公开(公告)号：CN1972591B

公开(公告)日：2010-08-18

申请号：CN200610146435.2

申请日：2006-11-14

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 森弘之 ,  杉原央视

IPC: H05K13/08

CPC classification number: G01R31/2806

Abstract: 提供一种不良分析部位指定装置，即使不是熟练者，也可指定可有效地改善质量的优先度高的不良分析部位。在不良分析部位指定装置中，首先由用户接收进行不良分析的调查对象批量的指定(S11)，调查对象批量被指定后，从外部的检查信息存储装置接收该调查对象批量的检查结果数据，制作指定不良的内容的各个不良模式的帕莱托图(S12)，选择频数最多的不良模式(S13)。在该不良模式内对相同异常发生的次数进行计数(S14)，判断在相同工序中相同异常现象是否发生3次以上(S15)，若发生(S15中为是)则选择并提取相同现象发生的任意的不良部位(S16)。在S15中若没有相同异常现象发生3次以上(S15中为否)，则确认该处理至帕莱托图的上位70％为止的不良模式(S17、S18)。

公开(公告)号：CN100435052C

公开(公告)日：2008-11-19

申请号：CN200610006462.X

申请日：2006-01-20

Applicant: 欧姆龙株式会社

Inventor： 森弘之

IPC: G05B19/04

CPC classification number: Y02P90/14

Abstract: 本发明要解决的课题是在对象物的处理工序中，高效地降低多种类且大量的异常。其中，工序管理装置(103)包括：工序异常检测部(112)、原因信息收集部(113)、以及频率数据制作部(114)；工序异常检测部(112)是对在工序中发生的、包括种类互不相同的各异常的多个异常，检测出异常的种类的块；原因信息收集部(113)是参照将表示上述异常种类的异常信息和表示该异常的原因的异常原因信息建立了对应的异常/原因对应表(122)，对上述多个异常分别读出与表示上述检测出的异常的种类的异常信息建立了对应的异常原因信息的块；频率数据制作部(114)是计算原因信息收集部(113)对上述异常原因信息的各个种类的读出频率的块。