公开(公告)号：CN1138126C

公开(公告)日：2004-02-11

申请号：CN96192997.9

申请日：1996-06-18

申请人： 贝克特公司

发明人： 波瑙伊特·德·哈勒克斯 ,  布鲁诺·德·里伯格·斯蒂鲁姆

IPC分类号： G01B7/02 ,  G01N27/72

CPC分类号： G01B7/085

摘要： 一种用于在包括用铁磁导电材料制成的基体并具有非铁磁导电材料镀层的物体的情况下测量镀层的导电率乘以层厚度的积的方法。包括步骤：在和物体相邻的空间内放置磁场感应器，用至少包括一个确定的检测表面的检测器测量两个量，分别和参考电信号同相与正交，并和由感应器和物体在检测表面内相伴地产生的磁通的时间的导数部分成比例，取这两个测量的两个不同函数作为第一曲线图的两个输入量而确定一个实验点来相伴地使用所述两个函数，所述曲线图包括一组不交叉的曲线，每条曲线相应于层的导电率和层厚之积的不同值，并在图上确定哪条曲线通过和测量相应的点，然后由此导出层的导电率和层厚之积的值。

公开(公告)号：CN1180406A

公开(公告)日：1998-04-29

申请号：CN96192997.9

申请日：1996-06-18

申请人： 贝克特公司

发明人： 波瑙伊特·德·哈勒克斯 ,  布鲁诺·德·里伯格·斯蒂鲁姆

IPC分类号： G01B1/00 ,  G01B7/06

CPC分类号： G01B7/085

摘要： 一种用于在包括有铁磁导电材料制成的基体并具有非铁磁导电材料镀层的物体的情况下测量镀层的导电率乘以层厚度的积的方法。该方法包括以下步骤:在和物体相邻的空间内放置产生变化的磁场的感应器,用至少包括一个确定的检测表面的检测器测量两个量,所述两个量分别和参考电信号同相与正交,并和由感应器和物体在检测表面内相伴地产生的磁通的时间的导数部分成比例,通过取这两个测量的两个不同函数作为第一图的两个输入量而确定一个实验点来相伴地使用所述两个函数,所述第一曲线图不能被简化为等效的一个输入的图,它和层的导电率、基体的导电率与导磁率无关,但和感应器一物体一检测器系统的特性以及由感应器产生的变化磁场有关,所述曲线图包括一组不交叉的曲线,每条曲线相应于层的导电率和层厚之积的不同值,并在图上确定哪条曲线通过和测量相应的点,然后由此导出层的导电率和层厚之积的值。