公开(公告)号：CN101977860A

公开(公告)日：2011-02-16

申请号：CN200980109840.9

申请日：2009-03-18

Applicant: HOYA株式会社

Inventor： 蜂谷洋一 ,  越阪部基延

IPC: C03C3/083 ,  C03C3/085 ,  C03C3/087 ,  C03C3/093 ,  C03C3/095 ,  C03C3/097 ,  G11B5/73 ,  G11B5/84

CPC classification number: G11B5/7315 ,  C03C3/083 ,  C03C3/085 ,  C03C3/087 ,  C03C3/095 ,  C03C3/097 ,  G11B5/8404 ,  Y10T428/315

Abstract: 本发明提供能够实现化学耐久性优异、具有极平滑表面的磁记录介质基板的磁记录介质基板用玻璃、由上述玻璃构成的磁记录介质基板、具备上述基板的磁记录介质和它们的制造方法。磁记录介质基板用玻璃为如下玻璃I、玻璃II以及玻璃III。所述玻璃I以质量％表示，含有Si 20～40％、Al 0.1～10％、Li 0.1～5％、Na 0.1～10％、K 0～5％(其中，Li、Na和K的总含量为15％以下)、Sn 0.005～0.6％、Ce 0～1.2％，且Sb含量为0～0.1％、不含有As和F；所述玻璃II以氧化物为基准进行换算，以摩尔％表示，含有SiO2 60～75％、Al2O3 1～15％、Li2O 0.1～20％、Na2O 0.1～15％、K2O 0～5％(其中，Li2O、Na2O和K2O的总含量为25％以下)，基于玻璃成分总量，进一步添加有0.01～0.7质量％的Sn氧化物、0～1.4质量％的Ce氧化物，并且Sb氧化物的含量为0～0.1质量％，且不含有As和F；所述玻璃III以氧化物为基准进行换算，以摩尔％表示，含有SiO2 60～75％、Al2O3 1～15％、Li2O 0.1～20％、Na2O 0.1～15％、K2O 0～5％(其中，Li2O、Na2O和K2O的总含量为25％以下)，所述玻璃III还含有Sn氧化物和Ce氧化物，基于玻璃成分总量，Sn氧化物和Ce氧化物的总含量为0.1～3.5质量％，Sn氧化物的含量相对于Sn氧化物和Ce氧化物的总含量之比(Sn氧化物的含量/(Sn氧化物的含量+Ce氧化物的含量))为0.01～0.99，Sb氧化物的含量为0～0.1％，并且不含有As和F。