手持电子装置及其控制方法

    公开(公告)号:CN112985326B

    公开(公告)日:2023-08-15

    申请号:CN201911283539.1

    申请日:2019-12-13

    发明人: 廖期异

    摘要: 一种手持电子装置包括:机壳,具有第一及第二表面,第一表面具有第一及第二边缘,第二表面具有第三及第四边缘;加速度计,输出加速度感测信号;第一光传感器和第一测距仪,位于第一边缘处,输出第一光感测信号和第一距离信号;第二光传感器和第二测距仪,位于第二边缘处,输出第二光感测信号和第二距离信号;第三光传感器和第三测距仪,位于第三边缘处,输出第三光感测信号和第三距离信号;第四光传感器和第四测距仪,位于第四边缘处,输出第四光感测信号和第四距离信号;多个功能元件;处理器,判断手持电子装置的方位和当前使用面,控制位于当前使用面的功能元件作动。本发明还提供一种手持电子装置的控制方法。

    一种激光功率测量装置及其测量方法

    公开(公告)号:CN116499586A

    公开(公告)日:2023-07-28

    申请号:CN202310771182.1

    申请日:2023-06-28

    IPC分类号: G01J1/44 G01J1/04 G01M11/02

    摘要: 本发明公开了一种激光功率测量装置及其测量方法,属于激光功率测量技术领域,所述装置包括旋盘机构、传动机构、测量机构和光折射棱镜,旋盘机构包括旋盘底座、大旋盘和多个小旋盘,每个小旋盘上至少放置一个待测激光器,测量机构包括碗性封装光电二极管、光电二极管信号采集板和单片机。本发明使得区间时间内测试数量更多、测试速度更快、测试操作更自动化,相较于传统的传动带测试方法,抖动小、传动更精确;本发明基于碗性封装光电二极管,可以实现不同波长、不同距离的激光功率值测试,结构简单、稳定性高。

    电磁波检测装置以及信息获取系统

    公开(公告)号:CN111954842B

    公开(公告)日:2023-07-21

    申请号:CN201980025227.2

    申请日:2019-04-17

    摘要: 电磁波检测装置具有:第一行进部,具有基准面和多个像素,使入射至基准面的电磁波针对每个像素向特定的方向行进;检测部,检测入射至检测面的电磁波;以及第二行进部,具有与基准面对置的第一面、与检测面对置的第二面、以及与第一面和第二面交叉的第三面。第三面使向第一方向行进的电磁波向第二方向行进。第一面使向第二方向行进的电磁波入射至基准面,使从基准面再入射的电磁波向第三方向行进。第三面使向第三方向行进的电磁波向第四方向行进。第二面将向第四方向行进的电磁波向检测面射出。

    一种日盲紫外波段电子荧光激励高灵敏探测器及其应用

    公开(公告)号:CN116429253A

    公开(公告)日:2023-07-14

    申请号:CN202310561404.7

    申请日:2023-05-18

    摘要: 本发明公开了一种日盲紫外波段电子荧光激励高灵敏探测器,包括真空室、纳尖组合、微通道板、镀铝荧光屏、光纤光锥和光敏元组件,所述纳尖组合、微通道板和镀铝荧光屏在气压为10‑6mBar~9×10‑6mBar的真空环境中,紫外入射窗、纳尖组合、微通道板、镀铝荧光屏和可见光输出窗依次布置;纳尖组合包括基片以及纳尖阵列,所述纳尖阵列包括呈阵列分布的多个纳尖结构;每个纳尖结构的尖端均指向微通道板;光纤光锥设置于镀铝荧光屏和光敏元组件之间,光纤光锥的一端与镀铝荧光屏连接而另一端与光敏元安装板连接。本发明可形成倍增的电子。这些加速后的电子激励镀铝荧光屏产生较强的可见光,从而实现紫外波段转换的高灵敏探测。

    基于反射的激光光束检测系统及其方法

    公开(公告)号:CN116295815A

    公开(公告)日:2023-06-23

    申请号:CN202310086054.3

    申请日:2023-02-09

    IPC分类号: G01J1/02 G01J1/04

    摘要: 本发明公开了一种基于反射的激光光束检测系统及方法,包括两个反射棱镜,反射棱镜背面为锥棱镜,正面为平面镜。两个反射棱镜的平面镜相对而放,平面镜接触光的部分是相互平行的,本发明利用两个反射棱镜面相对而放,平面镜接触光的部分是相互平行的,根据激光功率的不同,相对移动两个镜片的相对位置,保证入射光束与出射光束均是不经过透射的方式传播出去的,并且根据功率的高低决定光束的折转次数,相对调节两片反射棱镜的相对距离及调节两片镜片的相对水平位置的角度,目的就是实现入射光斑与出射光斑的位置不变,便于使用,实现无论是正入射还是斜入射都可以将透射的光斑在不同的棱的位置将光斑裂变,降低透射的非使用的每束光的能量。

    一种窄带相位调制激光光谱展宽状态检测装置及检测方法

    公开(公告)号:CN113654654B

    公开(公告)日:2023-06-20

    申请号:CN202110928579.8

    申请日:2021-08-13

    IPC分类号: G01J1/04 G01J1/42

    摘要: 本发明公开了一种窄带相位调制激光光谱展宽状态检测装置及检测方法,所述装置包括顺序连接的保偏器件第一光纤耦合器1、相位调制器、第二光纤耦合器2、第三光纤耦合器3、高速光电探测器、高通滤波器、功率探测器和比较器,其中单频激光注入进第一光纤耦合器1,射频信号注入相位调制器,高速光电探测器接收第三光纤耦合器3的激光,经光电转换,经过高通滤波器进行滤波,随后到达功率探测器,功率探测器依据注入电信号的功率输出对应电平到比较器,比较器将该电平与参考电平进行判断,输出展宽状态判断电平。这种装置结构简单、成本低、便于集成,这种方法操作方便,实用性好,能满足高功率激光系统对窄带光谱检测的需求。

    一种基于旋转波片的激光功率采样装置及方法

    公开(公告)号:CN116222762A

    公开(公告)日:2023-06-06

    申请号:CN202310505942.4

    申请日:2023-05-08

    发明人: 王雪辉 曾密宗

    IPC分类号: G01J1/04

    摘要: 本发明公开一种基于旋转波片的激光功率采样装置及方法。其中,基于旋转波片的激光功率采样装置包括分光装置、波片和激光功率探测器;分光装置设置在入射激光的光路上,用于将入射激光分为加工光路和探测光路;波片设置在入射激光位于分光装置之前的光路上,且波片持续旋转,同时入射激光从波片的中心通过、波片的旋转轴与入射激光的光轴重合;激光功率探测器设置在探测光路上,用于监测探测光路的激光功率。本发明在分光前对入射激光的偏振态进行了调制,使其在分光后具有稳定的反射率,既可以保证加工过程激光功率的稳定性,提高激光功率实时监测的采样精度,又无需复杂的光学系统以及精细的调校过程,方便实用。

    宽带背照式电磁辐射检测器
    79.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116113808A

    公开(公告)日:2023-05-12

    申请号:CN202180058238.8

    申请日:2021-07-29

    申请人: 苹果公司

    IPC分类号: G01J1/04

    摘要: 一种电磁辐射检测器包括:InP基板,该InP基板具有与第二表面相对的第一表面;第一InGaAs电磁辐射吸收器,该第一InGaAs电磁辐射吸收器堆叠在该第一表面上并被配置为吸收第一组电磁辐射波长;一组一个或多个缓冲层,该一组一个或多个缓冲层堆叠在该第一InGaAs电磁辐射吸收器上并且被配置为吸收该第一组电磁辐射波长中的至少一些电磁辐射波长;第二InGaAs电磁辐射吸收器,该第二InGaAs电磁辐射吸收器堆叠在该一组一个或多个缓冲层上并且被配置为吸收第二组电磁辐射波长;以及浸没式聚光透镜,该浸没式聚光透镜形成在该第二表面上并被配置为引导电磁辐射穿过该InP基板并将其导向该第一InGaAs电磁辐射吸收器和该第二InGaAs电磁辐射吸收器。

    照度传感器、电子机器及二维图像传感器

    公开(公告)号:CN111912522B

    公开(公告)日:2023-05-12

    申请号:CN202010379949.2

    申请日:2020-05-08

    发明人: 上平祥嗣

    摘要: 本发明提供一种能够减轻红外光造成的不良影响的照度传感器、电子机器及二维图像传感器。本发明的照度传感器中,第一1/4波片(32)的迟相轴相对于第一直线偏光板(31)的偏光方向具有+45°或‑45°的关系,第二1/4波片(33)的第一部分(331)(与第一受光部(11)对应的区域)的迟相轴相对于第二直线偏光板(34)的偏光方向的关系与第一1/4波片(32)的迟相轴相对于第一直线偏光板(31)的偏光方向的关系同为+45°或‑45°,第二1/4波片(33)的第二部分(332)(与第二受光部(12)对应的区域)的迟相轴相对于第二直线偏光板(34)的偏光方向的关系与第一1/4波片(32)的迟相轴相对于第一直线偏光板(31)的偏光方向的关系为正负相反的‑45°或+45°,且本发明的照度传感器具有获取第一受光部(11)的输出与第二受光部(12)的输出的差量的差量检测部(60)。