阵列基板的检查方法、显示装置以及检查治具

    公开(公告)号:CN113948023A

    公开(公告)日:2022-01-18

    申请号:CN202110796413.5

    申请日:2021-07-14

    Abstract: 本申请提供阵列基板的检查方法、显示装置以及检查治具,其能够良好地检查未安装发光元件的阵列基板的特性。阵列基板的检查方法具有如下步骤:准备未安装多个发光元件的阵列基板;使用包括第一连接端子、第二连接端子和设于第一连接端子与第二连接端子之间的检查用电容的检查治具,将第一连接端子与安装电极连接,并将第二连接端子与像素阴极电极连接;以及基于来自控制阵列基板的检查的检查用控制电路的控制信号,向晶体管供给检查信号,并对根据检查信号从晶体管输出的输出信号进行检测。

    显示装置
    64.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113646825A

    公开(公告)日:2021-11-12

    申请号:CN202080025581.8

    申请日:2020-03-26

    Abstract: 显示装置具有:基板;多个第一像素和第二像素,设置于基板;多个无机发光元件,设置于多个第一像素和第二像素的每一个;多个信号线,向第一像素和第二像素分别供给信号;以及多个电源线,向第一像素和第二像素分别供给电源电位;在第一像素中,多个信号线中的至少一个以上设置于与电源线不同的层中,在第二像素中,多个信号线和电源线设置于同一层中。

    带检测装置的显示设备
    66.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112534384A

    公开(公告)日:2021-03-19

    申请号:CN201980049898.2

    申请日:2019-07-01

    Abstract: 带检测装置的显示设备具有:基板,具有第一主表面和在与第一主表面相反的一侧的第二主表面;多个无机发光元件,在基板的显示区域中设置在第一主表面侧;第一电极,隔着无机发光元件与基板的第一主表面对置;第一平坦化层,设置在基板与第一电极之间,且至少覆盖无机发光元件的侧面;以及第二电极,与基板的第二主表面对置,且输出与第二电极与第一电极之间的距离的变化相应的信号。

    显示装置
    67.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112396977A

    公开(公告)日:2021-02-23

    申请号:CN202010825927.4

    申请日:2020-08-17

    Abstract: 本发明提供能够实现恰当的显示特性的显示装置。显示装置具有基板、在基板上设置的多个像素和在多个像素的每个像素中设置的多个发光元件,多个发光元件包含射出红色的光的多个第1发光元件、射出绿色的光的多个第2发光元件和蓝色的光射出的多个第3发光元件,多个第1发光元件在基板上沿第1方向排列并沿与第1方向交叉的第2方向排列,在沿第1方向观察一个像素时,第3发光元件具有与第1发光元件及第2发光元件不重叠的部分,在沿第2方向观察一个像素时,第3发光元件具有与第1发光元件及第2发光元件不重叠的部分。

    显示装置的修复系统
    68.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112309269A

    公开(公告)日:2021-02-02

    申请号:CN202010601507.8

    申请日:2020-06-28

    Abstract: 本发明提供能够减少无机发光元件的连接不良的显示装置的修复系统。显示装置的修复系统为具有阵列基板、和在阵列基板排列的多个无机发光元件的系统,该显示装置的修复系统具备:隔着多个无机发光元件与阵列基板相对置的检查用基板;检查用电极,其设在检查用基板的与阵列基板相对置的面,与多个无机发光元件电连接;加压装置,其对检查用基板朝向多个无机发光元件进行加压;以及判断多个无机发光元件各自的点亮状态的控制电路。

    显示装置
    69.
    发明公开

    公开(公告)号:CN112204761A

    公开(公告)日:2021-01-08

    申请号:CN201980035838.5

    申请日:2019-04-22

    Abstract: 一种显示装置,具有:基板;多个像素,排列于基板并显示不同的颜色;无机发光元件,设置于多个像素中的各个像素;平坦化膜,至少包围无机发光元件的侧面;以及无机膜,覆盖平坦化膜及无机发光元件。并且,无机发光元件的上表面从平坦化膜露出,并与无机膜接触。或者,平坦化膜覆盖无机发光元件的上表面而设置。

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