一种混响室穿壁电机及屏蔽方法

    公开(公告)号:CN107864602A

    公开(公告)日:2018-03-30

    申请号:CN201710943264.4

    申请日:2017-10-11

    IPC分类号: H05K9/00 H02K11/02

    CPC分类号: H05K9/0001 H02K11/02

    摘要: 本申请公开了一种混响室穿壁电机,包括电机组件部分和屏蔽层部分,所述电机组件部分包括电机、减速器、电机座、联轴器和驱动轴;所述屏蔽层部分包括第一屏蔽层、第二屏蔽层和第三屏蔽层,所述第一屏蔽层为外腔体与电机座连接缝处的密封铝箔,所述第二屏蔽层为导电橡胶屏蔽条,所述第三屏蔽层为金属屏蔽仓,密闭包围混响室外腔体外侧的所有电机组件部分。本申请还公开了一种混响室穿壁电机屏蔽方法,采用加装三层屏蔽层的方法提高电磁屏蔽效果。本发明解决了现有混响室穿壁电机过孔电磁屏蔽效能低下的问题,减少了电机组件对混响室腔体和外部环境的电磁干扰,横、竖电机组件采用模块化设计,有效提高了电机组件装配工作效率。

    一种电磁波混响室
    22.
    发明公开

    公开(公告)号:CN107860988A

    公开(公告)日:2018-03-30

    申请号:CN201710934260.X

    申请日:2017-10-10

    IPC分类号: G01R31/00

    CPC分类号: G01R31/001

    摘要: 本发明公开了本发明提供一种电磁波混响室,解决现有电磁波试验室无法有效满足高场强和系统级试验需求的问题。一种电磁波混响室,包含水平搅拌器和垂直搅拌器;水平搅拌器包含水平旋转轴和至少一组折叶片;每组折叶片呈V型,向所述水平旋转轴垂直方向张角;所述每组折叶片的轴与所述水平旋转轴相垂直;所述水平旋转轴穿过所述每组折叶片的中心;垂直搅拌器包含垂直旋转轴和至少一组齿叶片;每组齿叶片张角为90度,边缘呈齿状;向水平方向张开;所述每组齿叶片的轴与垂直旋转轴相垂直;所述每组齿叶片的轴的一端与所述垂直旋转轴固定安装。本发明实现的电磁波混响室有效解决大量设备级、系统级的电磁兼容性考核问题,提升了技术水平和试验能力。

    一种大动态电场强度瞬变等效辐照模拟装置及方法

    公开(公告)号:CN118130931A

    公开(公告)日:2024-06-04

    申请号:CN202311828628.6

    申请日:2023-12-27

    IPC分类号: G01R31/00

    摘要: 本说明书公开了一种大动态电场强度瞬变等效辐照模拟装置及方法,涉及飞行电子装备的电磁适应性试验验证领域,旨在解决现有飞行的电子设备难以验证大动态场强瞬变的问题。本发明装置包括:第一捷变频信号源、第一功率放大器、第一发射天线依次通过电缆连接,组成小场强辐射系统;第二捷变频信号源、第二功率放大器、第二发射天线依次通过电缆连接,组成大场强辐照系统;控制计算机通过程控电缆分别连接第一捷变频信号源、第二捷变频信号源、第一功率放大器、第二功率放大器、监测显示设备,用于对各设备程序控制;监测显示设备与监测设备连接;监测设备,用于获取发射信号电场强度。本发明解决了电子装备大动态场强瞬变难以试验验证的技术难题。

    一种电磁环境信号动态模拟装置及方法

    公开(公告)号:CN112763809B

    公开(公告)日:2023-07-25

    申请号:CN202011516570.8

    申请日:2020-12-21

    IPC分类号: G01R29/08

    摘要: 本发明公开了一种电磁环境信号动态模拟装置及方法,涉及电磁模拟技术领域,以解决现有电磁环境考核验证试验,只施加不同频率不同幅度的电磁信号及其组合,施加的电磁信号是静态不变的,存在电磁环境考核不准确的问题。模拟装置的模拟信号发生装置,用于模拟生成电磁信号;发射天线,安装在暗室内,与对应的模拟信号发生装置连接,用于将接收到的电磁信号转换为无线信号,辐射到暗室的空间内;信号监测装置,安装在暗室内,与发射天线相对设置,用于对暗室内不同频率电磁环境信号下的电场强度进行监测。上述模拟装置及方法通过不同时间输出不同频率不同幅度等级的电磁信号,模拟装置可根据电磁环境模拟需要可以不断增加,具有很高的实用性。

    一种基于微波暗室的高幅度场强传感器校准方法

    公开(公告)号:CN108152772B

    公开(公告)日:2020-09-18

    申请号:CN201711437115.7

    申请日:2017-12-26

    IPC分类号: G01R35/00

    摘要: 本发明公开了一种基于微波暗室的高幅度场强传感器校准方法。与现有的标准场法场强标准装置相比,本发明使用了1000W放大器,并提出了采用该放大器和耐受功率超过1000W的微波器件实现1000V/m或更高场强的产生方法,采用空间衰减的方法避开了微波器件无法在大功率条件下溯源的问题,解决了标准场法和标准天线法目前不能对200V/m以上幅度场强进行溯源的问题,从而可解决目前能够购买到的场强传感器场强幅度测量范围通常超过200V/m,而现有的场强标准装置只能满足200V/m以下场强传感器校准的问题。实现了1GHz以上频段、高于200V/m场强的电磁场传感器校准需求;从而实现了现有场强标准装置不能完成的高幅度场强传感器校准工作。

    一种电磁脉冲信号屏蔽效能的测量系统及方法

    公开(公告)号:CN111624425A

    公开(公告)日:2020-09-04

    申请号:CN202010474687.8

    申请日:2020-05-29

    IPC分类号: G01R31/00 G01R29/08

    摘要: 本发明公开一种电磁脉冲信号屏蔽效能的测量系统及方法,该系统由电磁脉冲信号发生器、发射天线、接收天线及电磁脉冲接收设备组成,接收天线至少设有两根,电磁脉冲接收设备与接收天线对应设置,发射天线与电磁脉冲信号发生器连接,接收天线与电磁脉冲接收设备连接。本发明在测量过程中利用两根接收天线,分别获得在自由空间中及金属壳体内的接收信号,将两次测量中两根接收天线获得的接收信号差值进行对比,来表征金属壳体对电磁脉冲辐射信号的减弱程度,有效避免电磁脉冲信号发生器在两次测量过程中的变化而引入的测量误差。

    一种高强度场传感器校准方法

    公开(公告)号:CN106483485B

    公开(公告)日:2019-04-30

    申请号:CN201610968938.1

    申请日:2016-11-03

    IPC分类号: G01R35/00

    摘要: 本申请公开了一种高强度场传感器校准方法,克服标准场法在测试区域不易产生高场强的问题。本发明方法包括以下步骤:将被校准场传感器置于混响室的场均匀区域内,发射天线向所述混响室内辐射电磁波;设定水平搅拌器和垂直搅拌器在一个搅拌周期内的步进数;每步进一次,测量场传感器的接收场强值、接收天线的口面接收功率;得到一个搅拌周期内场传感器接收的平均场强值、接收天线接收的平均场强值;二者相比较得到场传感器的场强修正因子。本发明实现场强幅度200V/m以上的场传感器校准。

    一种基于微波暗室的高幅度场强传感器校准方法

    公开(公告)号:CN108152772A

    公开(公告)日:2018-06-12

    申请号:CN201711437115.7

    申请日:2017-12-26

    IPC分类号: G01R35/00

    摘要: 本发明公开了一种基于微波暗室的高幅度场强传感器校准方法。与现有的标准场法场强标准装置相比,本发明使用了1000W放大器,并提出了采用该放大器和耐受功率超过1000W的微波器件实现1000V/m或更高场强的产生方法,采用空间衰减的方法避开了微波器件无法在大功率条件下溯源的问题,解决了标准场法和标准天线法目前不能对200V/m以上幅度场强进行溯源的问题,从而可解决目前能够购买到的场强传感器场强幅度测量范围通常超过200V/m,而现有的场强标准装置只能满足200V/m以下场强传感器校准的问题。实现了1GHz以上频段、高于200V/m场强的电磁场传感器校准需求;从而实现了现有场强标准装置不能完成的高幅度场强传感器校准工作。

    一种基于混响室和传递探头的电磁场传感器校准系统

    公开(公告)号:CN106772177A

    公开(公告)日:2017-05-31

    申请号:CN201611128347.X

    申请日:2016-12-09

    IPC分类号: G01R35/00

    CPC分类号: G01R35/005

    摘要: 本发明公开一种基于混响室和传递探头的电磁场传感器校准系统,所述系统包括:混响室;置于所述混响室内工作区域连接有场强计的传递探头;位于所述混响室内的搅拌器和发射天线;和位于所述混响室外与所述发射天线连接的电磁场信号发生装置,本发明基于混响室技术,可以实现置于所述混响室内工作区域的电磁场传感器校准,可以使用宽带天线代替角锥喇叭天线,提高电磁场传感器校准的效率,使用混响室代替微波暗室,可以使用20W的功率放大器产生200V/m的场强环境,能够降低校准成本,同时使用传递探头法可以将电磁场传感器的校准结果溯源至微波暗室中的标准场强环境,实现电磁场传感器校准的溯源,保证电磁场传感器校准的准确性。

    一种天线测量暗室主反射点区域确定方法

    公开(公告)号:CN104567764A

    公开(公告)日:2015-04-29

    申请号:CN201410828069.3

    申请日:2014-12-25

    IPC分类号: G01B21/00

    CPC分类号: G01B21/00

    摘要: 本发明公开一种天线测量暗室的主反射点区域确定方法,该方法包括以暗室中的发射天线作为点源,暗室中的每个面分别作为镜面,将点源与各镜面进行几何镜像得到每个面的镜像点;将暗室测试区域的每一位置分别与每个面的镜像点连线,在每个面上得到连线与该面的交汇区域;将每个面上的交汇区域作为该暗室测试区域在暗室该面的主反射点区域。本发明所述技术方案,能够准确地确定测试区在各墙壁的主反射点区域,进行减少吸波材料的浪费。