测量装置及荧光测量方法
    31.
    发明授权

    公开(公告)号:CN100498296C

    公开(公告)日:2009-06-10

    申请号:CN200380103385.4

    申请日:2003-11-13

    Inventor: 中岛真也

    Abstract: 所用的一种测量装置,包括:光源单元1,能够发射具有不同波长的光;光接收单元2,其输出一个电信号,与从与多种染料混合的样本6中发射出的透射光或辐射光的强度相一致;及计算部分3。所述计算部分3使用一预先算出的校正系数,计算出每种染料的透射光或辐射光的荧光强度。所述校正系数是基于所述光接收单元在所述光源单元用具有互不相同的波长的光,照射多个校正样本时所输出的一个电信号求得的,所述每个校正样本与所述多种染料中的一种混合,所述各个混合染料彼此各不相同。

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