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公开(公告)号：CN111427781B
公开(公告)日：2023-07-21
申请号：CN202010195267.6
申请日：2020-03-19
Applicant: 北京广利核系统工程有限公司
IPC: G06F11/36
Abstract: 本发明涉及一种兼容仿真和实体的逻辑功能测试方法及平台，属于自动化测试技术领域，解决了现有测试方法受制于集成装配、系统集成且测试效率低的问题，该测试方法兼容仿真和实体DCS系统；包括以下步骤：确定测试用例，并编译工程组态；将编译的所述工程组态下载至仿真DCS系统中；所述自动测试平台利用所述测试用例对下载有所述工程组态的仿真DCS系统进行自动测试，获得所述仿真DCS系统的逻辑功能测试结果；并且，根据所述测试结果对编译的所述工程组态的逻辑功能缺陷进行修复；将修复的所述工程组态下载至实体DCS系统，自动测试平台利用所述测试用例对下载有修复后的所述工程组态的实体DCS系统进行测试，提高了测试效率及实体环境测试效率。
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公开(公告)号：CN116068384A
公开(公告)日：2023-05-05
申请号：CN202310144688.X
申请日：2023-02-07
Applicant: 北京广利核系统工程有限公司
IPC: G01R31/317 , G01R31/3181
Abstract: 本申请提供了一种测试电路板的方法及装置，涉及仪器控制技术领域。测试设备首先响应于对电路板进行测试的请求，控制上位机中的测试软件进入电路板测试配置界面；然后测试设备响应于运维人员基于电路板测试配置界面设置的测试参数，通过目标电路板对应的测试系统上预置的测试接口，向目标电路板输入测试信号；再根据测试参数及输入的测试信号，利用下位机对目标电路板进行测试；最后展示基于测试信号得到的测试结果。这样，利用上位机向目标电路板对应的测试系统上预置的测试接口输入测试信号，并利用下位机完成对电路板的测试，不需要将电路板进行拆卸以进行测试，进而避免了电路板多次插拔可能会对电路板和机柜接口造成不可逆的损伤的问题。
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公开(公告)号：CN115712553A
公开(公告)日：2023-02-24
申请号：CN202110969418.3
申请日：2021-08-23
Applicant: 北京广利核系统工程有限公司
Abstract: 本申请公开了一种核电DCS系统的UI界面测试方法及装置。其中，核电DCS系统的UI界面测试方法包括：获取UI界面测试需求；根据所述测试需求从预先建立的UI脚本类库中选择对应的元素，并将所述元素组合成测试用例库，其中，所述UI脚本类库包括对象库、数据库、操作库以及逻辑库；执行所述测试用例库，以实现UI界面的测试。本申请实施例的核电DCS系统的UI界面测试方法及装置，能够实现对复杂控件组成的软件UI界面的确认测试的自动化，实现了用例脚本的开发和维护工作的高度灵活性，代码复用性高。
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公开(公告)号：CN114185781A
公开(公告)日：2022-03-15
申请号：CN202111489064.9
申请日：2021-12-07
Applicant: 北京广利核系统工程有限公司
Abstract: 本申请公开了一种基于控制逻辑图的逻辑测试用例自动生成方法和装置，方法包括：获取由基础算法块组成的控制逻辑图和基础算法块对应的说明文件；利用解析函数对控制逻辑图进行解析，生成仿真任务文件；将基础算法块对应的说明文件编译成与基础算法块对应的算法函数以及用于记载算法函数存储地址的算法块动态链接库文件；根据仿真任务文件记载的调用顺序以及算法块动态链接库文件记载的存储地址，调用算法函数，以对仿真任务文件对应的控制逻辑图进行仿真运算；根据测试输入和控制逻辑图仿真运算模型，生成测试输出结果，最终生成测试用例。该方法和装置能够根据控制逻辑图自动化生成测试用例，有效提高测试用例的构建速度，降低人因造成的错误。
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公开(公告)号：CN107807882B
公开(公告)日：2021-08-31
申请号：CN201711015299.8
申请日：2017-10-26
Applicant: 北京广利核系统工程有限公司 , 中国广核集团有限公司
IPC: G06F11/36
Abstract: 本发明属于核电行业主控设备性能测试的技术领域，为了解决现有技术中针对MPU运行的时序算法块的测试方案中，不能在特定周期输入特定数值、不能获取特定周期输出值的技术问题，本发明提供一种基于MPU运行的时序算法块测试方法和装置；所述方法包括：S1、当计数器的计数值等于指定周期值时，输入指定的输入参数值至所述基于MPU运行的时序算法块；S2、当计数器的计数值等于指定周期值时，输出所述基于MPU运行的时序算法块的实际运算结果。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN107797928B
公开(公告)日：2021-08-31
申请号：CN201711012315.8
申请日：2017-10-26
Applicant: 北京广利核系统工程有限公司 , 中国广核集团有限公司
IPC: G06F11/36
Abstract: 本发明属于仪控系统的技术领域，为了解决现有技术中存在的算法块功能遍历测试中存在的测试效率低、测试结果不准确的技术问题，本发明提供一种能够同步开展多个算法块的仪控系统平台逻辑算法块测试装置和方法；所述测试装置包括：信号产生模块，用于产生用于测试算法块的测试信号；信号发送模块，同时向待测试仪控系统平台中具有相同属性的算法块发送所述测试信号，使得所述具有相同属性的算法块能够并行处理逻辑运算；信号接收模块，待所述测试仪控系统平台中所述具有相同属性的算法块完成运算处理之后，所述信号接收模块接收所述具有相同属性的算法块的运算结果；测试结果判定模块，确定所述测试结果是否能满足预期要求。
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公开(公告)号：CN107797929B
公开(公告)日：2021-01-22
申请号：CN201711014421.X
申请日：2017-10-26
Applicant: 北京广利核系统工程有限公司 , 中国广核集团有限公司
IPC: G06F11/36
Abstract: 本发明属于安全级仪控系统仿真测试的技术领域，为了解决现有技术中仿真测试功能覆盖率不能准确得到的技术问题，本发明提供一种可有效提高可编程逻辑仿真测试功能覆盖率的统计方法和装置，所述统计方法包括：S1、对HPD需求规格书中的需求项进行形式化描述，并按照预定的编码规则对各需求项建立唯一的编号；S2、建立待测试系统的追踪矩阵；S3、编写测试规程中的每条测试通过准则相应的SVA断言代码；S4、按照所述测试用例对应的测试激励，执行完成后通过SVA断言自动生成测试结果。能够通过在仿真测试过程中增加对编码环节进行有效的追踪和监控，从而直观的体现功能覆盖率，使可编程逻辑的仿真测试过程更严谨、更符合高可靠性的要求。
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公开(公告)号：CN107479536B
公开(公告)日：2020-03-31
申请号：CN201710754250.8
申请日：2017-08-29
Applicant: 北京广利核系统工程有限公司 , 中国广核集团有限公司
IPC: G05B23/02
Abstract: 本发明属于核电控制系统性能测试的技术领域，为了解决现有技术中安全壳泄露率计算存在的需要专用的测试工装、搭建数据采集环境难度大的技术问题，本发明提供一种结合模拟仿真技术且能快速完成计算的安全壳泄漏率计算验证方法和装置；所述方法包括：S1、编写仿真测试工具和安全壳泄露率计算验证工具；S2、使用所述仿真测试工具，读取测试验证源数据；S3、控制所述安全壳泄漏率在线监测系统，按照所述源数据运行计算安全壳泄漏率A；S4、使用所述安全壳泄露率计算验证工具，按照所述源数据运行计算安全壳泄漏率B；S5、对比计算结果A和计算结果B，并且基于所述对比结果，验证所述安全壳泄露率在线监测系统计算功能的正确性。
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公开(公告)号：CN109374038A
公开(公告)日：2019-02-22
申请号：CN201811210173.0
申请日：2018-10-17
Applicant: 北京广利核系统工程有限公司 , 中国广核集团有限公司
IPC: G01D21/00
Abstract: 本发明涉及一种基于应用样机的核安全级仪控产品的变更测试方法，属于核安全级仪控产品测试技术领域，解决了现有技术中核安全级仪控产品变更测试存在的测试有效性差、测试不充分和没有针对产品的工程适应性开展测试的问题。一种基于应用样机的核安全级仪控产品的变更测试方法，包括以下步骤：对所述核安全级仪控产品进行变更影响分析，确定变更测试的测试范围；根据确定的所述测试范围，对所述核安全级仪控产品进行常规变更测试；建立所述核安全级仪控产品实际工程应用系统的应用样机；根据应用样机变更测试的测试范围对所述应用样机进行变更测试。实现了有效提高变更测试的充分性和有效性，避免了变更后产品在工程应用中出现不适用的情况。
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公开(公告)号：CN109116065A
公开(公告)日：2019-01-01
申请号：CN201811107101.3
申请日：2018-09-21
Applicant: 北京广利核系统工程有限公司 , 中国广核集团有限公司
IPC: G01R1/30
Abstract: 本发明涉及一种高频抖动过滤的测试方法和装置，该方法包括生成的脉冲信号经过光电隔离电路转换为干节点信号，并输出显示；被测系统的输入通道采集所述干节点信号后进行数据处理，并通过输出通道输出数据处理后的信号；根据显示的所述干节点信号波形和输出的数据处理后信号波形的对比，判断高于指定频率的信号波形是否滤除，若滤除则确定被测系统实现高频抖动过滤的功能。本发明还公开了与该方法属于同一构思的装置。通过以上测试方法和装置，可以使用常规仪表及简单的光电隔离电路实现对系统的去抖功能测试，满足高频信号发送和测试结果可信度要求。
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