一种复合绝缘材料老化状态检测方法

    公开(公告)号:CN105572102A

    公开(公告)日:2016-05-11

    申请号:CN201610029402.3

    申请日:2016-01-15

    CPC classification number: G01N21/718 G01J3/443 G01N21/952 H01B3/28 H01B3/46

    Abstract: 一种复合绝缘材料老化状态检测方法,包括以下步骤:S1、用脉冲激光束多次轰击待检测的复合绝缘材料表面上的选取点,产生等离子体,并测量每次轰击在复合绝缘材料上形成的轰击深度;S2、采集每次轰击时等离子体发射的光谱信息,由采集到的光谱信息提取复合绝缘材料的特定组成元素每次轰击时的光谱特性指标,其至少包括特征谱线的谱线强度特征;S3、确定特定组成元素的光谱特性指标随轰击深度的变化关系;S4、根据特定组成元素的光谱特性指标随轰击深度的变化关系,确定复合绝缘材料的老化状态信息,老化状态信息至少包括复合绝缘材料的老化深度信息。该方法可实现对复合材料老化状态快速、准确的检测,且避免以往所需的破坏性试验。

    介电梯度材料的制备方法及电子元器件的灌封方法

    公开(公告)号:CN110253801B

    公开(公告)日:2021-06-11

    申请号:CN201910515375.4

    申请日:2019-06-14

    Abstract: 一种介电梯度材料的制备方法,包括以下步骤:混合无机颗粒及液态有机物,得到一悬浊液,所述无机颗粒至少包含一种介电常数大于40的磁性材料;对所述悬浊液施加磁场,在所述磁场的作用下,部分所述无机颗粒受到的磁场力大于所述部分无机颗粒在所述悬浊液中受到的粘滞阻力,以使所述部分无机颗粒沿磁场方向呈链状排列;以及对施加所述磁场后的所述悬浊液进行固化处理,使所述悬浊液固化,得到所述介电梯度材料。本发明还提供一种电子元器件的灌封方法。本发明提供的制备方法,通过对悬浊液原位施加磁场,使悬浊液中的无机颗粒沿着磁场的方向呈链状排列,制备方法简单、可控且节省成本。

    介电梯度材料及其应用
    43.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110265176A

    公开(公告)日:2019-09-20

    申请号:CN201910515386.2

    申请日:2019-06-14

    Abstract: 一种介电梯度材料,包括基体材料及填料颗粒,所述填料颗粒分散于基体材料中,至少一种填料颗粒的介电常数大于40,其中,介电梯度材料包括第一区域、第二区域以及位于第一区域及第二区域之间的第三区域;填料颗粒在所述第一区域中朝向第二区域呈链状排列,填料颗粒在第二区域中呈无序分布,填料颗粒在第三区域中呈有序到无序的过渡分布。本发明还提供一种所述介电梯度材料的应用。本发明所提供的介电梯度材料中的填料颗粒在第一区域呈链状排列,在第二区域呈无序分布,在第三区域呈有序到无序的过渡状态,从而构建介电常数具有梯度的介电梯度材料;所述介电梯度材料具有梯度范围大、应用范围广以及性能优越等特点。

    介电梯度材料及其应用
    44.
    发明公开

    公开(公告)号:CN110229469A

    公开(公告)日:2019-09-13

    申请号:CN201910515372.0

    申请日:2019-06-14

    Abstract: 一种介电梯度材料包括基体材料及填料颗粒,填料颗粒分散于基体材料中,填料颗粒至少包含一种介电常数大于40的磁性材料;介电梯度材料包括第一区域、第二区域以及位于所述第一区域及第二区域之间的第三区域,填料颗粒在所述第一区域中呈链状排列,填料颗粒在第二区域中呈无序分布,填料颗粒在所述第一区域中朝向第二区域呈链状排列,填料颗粒在第二区域中呈无序分布,所述填料颗粒在第三区域中呈有序到无序的过渡分布。本发明还提供一种介电梯度材料的应用。本发明所提供的介电梯度材料中的填料颗粒在第一区域呈链状排列,在第二区域呈无序分布,在第三区域呈有序到无序的过渡状态,从而构建介电常数具有梯度的介电梯度材料。

    一种复合绝缘材料表面硬度测试方法

    公开(公告)号:CN106501237A

    公开(公告)日:2017-03-15

    申请号:CN201610930829.0

    申请日:2016-10-31

    CPC classification number: G01N21/718

    Abstract: 一种复合绝缘材料表面硬度测试方法,包括以下步骤:S1、准备已测得其表面硬度的复合绝缘材料样品;S2、使用激光诱导击穿光谱方法(LIBS),用脉冲激光光束照射所述复合绝缘材料样品的表面,捕捉该表面的激光等离子体光谱;S3、建立所述激光等离子体光谱中选定元素的离子线与原子线比值与表面硬度值的函数关系;S4、使用激光诱导击穿光谱方法,用脉冲激光光束照射待测复合绝缘材料的表面,捕捉该表面的激光等离子体光谱;S5、根据步骤S4得到激光等离子体光谱,基于离子线与原子线比值与表面硬度值的函数关系确定待测复合绝缘材料的表面硬度。利用本方法可以对复合绝缘材料进行远程、带电的现场测试,快速获得精确的复合绝缘材料表面硬度值。

    一种干式清除绝缘子老化RTV涂料的方法

    公开(公告)号:CN105251737B

    公开(公告)日:2017-03-08

    申请号:CN201510768064.0

    申请日:2015-11-11

    Abstract: 一种干式清除绝缘子老化RTV涂料的方法,包括以下步骤:(1)确定绝缘子的尺寸、形状和RTV涂层厚度、使用时间、以及RTV材料组成;(2)根据步骤(1)确定的参数,确定激光输出的清除功率密度阈值和损伤功率密度阈值,其中所述清除功率密度阈值为能够将待清除的RTV涂层清除的最小功率密度,所述损伤功率密度阈值为所述待清除的RTV涂层覆盖的绝缘子表面被激光辐射时能够承受的最大功率密度,超出该最大功率密度将损伤绝缘子表面;(3)按照步骤(2)确定的清除功率密度阈值和损伤功率密度阈值,调节激光器的功率设置,输出激光对绝缘子表面进行扫描。该方法可在不损坏绝缘子表面的前提下,高效便捷地清除绝缘子表面的老化RTV涂料。

    一种绝缘子RTV涂层厚度的测量方法

    公开(公告)号:CN105352443B

    公开(公告)日:2016-09-28

    申请号:CN201510733835.2

    申请日:2015-11-02

    Abstract: 本发明公开了一种绝缘子RTV涂层厚度的测量方法,包括如下步骤:S1、用设定的脉冲激光对RTV涂层进行轰击,记录所述RTV涂层被击穿时激光的轰击次数x;S2、根据f(x)=ax+b计算所述RTV涂层的厚度f(x);其中,参数a和b通过如下实验步骤确定:用所述设定的脉冲激光对所述RTV涂层进行轰击,记录击穿的RTV涂层的厚度与对应激光轰击的次数;拟合曲线f(x)=ax+b,得到所述参数a和b。不论绝缘子RTV涂层运行年限,只要在校核后通过测量激光的轰击次数就可以获得RTV涂层的厚度值,适宜于现场应用。

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