串扰校正方法和X射线计算机断层扫描设备

    公开(公告)号:CN100398068C

    公开(公告)日:2008-07-02

    申请号:CN200510054844.5

    申请日:2005-03-15

    IPC分类号: A61B6/03 G01T1/20

    摘要: 为了提供易于消除切片方向上相邻的闪烁器之间出现的荧光渗漏的串扰校正方法,信道方向上的第一函数拟合部件(51)和切片方向上的第二函数拟合部件(53)从倾斜模型投影信息(41)确定理想投影长度ln(Dn),式(1)则用来确定渗漏系数ε+和ε-,随后,串扰消除部件(82)采用式(2)和渗漏系数ε+和ε-、从构成关于受检者的受检者投影信息(42)的检测信息Sn确定强度信息Dn;这样,受检者投影信息(42)中包含的切片方向上相邻的闪烁器的渗漏分量通过简易方法被消除,以便消除因切片方向上的渗漏引起的人为现象,从而提高图像质量。

    X-射线CT设备
    22.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1862251A

    公开(公告)日:2006-11-15

    申请号:CN200610079856.8

    申请日:2006-05-11

    IPC分类号: G01N23/04 A61B6/03

    摘要: 本发明的目的是实现一种X-射线CT设备,其进行多片具有较小分辨率降低的成像,并且同时也要抑制接收X-射线探测器电信号的数据获取部分的扩展,通过开关单元的第一探测器开关装置得到在通道方向的两个X射线探测器作为一对进行操作的阵列。在通道方向上移动一个X-射线探测器的该阵列在通道或者行方向上交替重复。因此,即使当接收器的数量较小时,也可以同时收集在宽成像范围分布的数据,而分辨率的降低被抑制在较小的程度。扩展开来,通过将开关用于高分辨率成像,能够得到更符合操作者所瞄准图像的成像。

    散射补偿方法和散射测量方法

    公开(公告)号:CN1846624A

    公开(公告)日:2006-10-18

    申请号:CN200610082095.1

    申请日:2006-03-01

    发明人: 贯井正健

    IPC分类号: A61B6/03

    摘要: 本发明的一个目的是补偿在多层放射线摄影期间出现的散射。导致散射的非患者实体(不同于患者的实体)的投影长度pro_ex被获取,并且放射线摄影对象的投影长度pro_pt被获取。对放射线摄影对象进行放射线摄影,以便测量数据I(do,do),其中将线束厚度设置成与探测器厚度do具有相同的值。对放射线摄影对象进行放射线摄影,以便测量数据I(do,d),其中将线束厚度设置成大于探测器厚度do的值d。根据数据I(do,do)和数据I(do,d)之间的差值,散射量S(do,d)被计算并与投影长度和pro_pt+pro_ex相关联地被存储。在对患者进行放射线摄影以产生数据后,患者的投影长度pro_pt被计算,已经对数据造成影响的非患者实体的投影长度pro_ex也被计算。和患者投影长度pro_pt与非患者实体投影长度pro_ex的和相关的散射量S(do,d)被读出。因此,数据被校正以便补偿散射。最后,由散射引起的CT图像质量退化可以被抑制。

    射线计算机断层成像设备和其中使用的射线检测器

    公开(公告)号:CN1596829A

    公开(公告)日:2005-03-23

    申请号:CN200410088095.3

    申请日:2004-09-17

    发明人: 贯井正健

    IPC分类号: A61B6/03

    CPC分类号: A61B6/032 A61B6/06

    摘要: 为了更有效地减小散射线的影响和改善断层图像的图像质量,用作射线计算机断层成像设备的X射线CT设备(10)包括:用于检测受检者(1)投影数据的X射线检测器(70),该投影数据由围绕预定旋转轴旋转的X放射源XL发射并穿过受检者(1)的X射线产生;和用于根据投影数据产生用于受检者(1)断层图像的断层图像数据的计算/控制设备(23);其中所述X射线检测器(70)包括:多个用于检测射线的检测器通道(ch),它们在两个排列方向上,即在通道和列方向上按二维方式延伸,所述通道方向包含在X射线源(XL)的旋转平面内,所述列方向与通道方向垂直并沿旋转轴排列;和准直器(50),用于限定X射线撞击检测器通道(ch)的角度,准直器被放置在列方向上相邻的检测器通道(ch)之间的边界上。

    X-射线CT设备和控制它的方法

    公开(公告)号:CN1442116A

    公开(公告)日:2003-09-17

    申请号:CN03106888.X

    申请日:2003-03-06

    IPC分类号: A61B6/03 G06F7/00 G06T11/00

    摘要: 为了确定X-射线管的位置距预定位置的偏移并基于所确定的偏移校正轴向投影数据D1和像素投影数据D2,通过使用X-射线焦点2102和检测器2103并通过如下的方式可以获得适当的轴向投影数据D1:使用通过检测从X-射线焦点2102发射出的并经过点2104的X-射线的通道获得的投影数据D0确定在点2104上的轴向投影数据D1,以及在x-轴的(+)-方向上将所确定的轴向投影数据D1移动距离DIS1。在另一方面,取y=Ye/2(y=r1-r2)作为实例,并且在通过X-射线焦点2102和检测器2103确定在y=r1-r2上的适当的像素投影数据D2时,可以类似地实施偏移校正处理,即在x-轴的(+)-方向上将在点2106上的像素投影数据D2移动在两点2106和2107之间的距离DIS2(即偏移)。

    X射线计算断层成像扫描仪、剂量计算方法以及程序

    公开(公告)号:CN103083032A

    公开(公告)日:2013-05-08

    申请号:CN201210416320.6

    申请日:2012-10-26

    发明人: 贯井正健

    IPC分类号: A61B6/03 H05G1/26

    CPC分类号: A61B6/542 A61B6/488 A61B6/583

    摘要: 本发明涉及X射线计算断层成像扫描仪、剂量计算方法以及程序。[问题]需要在X射线CT扫描的剂量计算期间更准确地反映成像目标尺寸。[解决方案]执行第一步骤和第二步骤。第一步骤基于从在主扫描之前对成像目标执行的X射线成像获得的数据来估计特征量NI,其与通过在预定扫描条件(KV和ref_mAs)下对成像目标执行X射线CT扫描获得的且与剂量具有相关关系的图像的图像质量和像素值中的一个有关。第二步骤基于由第一步骤估计的特征量NI与所述预定扫描条件(KV和ref_mAs)、参考特征量NI和剂量f(NI)之间的所述初步获得的关系来针对在期望设定扫描条件(KV和real_mAs)下执行X射线CT扫描时的情况计算用于成像目标的剂量CTDI。

    X-射线计算机断层系统和束硬化后处理方法

    公开(公告)号:CN100466976C

    公开(公告)日:2009-03-11

    申请号:CN200410036883.8

    申请日:2004-04-16

    IPC分类号: A61B6/03

    摘要: 本发明的一个目的是即使在通过扫描相对较大的对象采集数据时根据束硬化效应相对于每个通道高精度地校正数据。本发明包括:根据束硬化效应校正第一投影信息以产生第二投影信息的束硬化校正块;将第一函数拟合到第二投影信息以产生第三投影信息的第一拟合块;将第二函数拟合到第三投影信息值的第二拟合块,该第三投影信息值作为将具有相对于所有的视图和X-射线检测器的每个通道采样的第二投影信息值作为独立变量的函数提供;和使用通过第一模型计算的第一校正系数修正使用比第一模型的尺度更大的第二模型计算的第二校正系数的校正系数修正块。

    射线计算机断层成像设备和其中使用的射线检测器

    公开(公告)号:CN100358472C

    公开(公告)日:2008-01-02

    申请号:CN200410088095.3

    申请日:2004-09-17

    发明人: 贯井正健

    IPC分类号: A61B6/03

    CPC分类号: A61B6/032 A61B6/06

    摘要: 为了更有效地减小散射线的影响和改善断层图像的图像质量,用作射线计算机断层成像设备的X射线CT设备(10)包括:用于检测受检者(1)投影数据的X射线检测器(70),该投影数据由围绕预定旋转轴旋转的X放射源XL发射并穿过受检者(1)的X射线产生;和用于根据投影数据产生用于受检者(1)断层图像的断层图像数据的计算/控制设备(23);其中所述X射线检测器(70)包括:多个用于检测射线的检测器通道(ch),它们在两个排列方向上,即在通道和列方向上按二维方式延伸,所述通道方向包含在X射线源(XL)的旋转平面内,所述列方向与通道方向垂直并沿旋转轴排列;和准直器(50),用于限定X射线撞击检测器通道(ch)的角度,准直器被放置在列方向上相邻的检测器通道(ch)之间的边界上。