一种数据分析方法、装置、电子设备以及存储介质

    公开(公告)号:CN112954060B

    公开(公告)日:2023-03-28

    申请号:CN202110191935.2

    申请日:2021-02-19

    Abstract: 本申请实施例公开了一种数据分析方法、装置、电子设备以及存储介质,该方法包括:获取待检测的第一任务链和第二任务链;基于第一任务链的第一数据流网络,确定第一任务链的循环冗余校验码CRC1;基于第二任务链的第二数据流网络,确定第二任务链的CRC2;并在CRC1与CRC2一致的情况下,对第一数据流网络和第二数据流网络中存在的数据依赖关系进行分析,确定第一任务链与第二任务链的逻辑功能是否一致。这样,以修改前后的任务链作为整体分别计算CRC1和CRC2,并在CRC1和CRC2一致时,通过对数据流网络中存在的数据依赖关系进行分析,可以确定修改前后任务链的逻辑功能是否一致,从而解决了相关技术中无法从宏观层面分析任务链的逻辑功能是否一致的技术问题。

    模块化多电平换流器子模块主动击穿旁路保护电路和方法

    公开(公告)号:CN115377944A

    公开(公告)日:2022-11-22

    申请号:CN202211079561.6

    申请日:2022-09-05

    Abstract: 本申请提供一种模块化多电平换流器子模块主动击穿旁路保护电路和方法。主动击穿旁路模块包括控制单元、取能单元和击穿触发单元,所述控制单元包括电连接的电压采样电路和旁路使能判断电路,所述旁路使能判断电路与所述击穿触发单元连接,其中:所述取能单元用于从直流电容取能,给所述控制单元和所述击穿触发单元供电;所述电压采样电路用于获取所述直流电容的电压,传递给所述旁路使能判断电路;所述旁路使能判断电路用于判断控制板卡是否故障;在所述控制板卡故障的情况下,根据所述直流电容的电压输出控制信号,控制所述击穿触发单元输出击穿脉冲至功率半导体单元,实现子模块击穿旁路保护。

    一种基于多任务融合的模型边缘端部署方法

    公开(公告)号:CN114610482A

    公开(公告)日:2022-06-10

    申请号:CN202210184742.9

    申请日:2022-02-25

    Abstract: 本发明公开一种基于多任务融合的模型边缘端部署方法,采集多任务场景下的图像样本,建立训练样本库;使用轻量化网络训练混合样本库,得到一阶段混合目标检测模型文件;根据多任务场景下的检测目标的特点,对每个需要进行二阶段处理的图像样本进行二阶段的标注,设计该特定任务下的轻量级网络并进行训练,得到若干个二阶段轻量级处理模型文件;以待检测图像为输入,得到其中多任务目标的矩形关键区域的分类信息和位置信息;以每一个矩形关键区域的信息为输入,得到多任务混合应用场景下的结果输出。本发明方法将多任务的混合检测场景融合到一套应用流程中,建立了端到端的任务实现方式,能提升边缘终端中多任务的执行效率,有效改善用户的使用体验。

    一种IGBT剩余使用寿命预测方法
    80.
    发明公开

    公开(公告)号:CN114329876A

    公开(公告)日:2022-04-12

    申请号:CN202011057287.3

    申请日:2020-09-30

    Abstract: 本发明提出一种IGBT剩余使用寿命预测方法包括:步骤1:构建融合型老化评价指标V’(VCE(on),Tj)。步骤2:根据加速老化试验得到的VCE(on)和Tj老化曲线提取出融合型老化评价指标V’(VCE(on),Tj)的老化曲线,并对V’(VCE(on),Tj)数据进行预处理。步骤3:将预处理后的数据建立两段式回归模型,完成参数估计,并构建以V’(VCE(on),Tj)作为特征量的粒子滤波的观测方程和状态转移方程。步骤4:利用粒子滤波算法在状态空间中生成粒子集并预测下一周期的融合型老化评价指标值。步骤5:预测IGBT模块的剩余使用寿命。本发明考虑实际工况和IGBT模块个体差异等缺点,构建了融合VCE(on)与Tj的新型老化评价指标,解决了现有的IGBT的寿命预测方法针对单一参数的状态监测,提高了寿命预测的精度。

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