公开(公告)号：CN113257330A

公开(公告)日：2021-08-13

申请号：CN202110699800.7

申请日：2021-06-23

申请人： 北京智芯半导体科技有限公司

发明人： 周斌 ,  刘佳 ,  王于波 ,  庞振江 ,  王文赫 ,  李延 ,  梁昭庆

IPC分类号： G11C29/12 ,  G06F11/14

摘要： 本发明公开一种存储装置掉电保护的测试方法、测试装置以及存储介质，所述方法包括：获取预设测试流程和测试信息；基于所述测试信息对所述预设测试流程进行优化，获得优化后测试流程；获取预设测试参数，对所述预设测试参数进行优化，获得优化后测试参数；基于所述优化后测试参数执行所述优化后测试流程。通过对传统的掉电测试方法进行改进，一方面，对现有掉电测试流程中的无效测试环节及非必须测试环节进行识别并对现有掉电测试流程进行优化，从而有效降低掉电测试流程的时间消耗；另一方面，对掉电测试过程中的测试参数进行优化，进一步降低在每个掉电测试环节过程中的时间消耗，从而大大减少整个掉电测试过程中的时间消耗，提高掉电测试效率。

公开(公告)号：CN113257330B

公开(公告)日：2021-10-01

申请号：CN202110699800.7

申请日：2021-06-23

申请人： 北京智芯半导体科技有限公司

发明人： 周斌 ,  刘佳 ,  王于波 ,  庞振江 ,  王文赫 ,  李延 ,  梁昭庆

IPC分类号： G11C29/12 ,  G06F11/14

摘要： 本发明公开一种存储装置掉电保护的测试方法、测试装置以及存储介质，所述方法包括：获取预设测试流程和测试信息；基于所述测试信息对所述预设测试流程进行优化，获得优化后测试流程；获取预设测试参数，对所述预设测试参数进行优化，获得优化后测试参数；基于所述优化后测试参数执行所述优化后测试流程。通过对传统的掉电测试方法进行改进，一方面，对现有掉电测试流程中的无效测试环节及非必须测试环节进行识别并对现有掉电测试流程进行优化，从而有效降低掉电测试流程的时间消耗；另一方面，对掉电测试过程中的测试参数进行优化，进一步降低在每个掉电测试环节过程中的时间消耗，从而大大减少整个掉电测试过程中的时间消耗，提高掉电测试效率。

公开(公告)号：CN118585439A

公开(公告)日：2024-09-03

申请号：CN202410687188.5

申请日：2024-05-30

申请人： 北京智芯微电子科技有限公司 ,  内蒙古电力(集团)有限责任公司电能计量分公司

发明人： 董瀚 ,  梁昭庆 ,  张海晶 ,  肖斌 ,  雷少波 ,  李建强 ,  王祥 ,  李延

IPC分类号： G06F11/36

摘要： 本发明提供一种安全芯片的算法测试方法、装置和系统，属于计算机技术领域。方法包括：响应于算法测试参数配置指令，获取待测安全芯片的算法测试参数；生成与算法测试参数匹配的测试数据；发送测试数据和算法测试参数至待测安全芯片，以及接收待测安全芯片基于测试数据和算法测试参数执行算法测试的第一测试结果；从算法库和国密资质卡中确定与算法类型匹配的目标测试主体，以及获取目标测试主体基于测试数据和算法测试参数执行算法测试的第二测试结果；基于第一测试结果和第二测试结果的对比结果，确定算法测试结果。本发明解决现有安全芯片的算法测试方法存在测试的算法类型较少、测试算法类型的覆盖率较低，无法保证测试结果的正确性的问题。

公开(公告)号：CN117149614A

公开(公告)日：2023-12-01

申请号：CN202310847617.6

申请日：2023-07-11

申请人： 北京智芯微电子科技有限公司

发明人： 周斌 ,  白雪松 ,  付利莉 ,  杜君 ,  姜帆 ,  曲胜波 ,  梁昭庆

IPC分类号： G06F11/36

摘要： 本发明实施例提供一种测试脚本自动化生成方法、装置、存储介质及处理器，属于计算机技术领域。所述方法包括：获取被测对象的待配置参数、循环体文件以及支持文件；根据所述被测对象的待配置参数，确定测试配置信息；根据预置的脚本框架和所述测试配置信息生成目标脚本框架；确定与所述被测对象对应的指令格式文件；根据所述目标脚本框架、所述指令格式文件、所述循环体文件以及所述支持文件，生成目标测试脚本。本发明能够快速生成自动化测试脚本，从而降低测试人员手工编写、修改脚本的成本以及出错概率，提高了测试脚本的生成效率。