试料分析方法和试料分析装置

    公开(公告)号:CN100504371C

    公开(公告)日:2009-06-24

    申请号:CN03817817.6

    申请日:2003-07-23

    CPC classification number: G01N27/3274

    Abstract: 本发明涉及进行试料分析的技术。本发明提供的一种试料分析装置(1),它具有:将电压加在含有试料的反应场上的电压施加部件(12);测量将电压加在所述反应场上时的响应用的响应测量部件(13);用于选择测量进行试料分析所必要的计算时利用的第一响应的第一电压施加状态或测量判断是否将目标量的试料供给所述反应场时利用的第二响应的第二电压施加状态的选择部件(11);根据所述第一响应,执行进行试料分析所必需的计算的计算部件(17);根据所述第二响应,判断是否将目标量的试料供给所述反应场的判断部件(17);和对所述选择部件(11),在选择所述第一电压施加状态后,选择所述第二电压施加状态的控制部件(15)。

Patent Agency Ranking