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公开(公告)号：CN101183550B
公开(公告)日：2014-08-27
申请号：CN200710194086.6
申请日：2003-09-26
Applicant: LG电子株式会社
IPC: G11B20/18
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B2020/1893 , G11B2220/20 , G11B2220/218 , G11B2220/2541
Abstract: 提供了一种一次性写入记录介质以及一种用于管理该记录介质上的缺陷区的方法和装置。该方法包括：在数据写操作中，当数据被写到数据区上时检测记录介质的数据区中的缺陷区的存在；如果检测到缺陷区，则把写在缺陷区中的数据写到另一数据用户区上；以及把与该缺陷区相关的缺陷管理信息写到记录介质上的至少一个缺陷管理区上。
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公开(公告)号：CN102422353A
公开(公告)日：2012-04-18
申请号：CN201080020752.4
申请日：2010-05-03
Applicant: LG电子株式会社
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B2020/1826 , G11B2220/20 , G11B2220/216 , G11B2220/2541
Abstract: 公开了一种记录介质、一种数据记录/再现方法和一种数据记录/再现装置。一种记录介质，包括：在其中记录用户数据的数据区；位于该数据区的内部圆周处的内部区；以及位于该数据区的外部圆周处的外部区，其中该数据区包括至少一个备用区域，并且该内部区和该外部区中的至少一个包括至少一个磁盘管理区域，该磁盘管理区域包括：记录介质的缺陷管理信息；包括该缺陷管理信息的信息的通用管理信息；以及能够被用作有缺陷的替换簇的该备用区域的地址信息，该通用管理信息包括其中记录了缺陷管理信息的磁盘管理区域的每簇的地址信息。根据本发明的记录介质、数据记录/再现方法和数据记录/再现装置，能够更有效地管理在该记录介质中出现的缺陷。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN102163434A
公开(公告)日：2011-08-24
申请号：CN200910254091.0
申请日：2003-10-01
Applicant: LG电子株式会社
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B7/00745 , G11B2007/0013 , G11B2020/1873 , G11B2220/20
Abstract: 本发明涉及一次写入型光盘以及用于管理该光盘上的缺陷信息的方法和设备。利用临时缺陷管理区(TDMA)提供了一种一次写入型光盘、一种用于管理该一次写入光盘，例如，BD-WO上的缺陷信息的方法和设备。该方法包括：准备临时缺陷管理区(TDMA)，在该临时缺陷管理区上，将临时缺陷列表(TDFL)记录为用于管理光盘上的缺陷区的缺陷管理信息；在临时缺陷管理区上，利用先前的临时缺陷列表累积记录最近临时缺陷列表；以及除了临时缺陷列表，还在临时缺陷管理区上记录用于指出最近临时缺陷列表的位置的位置信息，以更有效地管理临时缺陷列表。
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公开(公告)号：CN101322192B
公开(公告)日：2011-04-27
申请号：CN200680045267.6
申请日：2006-12-04
Applicant: LG电子株式会社
Inventor： 朴容徹
CPC classification number: G11B7/00736 , G11B19/122 , G11B20/1217 , G11B27/329 , G11B2020/1277 , G11B2020/1278 , G11B2020/1285 , G11B2020/1288 , G11B2020/1289 , G11B2220/218 , G11B2220/2537 , G11B2220/2541
Abstract: 披露了一种用于关闭记录范围的方法和设备、一种用于关闭记录介质的方法和设备、一种用于记录管理信息的方法和设备、一种用于在记录介质上/从记录介质记录/再现数据的方法和设备和一种记录介质。关闭记录介质的方法包括：确定将记录识别信息的位置；将位于确定位置之后的有效数据记录到保护区域之前的未记录区域中；以及在确定位置中记录识别信息。可以使用记录介质和在记录介质上/从记录介质记录/再现数据的方法再现具有不同版本(具有兼容性)的记录介质，并且可以减少用于关闭记录介质所消耗的时间。
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公开(公告)号：CN102027540A
公开(公告)日：2011-04-20
申请号：CN200980117360.7
申请日：2009-05-08
Applicant: LG电子株式会社
IPC: G11B7/007 , G11B7/0045 , G11B7/005 , G11B7/004
CPC classification number: G11B7/00736 , G11B20/18 , G11B27/322 , G11B27/36 , G11B2020/1869 , G11B2220/2562
Abstract: 本发明公开了用于存档数据的记录介质、记录方法、记录装置、再现方法和再现装置。记录介质包括用于记录用户数据的数据区和用于管理记录在记录介质上的信息的管理区。管理信息包括数据存档信息。
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公开(公告)号：CN100362575C
公开(公告)日：2008-01-16
申请号：CN03801864.0
申请日：2003-09-26
Applicant: LG电子株式会社
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B2020/1893 , G11B2220/20 , G11B2220/218 , G11B2220/2541
Abstract: 提供了一种一次性写入记录介质以及一种用于管理该记录介质上的缺陷区的方法和装置。该方法包括：检测记录介质的数据区中缺陷区的存在；如果检测到缺陷区，则把写到缺陷区中的数据写到至少一个备用区的置换区；以及把与该缺陷区相关的缺陷管理信息写到记录介质上的至少一个缺陷管理区上，其中记录介质上的至少一个缺陷管理区是记录介质的数据区中的至少一个备用区的一部分。
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公开(公告)号：CN1860551A
公开(公告)日：2006-11-08
申请号：CN200480028447.4
申请日：2004-10-12
Applicant: LG电子株式会社
Inventor： 朴容徹
IPC: G11B20/18
CPC classification number: G11B20/1883 , G11B2020/10861 , G11B2020/1826 , G11B2020/1873 , G11B2220/20
Abstract: 提供了一种一次写入记录介质结构以及一种方法和装置，用于在记录介质上记录最终管理信息。记录介质包括临时缺陷管理区(TDMA)和缺陷管理区(DMA)。该方法包括把记录在TDMA内的信息发送给记录介质的DMA，并且在DMA内记录发送信息作为最终管理信息。最终管理信息包括至少一个缺陷列表以及空间位图信息或顺序记录范围信息的任何一种。在DMA内记录关于一个或有效所有缺陷列表的位置信息。
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