一种功率半导体器件的射线辐照试验装置

    公开(公告)号:CN221405931U

    公开(公告)日:2024-07-23

    申请号:CN202322988713.0

    申请日:2023-11-06

    Abstract: 本实用新型涉及功率半导体器件测试技术领域,具体涉及一种功率半导体器件的射线辐照试验装置。一种功率半导体器件的射线辐照试验装置,包括:对应设置的支撑前框架和支撑后框架,支撑前框架和支撑后框架间形成有第一容纳空间;夹板组件,设于第一容纳空间内,包括对应的第一夹板和第二夹板,第一夹板和第二夹板间形成有第二容纳空间,第二容纳空间内适于容纳受试器件,第一夹板与支撑前框架、支撑后框架滑动连接,和/或第二夹板与支撑前框架、支撑后框架滑动连接,以使夹板组件根据受试器件大小调节第一夹板和第二夹板间距以固定受试器件。本实用新型解决功率器件试验中,将器件或其组成芯片悬挂或采用简易结构件临时支撑,稳定性不足问题。

    一种特高压换流阀饱和电抗器振动测试系统

    公开(公告)号:CN217901011U

    公开(公告)日:2022-11-25

    申请号:CN202221472292.5

    申请日:2022-06-13

    Abstract: 本实用新型公开了一种特高压换流阀饱和电抗器振动测试系统,为了研究饱和电抗器电气激励与振动特征之间的关系,采用电压测量装置、电流测量装置、振动传感器、温度传感器、冷却装置对进行饱和电抗器直接测量,实现了饱和电抗器的振动测试需求,并通过隔离测量装置将所有通道的不同物理量测试结果汇总至地电位端并上传至上位机,实现不同物理量的同步采集,可以支撑饱和电抗器振动影响因素及影响关系研究工作的开展,进而支撑基于振动监测的饱和电抗器其内部材料结构状态评估和运维决策技术研究,指导饱和电抗器设计改进工作。

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