC区。所述信息存储介质包括至少一个信息存储层，所述信息存储层包括用于获得光记录条件的最佳功率控制区。相邻的信息存储层中的OPC区被布置在所述信息存储介质的不同半径之内。因此，即使当所述信息存储介质被偏心或具有制造误差时，也可以防止由一个信息存储层中的OPC区对相邻的信息存储层中的OPC区的影响所导致的所述信息存储介质的记录性质的降低。
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公开(公告)号：CN101202089B
公开(公告)日：2010-07-21
申请号：CN200710167066.X
申请日：2004-04-29
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B20/18 , G11B7/007 , G11B7/0037
Abstract: 一种将临时缺陷列表记录在一次写入记录介质上的方法，一种再现该临时缺陷列表的方法，一种用于记录和/或再现临时缺陷列表的设备，以及一次写入记录介质。将用于缺陷管理的临时缺陷列表记录在一次写入记录介质上的方法包括：将当数据被记录在一次写入记录介质上时被创建的临时缺陷列表记录在一次写入记录介质的至少一簇中，并且检验在该至少一簇中是否产生缺陷。随后，该方法包括：将原始记录在缺陷簇中的数据重新记录在另一簇中，并且将指示记录临时缺陷列表的该至少一簇的位置的指针信息记录在一次写入记录介质上。
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公开(公告)号：CN101202064B
公开(公告)日：2010-06-23
申请号：CN200810002985.6
申请日：2002-09-28
Applicant: 三星电子株式会社
IPC: G11B7/007
CPC classification number: G11B7/0079 , G11B7/0053 , G11B7/00736 , G11B7/24082 , G11B20/1217 , G11B27/24 , G11B2020/1239 , G11B2020/1298 , G11B2220/215 , G11B2220/216 , G11B2220/2537 , G11B2220/2562 , G11B2220/2566 , G11B2220/257 , G11B2220/2575
Abstract: 一种光盘记录和/或再现系统，与下述光盘兼容，所述光盘包括导入区、用户数据区和导出区，所述导入区具有只读区、可读/写区和在只读区与可读/写区之间形成的连接区，所述系统包括：光拾取单元，发射激光束以把数据记录在光盘和/或从光盘再现数据；处理器，检测来自所述光盘的光信号并处理所检测的信号；其中只读区具有第一波纹，并且可读/写区具有与第一波纹不同的第二波纹，并且其中，可读/写区包括缺陷管理区DMA。
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公开(公告)号：CN101197165B
公开(公告)日：2010-06-09
申请号：CN200710300424.X
申请日：2005-04-15
Applicant: 三星电子株式会社
Abstract: 一种信息记录介质包括导入区、用户数据区、导出区，并且导入区或者导出区中的至少一个包括将规定在信息记录介质的每个区是否是可记录的和/或可再现的兼容性信息记录在其中的兼容性信息区。兼容性信息可以包括关于用户数据区是否是可记录的和/或可再现的状态信息、关于导入区/导出区是否是可记录的和/或可再现的状态信息、关于兼容性信息区是否是可记录的和/或可再现的状态信息、或者关于缺陷管理区(DMA)是否是可记录的和/或可再现的状态信息中的至少一个。这里，DMA存储已经在用户数据区中出现的缺陷的信息。
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