一种低温下研究光致分离的装置

    公开(公告)号:CN107393805A

    公开(公告)日:2017-11-24

    申请号:CN201710683995.X

    申请日:2017-08-02

    IPC分类号: H01J49/02 H01J49/06 H01J49/40

    摘要: 本发明涉及光电子及分子反应动力学领域,一种低温下研究光致分离的装置,离子源采用低重复率的铯溅射离子源,聚焦电极组和质量选择电极组均为环形电极,聚焦电极组中仅有电极I中心的孔具有金属网,质量选择电极组的五个电极中心的孔均具有金属网;加速器包括电极、离子反射器、抽取器和接地电极等,且有金属网附着;聚焦电极组和质量选择电极组外部都具有单独的低温冷屏;质量选择电极组上施加一电压;通过调节施加在聚焦电极组和质量选择电极组上电压的比例,能够达到能量聚焦条件,改善质谱分辨率;激光入射与离子运动方向正交,离子振荡通过粒子质量选择器达到集束效果,并被锁相于一个锁模激光器,能够保证离子束和激光脉冲瞬时重合交。

    基质辅助激光解析‑串联飞行时间质谱仪靶板

    公开(公告)号:CN107180739A

    公开(公告)日:2017-09-19

    申请号:CN201710371403.0

    申请日:2017-05-23

    IPC分类号: H01J49/02 H01J49/40

    CPC分类号: H01J49/40 H01J49/02

    摘要: 一种基质辅助激光解析‑串联飞行时间质谱仪靶板,其中:靶板的主体由掺杂石墨烯的材料制备;靶板的上表面具有若干个凹槽,用于盛放需要通过基质辅助激光解析‑串联飞行时间质谱仪进行检测的待测样品。其中,掺杂石墨烯的材料中,石墨烯的质量分数为0.1~0.002。由于靶板的主体材质为掺杂石墨烯的材料,因此靶板本身就能够高效地吸收激光能量,并将其传递给待测样品,从而促进待测样品的解吸与电离,因此使用本发明的基质辅助激光解析‑串联飞行时间质谱仪靶板,在样品配置时不需要另外添加基质,就可以实现高灵敏度的质谱检测,从而简化了操作步骤、节省了样品准备时间且大大提高了检测效率。

    高离子引出效率的离子阱飞行时间质谱仪及其实现方法

    公开(公告)号:CN106711009A

    公开(公告)日:2017-05-24

    申请号:CN201710098583.X

    申请日:2017-02-23

    IPC分类号: H01J49/02 H01J49/40

    摘要: 本发明提供一种高离子引出效率的离子阱飞行时间质谱仪及其实现方法,其中,所述质谱仪包括:离子阱以及飞行时间分析器;所述离子阱包括:第一离子门、中间电极以及第二离子门,所述中间电极位于所述第一离子门和第二离子门之间,所述第一离子门形成离子入口,其上施加有直流偏置电压,所述第二离子门形成离子出口,其上施加有引出脉冲电压,所述飞行时间分析器设置于所述离子阱的下游,并接收自所述第二离子门中先后引出的离子段。本发明通过设置不同的推斥脉冲延时时间,可以扩大检测离子的质量范围。此外,由于不需要将离子重新填充离子阱及重复所有操作,可以有效的提高离子阱与飞行时间质量分析器耦合后的占空比。

    一种离子源
    47.
    发明公开

    公开(公告)号:CN106653556A

    公开(公告)日:2017-05-10

    申请号:CN201611011842.2

    申请日:2016-11-17

    IPC分类号: H01J49/10 H01J49/02

    CPC分类号: H01J49/10 H01J49/02

    摘要: 本发明公开了一种离子源,包括支架组件、栅网组件和放电组件,所述支架组件的内部设置有一空腔,所述栅网组件安装于所述支架组件的一端,所述支架组件的另一端开口,所述放电组件滑动安装于所述支架组件的内部空腔内并与支架组件的开口端紧固相连。本发明的离子源具有结构简单、拆装方便以及检修效率高等优点。

    用于确定离子的迁移率的方法和装置

    公开(公告)号:CN104024844B

    公开(公告)日:2016-08-31

    申请号:CN201280064715.2

    申请日:2012-08-13

    IPC分类号: G01N27/62 G06F17/00 H01J49/00

    摘要: 本发明涉及一种用于确定离子迁移率的方法和装置(1)。此方法包括如下步骤:使用受控于调制函数的离子门(2)调制离子束(6),从而生成调制离子束;导引调制离子束穿过漂移区域(3);在调制离子束已通过漂移区域(3)后测量调制离子束的信号;以及计算调制函数和信号的相关性以确定离子的迁移率。该装置(1)包括离子门(2);可导引调制离子束穿过其中的漂移区域(3);在调制离子束已经通过漂移区域(3)后可测量调制离子束信号的检测器(4);以及可计算调制函数和信号的相关性以确定离子的迁移率的计算单元(5)。调制函数的自相关性是双值函数。

    用于质谱的高分辨成像的解吸电离质谱接口

    公开(公告)号:CN105632875A

    公开(公告)日:2016-06-01

    申请号:CN201610056147.1

    申请日:2016-01-27

    IPC分类号: H01J49/26 H01J49/02

    CPC分类号: H01J49/26 H01J49/02

    摘要: 本发明公开了一种用于质谱的高分辨成像的解吸电离质谱接口,包括本体,本体具有一漏斗状的采样端口,本体内具有离子源通道和离子传输通道,离子源通道的第一端用于与离子源连接,离子传输通道的第一端用于与质谱连接,离子源通道的第二端和离子传输通道的第二端交汇于采样端口。本发明离子源通道的第二端和离子传输通道的第二端交汇于采样端口,这种结构形式,使解吸电离质谱由敞开式质谱转为半封闭式质谱,减少了对周围样品的污染,能够有效提高成像分辨率和结果准确性。

    一种基于导电纳米材料的电喷雾质谱装置及其实现电喷雾质谱分析的方法

    公开(公告)号:CN105575755A

    公开(公告)日:2016-05-11

    申请号:CN201610125529.5

    申请日:2016-03-04

    发明人: 周燕 夏兵 高元吉

    IPC分类号: H01J49/26 H01J49/34 H01J49/02

    CPC分类号: H01J49/26 H01J49/02 H01J49/34

    摘要: 本发明涉及一种基于导电纳米材料的电喷雾质谱装置,包括样品引入通道和电喷雾发生基底,电喷雾发生基底包括质谱高压电源和电喷雾喷头,样品引入通道与电喷雾喷头相接触,电喷雾喷头采用导电纳米材料制成,质谱高压电源通过高压线与电喷雾喷头连接,电喷雾喷头的前端为锐角的尖端形结构,电喷雾喷头的前端朝向质谱入口通道,还公开了利用该装置实现电喷雾质谱分析的方法。本发明的优点在于:不仅满足质谱分析溶解在电喷雾友好型溶剂中化合物的分析,还能满足质谱分析溶解在电喷雾友好和不友好型溶剂中化合物的分析要求,如低极性溶剂,且方法简单、成本低廉、需调节参数少、离子化效率高、无需引入额外辅助溶剂、无额外溶剂的基质干扰。