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    锥形束计算机断层成像
    61.
    发明公开
    锥形束计算机断层成像 失效

    公开(公告)号：CN1705455A

    公开(公告)日：2005-12-07

    申请号：CN200380101759.9

    申请日：2003-10-08

    申请人： 皇家飞利浦电子股份有限公司

    发明人： D·J·休斯彻尔 ,  K·M·布朗 ,  P·J·克林格

    IPC分类号： A61B6/00 ,  A61B6/03

    CPC分类号： A61B6/032 ,  A61B6/027 ,  A61B6/4085 ,  A61B6/541 ,  A61B6/583 ,  G06T11/005 ,  G06T2211/412 ,  Y10S378/901

    摘要： 一种用于重构锥形束或楔形束计算机断层投影数据的图像重构方法，包括对投影数据进行重组(50)，以将具有相同角度方向(θ)的投影数据关联，至少根据探测器孔径(20)内其角度方向(θ)和其位置其中之一加权(60)投影数据；和将加权的投影数据(64)进行重构(66)，以形成容积图像表示(70)。在一个优选实施例中，加权(60)包括将与所选择的图像元件关联的重组投影数据(52)分布(56)到多个并行处理管线(60m)中所选择的一个或多个，其中一个图像元件(a)具有相同的角度方向(θ)，和(b)通过整数倍的180度角度划分；并且组合(62)所选择的一个或多个并行处理管线(60m)的输出，以产生加权的投影数据(64)。

    多层面X线CT装置
    62.
    发明公开
    多层面X线CT装置 无效

    公开(公告)号：CN1658796A

    公开(公告)日：2005-08-24

    申请号：CN03812761.X

    申请日：2003-06-03

    申请人： 株式会社日立医药

    发明人： 宫崎靖 ,  后藤大雅 ,  国分博人

    IPC分类号： A61B6/03

    CPC分类号： A61B6/4014 ,  A61B5/0456 ,  A61B6/027 ,  A61B6/032 ,  A61B6/4085 ,  A61B6/4488 ,  A61B6/541

    摘要： 一种多层面X线CT装置，在设置于扫描部(12)上的旋转盘(49)上，以120°的旋转相位差搭载3对X线管(21A～21C)和单一或多列型检测器(31A～31C)，把使这3对在被检体(16)的旋转轴方向上错开的错开量(offset)ΔZ、对于单一或多列型检测器(31A～31C)的列(断层面)的厚度d、偏移系数N设定为ΔZ＝d×N，另外，通过在3对X线管(21A～21C)上配置断层面准直仪(48A～48C)并相对于被检体(16)旋转，能以高时间分辨率、动作假影少、和高空间分辨率，来提供高质量的断层摄影像。

    X射线CT设备
    64.
    发明公开
    X射线CT设备 无效

    公开(公告)号：CN1642483A

    公开(公告)日：2005-07-20

    申请号：CN03805820.0

    申请日：2003-04-03

    申请人： 株式会社日立医药

    发明人： 宫野严

    IPC分类号： A61B6/14

    CPC分类号： A61B6/0478 ,  A61B6/032 ,  A61B6/14 ,  A61B6/4085 ,  A61B6/548

    摘要： 本发明的X射线CT设备通过对包含齿弓在内的整个颌部以及牙齿及颌关节周围等局部位置照射X射线锥形束，可大幅度缩短获得表示齿系、齿茎及其周边的织织与骨骼状态的全景图像时处理图像所需的时间，摄影装置由倒L形的固定台架、悬挂在其端部的旋转臂、彼此相向固定在旋转臂两端的X射线产生装置、二维X射线检测装置构成。旋转臂通过双重旋转系统以可水平旋转的状态支持在固定台架上。让被检体坐在可上下移动的椅子上，使受检部位与摄影装置的摄影中心的高度一致。被检体的头部用可微调的头枕装置固定。拍摄时通过使两个旋转中心间的距离与被检体的齿弓大体一致来进行。

    X射线散射校正
    65.
    发明公开
    X射线散射校正 失效 许可

    公开(公告)号：CN1635850A

    公开(公告)日：2005-07-06

    申请号：CN03804321.1

    申请日：2003-02-21

    申请人： 罗切斯特大学

    发明人： 劳拉·宁

    IPC分类号： A61B6/03

    CPC分类号： A61B6/483 ,  A61B6/027 ,  A61B6/032 ,  A61B6/4035 ,  A61B6/4085 ,  A61B6/4291 ,  A61B6/508 ,  A61B6/5235 ,  A61B6/5282 ,  A61B6/583 ,  G06T11/005 ,  Y10S378/901

    摘要： 在锥形束体积计算断层摄影或其他类似成像技术中，通过使用一个束补偿滤波器(蝴蝶结滤波器)(610)，空气隙(G)技术，一个反散射栅格(612)降低x射线散射效应，通过使用一个束截捕器阵列(beam stop array)(602)联系插值卷积运算来校正x射线散射效应。在有束截捕器阵列(602)时拍摄图像，在没有束截捕器阵列(602)时拍摄大量的图像。对有束截捕器阵列(602)时拍摄的图像空间插值导出散射信息，然后对没有束截捕器阵列(602)时拍摄的图像进行角插值以提供尽量多的散射信息。通过三次样条函数插值或其他任何技术或低通滤波运算(以给定的卷积核进行卷积运算)进行插值。从相对应的没有束截捕器阵列(602)时拍摄的图像中每一个减去每一个散射图像，从而提供了一个散射－校正图像序列。

    射线照相设备
    66.
    发明公开
    射线照相设备 有权

    公开(公告)号：CN1628610A

    公开(公告)日：2005-06-22

    申请号：CN200410101144.2

    申请日：2004-12-16

    申请人： 株式会社岛津制作所

    发明人： 森田尚孝

    IPC分类号： A61B6/02 ,  G03B42/02

    CPC分类号： A61B6/032 ,  A61B6/4085 ,  A61B6/4233 ,  A61B6/4405 ,  A61B6/4441 ,  A61B6/587 ,  G06T11/005 ,  Y10S378/901

    摘要： 用于处理层析体图像数据的像素数据的重构处理使用简明的重构算法，所述重构算法基于X射线发射轴的轴线总是存在于与X射线管和FPD的旋转轴正交的平面上。在重构处理时，将校正参数应用于所述重构算法，用于校正X射线管的旋转轴和X射线发射轴之间出现的机械位移。因此，通过针对重构算法设置校正参数的简单数据处理，可以避免由于机械位移所引起的误差，而不会削弱在重构算法上的数据处理负载的减轻程度。

    计算机层析X射线摄影机
    69.
    发明公开
    计算机层析X射线摄影机 失效

    公开(公告)号：CN1171922A

    公开(公告)日：1998-02-04

    申请号：CN97105493.2

    申请日：1997-06-03

    申请人： 西门子公司

    发明人： 罗尔夫·赫普克

    IPC分类号： A61B6/02

    CPC分类号： A61B6/032 ,  A61B6/4085 ,  A61B6/5205 ,  G01T1/2018

    摘要： 一种计算机层析X射线摄影机具有多个平行的探测器行,为实现有其简单结构情况下可灵活选择所需探测的层面,该探测器由一列探测器模块(10)构成。每个探测器模块(10)由多个平行的分模块(11,12)组成,而每个分模块(11,12)由一列探测器元件(11a等,12a等)构成,这些探测器元件通过切割模块(10)构成。每个探测器元件(11a等,12a等)最好在一个陶瓷制的闪烁器和后接的光电探测器的基础上构成。

    计算机断层图像的散射校正方法以及装置
    70.
    发明公开
    计算机断层图像的散射校正方法以及装置 失效

    公开(公告)号：CN108903964A

    公开(公告)日：2018-11-30

    申请号：CN201810743392.9

    申请日：2018-07-09

    申请人： 广州华端科技有限公司

    发明人： 陈宇思 ,  齐宏亮 ,  吴书裕 ,  李翰威

    IPC分类号： A61B6/03

    CPC分类号： A61B6/032 ,  A61B6/4085 ,  A61B6/5282

    摘要： 本申请涉及一种计算机断层图像的散射校正方法、系统、计算机设备和存储介质。所述方法中，对于每一张标准投影图像可以利用其中金属球投影位置的散射数据估算其他位置的散射数据，从而获得该标准投影图像上所有位置的散射数据，同时利用该标准投影图像的前一张标准投影图像以及后一张标准投影图像的图像数据估算金属球投影位置的目标物体投影数据，从而获得该标准投影图像上所有位置的目标物体投影数据，实现从总的射线量中减去散射射线的量以达到散射校正的目的，其中散射射线量的计算过程简单，计算量小，计算速度较快，且散射估计精准，能够广泛应用于临床中，实现快速、准确的散射校正，提高散射校正效率。