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公开(公告)号：CN116448295B
公开(公告)日：2024-04-30
申请号：CN202310431847.4
申请日：2023-04-21
申请人： 哈尔滨工业大学
摘要： 本发明提出一种基于Lamb波单模双频差分声时比的无基线空耦超声平面应力检测方法。本发明利用Lamb波的双频差分声时比作为应力表征的新参量，消去了现有技术中应力系数表达式引入的复合材料板中超声波传播距离L，且无需通过无应力下的参考信号获得声时差，从而避免了空耦超声应力检测时由于复合材料板中超声波传播距离L无法准确获得以及实验条件不一致等因素而引入的误差，提高了应力定量表征的准确度。
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公开(公告)号：CN116448295A
公开(公告)日：2023-07-18
申请号：CN202310431847.4
申请日：2023-04-21
申请人： 哈尔滨工业大学
摘要： 本发明提出一种基于Lamb波单模双频差分声时比的无基线空耦超声平面应力检测方法。本发明利用Lamb波的双频差分声时比作为应力表征的新参量，消去了现有技术中应力系数表达式引入的复合材料板中超声波传播距离L，且无需通过无应力下的参考信号获得声时差，从而避免了空耦超声应力检测时由于复合材料板中超声波传播距离L无法准确获得以及实验条件不一致等因素而引入的误差，提高了应力定量表征的准确度。
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公开(公告)号：CN115753991A
公开(公告)日：2023-03-07
申请号：CN202211462144.X
申请日：2022-11-22
申请人： 哈尔滨工业大学
IPC分类号： G01N29/04
摘要： 本发明涉及一种复合材料的高空间分辨率应力场空耦超声应力测量装置的使用方法，属于超声检测技术领域，包括一种复合材料的高空间分辨率应力场空耦超声应力测量装置，所述一种复合材料的高空间分辨率应力场空耦超声应力测量装置包括激励空耦超声换能器、接收空耦超声换能器、高速采集卡和上位机；待测复合材料板试样的一侧放置有激励空耦超声换能器，在激励空耦超声换能器的同侧放置有接收空耦超声换能器，接收空耦超声换能器的输出端通过传输线连接有高速采集卡，高速采集卡的输出端通过传输线连接有上位机。
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公开(公告)号：CN115683369A
公开(公告)日：2023-02-03
申请号：CN202211246109.4
申请日：2022-10-12
申请人： 哈尔滨工业大学
IPC分类号： G01K7/01
摘要： 本发明公开了一种基于Lamb波双模态声时比的复合材料空耦超声平面应力检测方法。步骤一：组装检测设备；步骤二：基于步骤一的检测设备和Lamb波双模态声时比，采用单向加载应力，得到不同的应力系数关系；步骤三：基于步骤二的应力系数关系，求解应力系数；步骤四：基于步骤三的应力系数，获取三个声时比；步骤五：基于步骤四的声时比描述检测点的应力状态；步骤六：重复步骤四和步骤五，直至完成检测扫描。大幅提高复合材料板应力系数标定以及空耦超声应力表征的准确度。
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公开(公告)号：CN115615591A
公开(公告)日：2023-01-17
申请号：CN202210980454.4
申请日：2022-08-16
申请人： 哈尔滨工业大学
摘要： 一种多晶元空气耦合换能器及其平面应力超声测量方法、计算机和储存介质，涉及超声检测技术领域。解决传统平面应力测量方法多采用一对接触式超声换能器通过至少变换3个不同测量方向，获得3个测量方向的声时差等信息来计算求得平面应力，操作过于复杂的，且耦合剂会影响平面应力测量准确性的问题。所述方法包括：激励信号发送端向待测件发射通过多晶元空气耦合换能器晶元的超声波；激励信号接收端接收待测件通过多晶元空气耦合换能器对应晶元返回的回波；根据所述超声波和回波通过数据处理获取Lamb波的声时差；根据Lamb波的声时差获取第一主应力、第二主应力、第一主应力与正交各向异性复合材料纤维方向夹角。适用于平面应力检测领域。
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公开(公告)号：CN111474246A
公开(公告)日：2020-07-31
申请号：CN202010329018.1
申请日：2020-04-24
申请人： 哈尔滨工业大学
IPC分类号： G01N29/22
摘要： 一种铰链阵列超声相控阵换能器探头控制方法属于超声检测技术领域，该控制方法首先固定待测件，使铰链阵列超声相控阵换能器压电阵元的中心压电阵元与待测件的表面接触，然后固定固定支架；在开始检测前，利用音圈电机驱动铰链阵列使各压电阵元与待测件表面完全贴合，其中压电阵元的个数为2N+1个(N＝1、2、3、4、5)，根据待测件大小选取不同的N值；以中心压电阵元的压力值为标准，其余压电阵元的压力值与其的差值作为各自对应音圈电机线圈的控制信号，控制出力杆驱动铰链阵列；采用增量式数字PID控制方法使各压电阵元的压力值保持一致；之后，采用延时法则实现超声波的偏转和聚焦进行超声检测，实现对表面为平面或曲面的待测件的检测。
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