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公开(公告)号：CN112362683A
公开(公告)日：2021-02-12
申请号：CN202011248889.7
申请日：2020-11-10
Abstract: 本发明公开一种金刚石中自旋缺陷浓度的精确标定方法，该方法将含有目标缺陷的微粒悬浮在真空腔室中；然后将目标缺陷自旋极化，使宏观微粒表现出磁矩；然后测量微粒在磁场中的进动角加速度，得到总力矩，进而推算有效自旋个数及对应的自旋缺陷浓度。本发明的方法可以实现微粒中缺陷浓度精确测量，并且本发明所使用到的方法可以拓展应用与宏观物体与自旋量子态耦合等复合量子体系研究。
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