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公开(公告)号:CN119213318A
公开(公告)日:2024-12-27
申请号:CN202380040263.2
申请日:2023-02-20
Applicant: 阿自倍尔株式会社
Inventor: 古谷雅
IPC: G01P3/36
Abstract: 一种速度测定装置,具备:分光器(20),将来自移动的测定对象物(10)的反射光分成第一光和第二光;物体侧远心透镜或两侧远心透镜(4),接受反射光;比较部(301),对第一信号的振幅和第二信号的振幅进行比较,其中,该第一信号是对与分光器(20)相距第一距离(L)处的第一光进行空间滤波而获得的信号,该第二信号是对与分光器(20)相距第二距离(L+D)处的第二光进行空间滤波而获得的信号;以及移动速度计算部(302),基于第一信号和第二信号中的振幅大的信号来计算出测定对象物(10)的移动速度。
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公开(公告)号:CN118818476A
公开(公告)日:2024-10-22
申请号:CN202410472462.7
申请日:2024-04-19
Applicant: 阿自倍尔株式会社
Inventor: 古谷雅
IPC: G01S11/12
Abstract: 本发明提供一种速度测定装置及速度测定方法,可准确地对速度进行测定。本发明包括:双侧远心透镜,接收来自移动的测定对象物的反射光;光检测器阵列,相对于通过了双侧远心透镜的反射光所形成的像面倾斜地配置;第一速度测定部,基于对由光检测器阵列接收到的反射光进行空间滤波而获得的信号的频率,对测定对象物的速度进行测定;以及第二速度测定部,对在第一时间由光检测器阵列拍摄到的反射光所形成的第一光分布、与在第二时间由光检测器阵列拍摄到的反射光所形成的第二光分布进行比较,算出第一时间至第二时间之间的期间的测定对象物的移动量,并基于移动量对测定对象物的速度进行测定。
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公开(公告)号:CN115356337A
公开(公告)日:2022-11-18
申请号:CN202210505504.3
申请日:2022-05-10
Applicant: 阿自倍尔株式会社
Abstract: 本发明的推定装置能够不受异物的影响而推定物体的表面上的基准面的朝向。本发明的推定装置具备:数据获取部(201),其获取表示激光传感器(1)的激光照射区域(11)中的各点的位置以及从激光传感器(1)到该各点的距离的数据;点设定部(202),其设定多组表示照射区域(11)中的3个点(12)的基准面设定点;推定部(203),其基于由数据获取部(201)获取到的数据,一边改变由点设定部(202)设定的基准面设定点中的用于推定的基准面设定点,一边多次推定作为推定对象的物体(5)的表面上的基准面(13)的朝向;以及代表值获取部(204),其基于推定部(203)的推定结果,获取成为代表的基准面(13)的朝向。
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公开(公告)号:CN106796177A
公开(公告)日:2017-05-31
申请号:CN201580055034.3
申请日:2015-09-25
Applicant: 阿自倍尔株式会社
IPC: G01N21/64
Abstract: 本发明的液中荧光检测装置包括:光源(10),其朝液体发出在第1荧光波段及第2荧光波段之间的波段内在液体中产生拉曼散射光这样的波长的激发光,所述液体可能含有第1物质及第2物质,所述第1物质发出与在第2荧光波段内相比在第1荧光波段内具有较强的强度的光,所述第2物质发出与在第1荧光波段内相比在第2荧光波段内具有较强的强度的光;以及荧光检测部(102),其检测第1荧光波段及第2荧光波段的光。
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公开(公告)号:CN105223112A
公开(公告)日:2016-01-06
申请号:CN201510355698.3
申请日:2015-06-24
Applicant: 阿自倍尔株式会社
IPC: G01N15/00
CPC classification number: G01N21/6486 , C12Q1/06 , G01N15/14 , G01N15/1434 , G01N2015/1402 , G01N2015/144 , G01N2015/1477 , G01N2015/1488
Abstract: 本发明提供可判别生物粒子与非生物粒子的粒子检测装置及粒子检测方法。粒子检测装置具有:测定被测定粒子上所产生的第1至第3光的强度测定值的光测定器(20);存储装置(350),保存在第1范围内记录有第1及第2类粒子的识别边界中的第3光的强度的第1边界信息、在第2范围内记录有识别边界中的第3光的强度的第2边界信息、以及在识别边界所包围的单元格内记录有第1类粒子标识符、在识别边界未包围的单元格内记录有第2类粒子标识符的识别信息;和粒子判定部(302),在根据第1及第2光的强度测定值获取了第1类粒子的标识符,且第3光的强度测定值在第1及第2边界值之间时,判断被测定粒子为第1类粒子。
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