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发明公开
中红外多波长材料折射率的测量装置及其测量方法失效

公开(公告)号：CN102323238A

公开(公告)日：2012-01-18

申请号：CN201110327127.0

申请日：2011-10-25

申请人： 上海交通大学

发明人： 谢国强 , 马杰 , 高文兰 , 钱列加 , 张怀金

IPC分类号： G01N21/41

摘要： 本发明公开了一种中红外波长材料折射率的测量装置，包括激光二极管、光束整形装置、输入镜、激光晶体、球面高反镜、棱镜对、狭缝、输出耦合镜、法拉第隔离器、半透半反镜、可调光阑、精密旋转台、光谱仪和双通道功率计构成，和一种中红外波长材料折射率的测量方法，实现了待测材料在宽光谱范围内不同中红外波长下折射率的直接测量，解决了目前材料在中红外波长折射率难于测量的问题，同时测量过程简便易行，大大简化了折射率测量过程，降低了测量成本。