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公开(公告)号：CN1213415C
公开(公告)日：2005-08-03
申请号：CN99123549.5
申请日：1999-11-09
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/12
CPC classification number: G11B7/139 , G11B7/1353
Abstract: 一种光盘装置，从半导体激光器向光盘的光束来路中物镜的开口大于从光盘开始的回路中物镜的开口，且在记录和重放时可改变该开口。由于光在高开口下被聚焦在光盘上，所以记录重放能力提高，同时由于在低开口下进行来自光盘的反射光的检测，所以也不损失相对于倾斜和散焦的裕量，同时由于可除去反射光中不需要的信号成分，所以也可提高信息信号的S/N，以实现高性能的光盘装置。可获得不损失重放品质的记录密度和记录品质高的光盘装置。
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公开(公告)号：CN1312546A
公开(公告)日：2001-09-12
申请号：CN01110981.5
申请日：2001-02-28
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B7/24085 , G11B7/007 , G11B7/00718 , G11B7/0901 , G11B7/0943 , G11B7/131 , G11B7/133 , G11B7/1353 , G11B7/1369 , G11B7/1381 , G11B7/24088
Abstract: 一种光盘设备具有:一个发射光的光源;和聚光装置。在每个信号标记形成区域中、在光盘的每个凸区或每个凹槽中,该装置将来自光源的光会聚到光盘的一个信号表面上(选择性地将一个信号标记放置在基本垂直于光道的方向上安排的多个位置中的任何一个位置)。每个信号标记形成区域被两条相邻的边缘线包围,这些边缘线位于光盘的信号表面上的两个光道之间,并基本平行于所述的这些光道,每条边缘线实质上把相邻光道之间的区域划分为两个部分。
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公开(公告)号：CN1271931A
公开(公告)日：2000-11-01
申请号：CN00106981.0
申请日：2000-04-24
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/12
CPC classification number: G11B7/1263 , G11B7/1362 , G11B7/1378 , G11B7/1398 , G11B2007/13725
Abstract: 用少量部件的简单构造来实现具有高频响应性的光量控制和校正半导体激光器的像散差。从半导体激光器101输出的光束通过光反射元件107,使其周边光束进入前光监视光电检测器103。把光反射元件的反射面做成变形非球面,以提供高频响应性。把光反射元件放置得倾斜一预定角度,以补偿半导体激光器的像散差。此外,把光电检测器沿这样的方向放置,从而使反射光108被弯折,减小了调整光反射元件时它的平移量。
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公开(公告)号：CN101421785B
公开(公告)日：2011-07-27
申请号：CN200780013072.8
申请日：2007-03-19
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B7/0903 , G11B7/094 , G11B7/131 , G11B7/1353
Abstract: 从放射光源(1)射出的光透射衍射格子(3a)后，分离为透射光a、+1次衍射光b和—1次衍射光c，透射光a、+1次衍射光b和—1次衍射光c以部分重合的状态经过物镜(7)聚光于光盘(8)的信号面(8a)上的轨道。在信号面(8a)上的轨道上反射的光经过物镜(7)入射光分支单元(13a)。根据该入射位置，对应透射光a的光分支为两种光分别入射光检测区域A1、A2，对应+1次衍射光b的光分支为两种光分别入射光检测区域B1、B2，对应—1次衍射光c的光分支为两种光分别入射光检测区域C1、C2。组合来自光检测区域A1、A2、B1、B2、C1、C2的检测信号，生成针对光盘(8)的轨道的跟踪错误信号。通过形成该结构，即使不对直线光栅进行旋转调整，也不会损耗跟踪错误信号的检测输出，可以消除伴随透镜移动的偏离轨道的影响。
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公开(公告)号：CN101675474B
公开(公告)日：2011-07-20
申请号：CN200880014961.0
申请日：2008-04-17
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B7/094 , G11B7/1275 , G11B7/131 , G11B7/1353 , G11B7/1381 , G11B2007/0006 , G11B2007/13727
Abstract: 本发明公开一种用激光光源对光盘等光记录媒体进行信息的读出、写入及消去中的至少一个的光学拾波装置及采用了该光学拾波装置的光盘装置。当因物镜与全息元件之间的位置偏差等造成1级衍射光漏进本来仅接收来自光盘的0级衍射光的区域时，在最好仅由DC成分构成的偏移修正用的信号中就包含了AC成分，从而降低跟踪误差(TE)信号的调制度。在全息图表面112a上，将部分遮光元件110形成为沿0级衍射光的受光区域(121a)和0次及1级衍射光的受光区域(121b，121c)的边界覆盖0级衍射光的受光区域(121a)。并且，能够通过部分遮光元件110使穿透光的相位错开π，来修正TE信号的偏移的同时，提高调制度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101512643B
公开(公告)日：2011-06-01
申请号：CN200780033199.6
申请日：2007-08-22
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/0065 , G11B7/135
CPC classification number: G11B7/1362 , G11B7/0065 , G11B7/0901 , G11B7/0908 , G11B7/128
Abstract: 本发明涉及信息记录装置以及信息再现装置，一种信息记录再现装置包括：半导体激光器等的发射光源(1)、将从发射光源(1)射出的激光(2)分离为多数衍射光的空间调制元件(6)、将所述多个衍射光聚光在各个不同的点的物镜(7)。从所述发射光源(1)射出的激光(2)通过空间调制元件(6)分离为多个衍射光，所述多个衍射光通过物镜(7)聚光在信息记录介质(8)的感光层(8b)中的各个不同的点，由这些聚光点的集合将信息记录在信息记录介质(8)的感光层(8b)。由此，能够提供可实现在信号记录时没有杂散光和衍射光影响的高对比度的记录的信息记录装置。
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公开(公告)号：CN102063911A
公开(公告)日：2011-05-18
申请号：CN201110037141.7
申请日：2005-04-27
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B7/1275 , G11B7/123 , G11B2007/0006
Abstract: 本发明涉及一种光拾取装置，其包括：用于发射光束的第一、第二和第三发光点；用于将从第一、第二和第三发光点发射的光束引导到物镜的光学系统；用于将光学系统引导的光束会聚到信息记录介质上的物镜；以及用于探测从信息记录介质反射的光束的光探测器，其中满足关系λ1＜λ2＜λ3，这里λ1，λ2，λ3分别表示从第一、第二和第三发光点发射的光束的波长，并且满足关系L1＝L2＜L3或者L1＜L2＝L3，或者L1＜L2＜L3，这里L1，L2，L3分别表示和物镜的中心轴光学匹配的参考轴与第一、第二和第三发光点之间的距离。
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公开(公告)号：CN100394495C
公开(公告)日：2008-06-11
申请号：CN200510076203.X
申请日：2005-04-22
Applicant: 松下电器产业株式会社
Abstract: 根据本发明的发光设备包括：用于发射具有第一波长的光的第一光源；以及用于发射具有与第一波长不同的第二波长的光的第二光源，其中第一光源以及第二光源位于相同的外壳内，并且满足θh1＞θh2的关系，其中θh1表示在水平方向从第一光源发射的光的辐射角度(半值全角)，以及θh2表示在水平方向从第二光源发射的光的辐射角度(半值全角)。
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公开(公告)号：CN100367377C
公开(公告)日：2008-02-06
申请号：CN200480002188.8
申请日：2004-04-06
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/09
CPC classification number: G11B7/0903 , G11B7/094 , G11B7/0943
Abstract: 本发明的光盘装置，具有：根据受光单元输出的电信号，求出主推挽信号MPP、副推挽信号SPP及主推挽信号MPP及副推挽信号SPP的差信号的运算部。具有检出主推挽信号MPP和所述差信号之间的相位差的相位差检出单元，按照相位差检出单元的输出，将补偿值给予主射束对光盘的跟踪控制，从而补偿起因于差信号的相位偏移的偏离轨道。
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公开(公告)号：CN1323392C
公开(公告)日：2007-06-27
申请号：CN200410004045.2
申请日：2000-04-24
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/12
CPC classification number: G11B7/1263 , G11B7/1362 , G11B7/1378 , G11B7/1398 , G11B2007/13725
Abstract: 用少量部件的简单构造来实现具有高频响应性的光量控制和校正半导体激光器的像散差。从半导体激光器101输出的光束通过光反射元件107，使其周边光束进入前光监视光电检测器103。把光反射元件的反射面做成变形非球面，以提供高频响应性。把光反射元件放置得倾斜一预定角度，以补偿半导体激光器的像散差。此外，把光电检测器沿这样的方向放置，从而使反射光108被弯折，减小了调整光反射元件时它的平移量。
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