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公开(公告)号：CN1683842A
公开(公告)日：2005-10-19
申请号：CN200510032786.6
申请日：2005-01-10
Applicant: 深圳清华大学研究院
IPC: F25B1/00
Abstract: 本发明涉及一种蒸气压缩式制冷循环装置，该制冷循环装置包括由增压泵(24)、冷凝器(23)、膨胀马达(26)、蒸发器(27)、压缩机(22)通过管道依次首尾相接构成主循环系统，该主循环系统输出冷量；在所述主循环系统的增压泵(24)的入口处和冷凝器(23)的出口处之间跨接所述节流器(25)，构成自增压泵(24)、冷凝器(23)，又经过节流器(25)，再回到增压泵(24)的次循环系统，该次循环系统使所述压缩机(22)出口处的工质温度降低。所述膨胀马达(26)膨胀时产生的输出扭矩驱动增压泵的转动(24)。所述膨胀马达(26)的等熵膨胀作用，使得进入冷凝器(23)工质的焓值降低；所述增压泵(24)的使用，使得压缩机(22)的工作压差变小，所需能耗减少。故本发明具有近似逆卡诺制冷循环的能效和较低的压缩机热负荷，可广泛用于空调、冰箱等制冷循环系统。
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公开(公告)号：CN1444022A
公开(公告)日：2003-09-24
申请号：CN03114328.8
申请日：2003-04-20
Applicant: 深圳清华大学研究院
Abstract: 本发明公开一种非接触红外手掌表面温度快速检测方法和仪器，包括包括红外测温组件、感应启动部件和控制电路，控制电路中包括有启动信号接收装置和温度换算装置，分别与所述感应启动部件和红外测温组件相连。启动信号接收装置感应到被测者手伸入特定位置后而启动红外测温组件测温；红外测温组件测量被测者手的表面温度；将手掌表面温度换算为体温。本发明利用红外测温组件进行测温，避免与人体接触并且测量速度快；同时，由于手伸入到特定位置后才启动，保证测量时手与红外测温组件的相对位置，保证测量精度。适于快速测量体温，并从中检测出体温异常者。
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公开(公告)号：CN1444020A
公开(公告)日：2003-09-24
申请号：CN03114326.1
申请日：2003-04-20
Applicant: 深圳清华大学研究院
Abstract: 本发明公开一种扫描式非接触红外体温快速检测方法和仪器，将扫描式非接触红外体温快速检测仪器置于设定高度；当被测者依次在扫描式非接触红外体温快速检测仪器下方走过时，内装有红外测温组件和由电机驱动的摆动部件的扫描式非接触红外体温快速检测仪器同时对下方区域进行红外扫描探测；扫描式非接触红外体温快速检测仪器扫描到被测者额头表面温度，经仪器内部将额头表面温度换算为体温。本发明利用红外测温组件进行测温，避免与人体接触并且测量速度快；同时，由于巧妙利用扫描的方式，使得它不需调整高度就可获取不同身高的人的额头温度，因而适于大量人群快速测量体温。
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公开(公告)号：CN111708177B
公开(公告)日：2022-05-10
申请号：CN202010568933.6
申请日：2020-06-19
Applicant: 深圳清华大学研究院
Abstract: 本发明的实施例公开一种光学部件位置控制装置及光纤测量系统。所述装置包括光学组件、移动框架总成、移位驱动机构、X方向微调机构和Z方向微调机构；所述光学组件包括至少一个光学部件；所述移位驱动机构用于驱动所述移动框架总成的至少一部分，使所述光学部件在X方向上快速移入测量光路中或从所述测量光路中快速移出；所述X方向微调机构用于对所述光学部件在所述X方向上的位置进行微调；所述Z方向微调机构用于对所述光学部件在Z方向上的位置进行微调。所述系统包括所述装置。本发明的实施例可对光学部件比如光阑实现快速和精确的定位。
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公开(公告)号：CN106483473A
公开(公告)日：2017-03-08
申请号：CN201610822468.8
申请日：2016-09-14
Applicant: 深圳清华大学研究院
CPC classification number: G01R31/44 , G01R1/04 , G01R1/07357
Abstract: 一种发光二极管测试装置。所述发光二极管测试装置包括固定基板、贴设于所述固定基板底面的散热板、设置于所述固定基板的容置孔且与所述散热板抵接的顶柱、设置于所述固定基板表面的绝缘压盖和贯穿并卡置于所述固定基板的弹性测试探针组件，发光二极管固定于所述顶柱顶部，所述发光二极管包括正极连接部和负极连接部，所述正极连接部和负极连接部分别与所述弹性测试探针组件连接。所述发光二极管测试装置具有较高的测试工作效率，此外，因此发光二极管工作产生的热量能够通过顶柱快速传导至远离发光二极管的散热板上，然后散发至周围环境中去，从而有效避免测试中的发光二极管的工作温度过高，进而防止其因过热而导致损坏。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105938871A
公开(公告)日：2016-09-14
申请号：CN201610405324.2
申请日：2016-06-08
Applicant: 深圳清华大学研究院
CPC classification number: H01L33/641 , H01L23/60 , H01L33/62 , H01L2933/0066
Abstract: 本发明公开了带有静电保护功能的倒装LED模组封装结构及其制造方法，该结构中，第一接口端与第三接口端电连接，第二接口端与第四接口端电连接，钛层位于第一接口端与第二接口端之间，钛层与第一接口端接触，钛层、氧化锌层和金层从下到上依次层叠，线路延伸层包括第一线路延伸层和向下延伸的第二线路延伸层，第一线路延伸层在金层上，第一线路延伸层通过第二线路延伸层与第二接口端连接，第二线路延伸层、钛层、氧化锌层和金层之间形成介质层填充位，介质层填充在介质层填充位内，第三接口端与第四接口端分别用于连接LED的正极和负极。本发明在实现对于LED芯片ESD保护的同时也能够提高散热性能。
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公开(公告)号：CN102944826B
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：CN201210483639.0
申请日：2012-11-23
Applicant: 深圳清华大学研究院
Abstract: 本发明实施例公开了一种LED测试装置、系统及方法，LED测试装置包括连接并为待测LED试件供电的供电单元，LED测试装置还包括：用于承载LED试件的承载体；用于带动承载体及其上的LED试件振动的振动发生器；底面设有通孔的遮光罩，所述承载体穿过所述通孔置于遮光罩中以使遮光罩罩住所述LED试件；以及安装于遮光罩上并采集遮光罩内的漫反射光线以对LED试件的光学参数进行测量的测光仪。本发明实施例通过遮光罩底面设置通孔，承载体穿过所述通孔置于遮光罩中以使遮光罩罩住所述LED试件的技术手段，从而实现了在线实时检测LED试件的光、色及电等性能参数，避免因应力条件发生改变以及反复安装、拆卸LED试件而引入的测试误差。
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公开(公告)号：CN103830993B
公开(公告)日：2016-08-10
申请号：CN201210474747.1
申请日：2012-11-21
Applicant: 深圳清华大学研究院
Abstract: 一种除湿装置，用于环境试验机中的试验箱内空气进行除湿。该除湿装置包括蒸发器、除湿阀、膨胀阀、蒸发压力调节阀、除湿管及出气管。所述除湿管与蒸发器连接，用于向蒸发器中引入液氮。所述除湿阀及膨胀阀设于所述除湿管上，用于控制进入蒸发器内的液氮量。所述出气管与蒸发器连接，用于排出蒸发器中的氮气。所述蒸发压力调节阀设于所述出气管上，用于控制蒸发器内的气压，以控制蒸发器内液氮的汽化温度。本发明的除湿装置结构简单、造价便宜、操作方便、环保。本发明还提供一种利用上述除湿装置的除湿方法以及具有上述除湿装置的环境试验机。
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公开(公告)号：CN103427810B
公开(公告)日：2016-06-08
申请号：CN201310341445.1
申请日：2013-08-07
Applicant: 深圳清华大学研究院
Abstract: 一种信号发生器电路包括监测单元、比较器单元、自锁保护单元及功率元件，监测单元用以监测外接负载的端电压并将端电压反馈至比较器单元，比较器单元包括二比较器并分别设定对比上限电压及对比下限电压，二比较器分别比较端电压与对比上限电压及端电压与对比下限电压，二比较器的输出端分别与自锁保护单元相连，当端电压在数值上大于对比上限电压或小于对比下限电压时，信号发生器电路该自锁保护单元控制所述功率元件进入截止状态以停止所述信号发生器电路对外接负载提供电能，并且持续锁定在该保护状态，直到故障排除后且按下解锁按键，所述信号发生器电路恢复正常工作。本发明的信号发生器电路能够有效保护外接负载及对其供电的工作电源。
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公开(公告)号：CN103575940B
公开(公告)日：2016-04-27
申请号：CN201310316166.X
申请日：2013-07-25
Applicant: 深圳清华大学研究院
Abstract: 一种发光二极管测试装置，用以对发光二极管进行测试，该发光二极管测试装置包括承载发光二极管的固定基板及装置于固定基板上用以分别与发光二极管导电性连接的电连接部，每一电连接部包括分别与发光二极管导电性连接的第一电连接部及第二电连接部，第一电连接部与第二电连接部将发光二极管夹置其间，第一电连接部能够相对于第二电连接部沿远离或靠近第二电连接部方向滑动，第二电连接部能够相对于第一电连接部沿远离或靠近第一电连接部方向滑动，从而实现取出或装入发光二极管。与现有技术相比，本发明的发光二极管测试装置通过第一、第二电连接部能够分别沿相对方向滑动从而实现取出或装入发光二极管，方便装卸，进而具有较高的测试工作效率。
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