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公开(公告)号：CN1251203C
公开(公告)日：2006-04-12
申请号：CN03143044.9
申请日：1998-11-25
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/09
CPC classification number: G11B7/0908 , G11B7/00718 , G11B7/094
Abstract: 聚焦位置粗探测部(50)和聚焦位置精密探测部(60)，根据来自凸纹沟纹检测部(34)的L/G切换信号LGS，一面区分光束光点位于凸纹光道还是位于沟纹光道，一面探测使由误码率计测部(33)计测的位误码率BER以及再生信号RF的包络和抖动变得更为良好的两个(凸纹用和沟纹用的)新的聚焦位置，并向聚焦误差检测部(36)输出两个用于将控制目标变更为该新的聚焦位置的控制信号(FBAL、FOFF)。
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公开(公告)号：CN1700319A
公开(公告)日：2005-11-23
申请号：CN200510074017.2
申请日：1998-11-25
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/09
Abstract: 聚焦位置粗探测部50和聚焦位置精密探测部60，根据来自凸纹沟纹检测部34的L/G切换信号LGS，一面区分光束光点位于凸纹光道还是位于沟纹光道，一面探测使由误码率计测部33计测的位误码率BER以及再生信号RF的包络和抖动变得更为良好的两个(凸纹用和沟纹用的)新的聚焦位置，并向聚焦误差检测部36输出两个用于将控制目标变更为该新的聚焦位置的控制信号(FBAL、FOFF)。
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公开(公告)号：CN1623193A
公开(公告)日：2005-06-01
申请号：CN03802687.2
申请日：2003-01-20
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B19/127 , G11B7/0945 , G11B7/1267 , G11B7/13925 , G11B2007/13727
Abstract: 本发明的光盘装置，具有：球面象差检测部，其生成表示聚焦在光盘的信息面上的光束焦点中产生的球面象差的球面象差信号；球面象差变更部，其可以改变球面象差；球面象差调整部，其生成通过驱动球面象差变更部用于校正球面象差的象差校正信号；和检测信息面深度的装置，在光束的焦点位于光盘的信息面的状态下，检测出使球面象差最小化的象差校正信号的值，根据该值，检测出信息面深度，该信息面深度相当于光束的焦点位于的信息面与光盘表面之间的距离。
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公开(公告)号：CN1495731A
公开(公告)日：2004-05-12
申请号：CN03149107.3
申请日：1998-11-25
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/09
CPC classification number: G11B7/0908 , G11B7/00718 , G11B7/094
Abstract: 聚焦位置粗探测部50和聚焦位置精密探测部60，根据来自凸纹沟纹检测部34的L/G切换信号LGS，一面区分光束光点位于凸纹光道还是位于沟纹光道，一面探测使由误码率计测部33计测的位误码率BER以及再生信号RF的包络和抖动变得更为良好的两个(凸纹用和沟纹用的)新的聚焦位置，并向聚焦误差检测部36输出两个用于将控制目标变更为该新的聚焦位置的控制信号(FBAL、FOFF)。
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公开(公告)号：CN1495730A
公开(公告)日：2004-05-12
申请号：CN03149106.5
申请日：1998-11-25
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/09
CPC classification number: G11B7/0908 , G11B7/00718 , G11B7/094
Abstract: 聚焦位置粗探测部50和聚焦位置精密探测部60，根据来自凸纹沟纹检测部34的L/G切换信号LGS，一面区分光束光点位于凸纹光道还是位于沟纹光道，一面探测使由误码率计测部33计测的位误码率BER以及再生信号RF的包络和抖动变得更为良好的两个(凸纹用和沟纹用的)新的聚焦位置，并向聚焦误差检测部36输出两个用于将控制目标变更为该新的聚焦位置的控制信号(FBAL、FOFF)。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1493075A
公开(公告)日：2004-04-28
申请号：CN02805401.6
申请日：2002-02-20
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B7/08511 , G11B2007/0013
Abstract: 一种光盘单元2001，包括：反射表面检测装置1010，用于检测一反射表面；焦点调整装置(1202、1003、1009、1008、1003、1012、1005和1204)，用于执行到该反射表面的焦点调整以使施加到该光盘2100的光束的焦点和该反射表面之间的距离在预定的误差限度内；移位装置1007，用于沿垂直于光盘的方向移动焦点的位置；和控制装置1006，用于控制该焦点调整装置和该移位装置。
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公开(公告)号：CN1183612A
公开(公告)日：1998-06-03
申请号：CN97122851.5
申请日：1997-10-16
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/00
CPC classification number: G11B19/12 , G11B7/00718 , G11B7/08505 , G11B7/0901
Abstract: 一种光学信息装置,将光束照射在信息媒体上执行至少再现和记录操作中的一种,包括:第一寻轨误差探测装置,用于探测第一区内光束和第一轨道间位置误差,第二寻轨误差探测装置,用于探测第二区内光束和第二轨道间位置误差;寻轨控制装置,用于对光束定位在预定轨道上进行寻轨控制;测定装置,用于确定光束被定位在第一区还是第二区内;切换装置,用于根据测定结果选择二探测装置的输出信号中的一个并将该信号送到寻轨控制装置。
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公开(公告)号：CN100483520C
公开(公告)日：2009-04-29
申请号：CN200580017413.X
申请日：2005-05-27
Applicant: 松下电器产业株式会社
CPC classification number: G11B7/0945 , G11B7/0908 , G11B7/0941 , G11B2007/0013
Abstract: 光盘装置(100)具备生成FE信号的FE生成器(20)、生成AS信号的AS生成器(21)、归一化运算器(22)、Fc滤波器(23)、选择器(24)、球面象差设定器(34)、FE振幅测定器(30)、Fc引入指示器(52)、引入后AS测定器(40)、增益运算器(32)，在聚焦引入前，求出FE信号的振幅，在聚焦引入后，求出AS信号的电平，调整聚焦增益。提供正确计算聚焦控制的增益的光盘装置。
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公开(公告)号：CN100354950C
公开(公告)日：2007-12-12
申请号：CN200510074017.2
申请日：1998-11-25
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/09
Abstract: 聚焦位置粗探测部(50)和聚焦位置精密探测部(60)，根据来自凸纹沟纹检测部(34)的L/G切换信号LGS，一面区分光束光点位于凸纹光道还是位于沟纹光道，一面探测使由误码率计测部(33)计测的位误码率BER以及再生信号RF的包络和抖动变得更为良好的两个(凸纹用和沟纹用的)新的聚焦位置，并向聚焦误差检测部(36)输出两个用于将控制目标变更为该新的聚焦位置的控制信号(FBAL、FOFF)。
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公开(公告)号：CN1324580C
公开(公告)日：2007-07-04
申请号：CN03143046.5
申请日：1998-11-25
Applicant: 松下电器产业株式会社
IPC: G11B7/09
CPC classification number: G11B7/0908 , G11B7/00718 , G11B7/094
Abstract: 聚焦位置粗探测部50和聚焦位置精密探测部60，根据来自凸纹沟纹检测部34的L/G切换信号LGS，一面区分光束光点位于凸纹光道还是位于沟纹光道，一面探测使由误码率计测部33计测的位误码率BER以及再生信号RF的包络和抖动变得更为良好的两个(凸纹用和沟纹用的)新的聚焦位置，并向聚焦误差检测部36输出两个用于将控制目标变更为该新的聚焦位置的控制信号(FBAL、FOFF)。
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