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公开(公告)号：CN1270390C
公开(公告)日：2006-08-16
申请号：CN03127856.6
申请日：2003-08-12
Applicant: 株式会社岛津制作所
Inventor： 佐藤贤治 , 佐藤敏幸
IPC: H01L31/00 , H01L27/14 , G01J1/02 , G01T1/00 , A61B6/00
CPC classification number: G01T1/24
Abstract: 一种用于探测入射辐射的空间分布的辐射探测器，包括：一个辐射敏感的半导体；在半导体的一个表面上形成的公共电极，用于接纳偏置电压；在半导体的另一个表面上形成的多个分段式电极，用于输出在半导体内由入射辐射产生的电荷，作为电信号；和，一个光照射机构，用于至少在辐射探测期间发射光。
