直流绝缘子绝缘试验装置及方法

    公开(公告)号:CN106093723B

    公开(公告)日:2019-01-01

    申请号:CN201610427011.7

    申请日:2016-06-16

    IPC分类号: G01R31/12

    摘要: 本发明涉及高压绝缘设备领域,特别涉及直流绝缘子绝缘试验装置及方法,直流绝缘子绝缘试验装置包括竖直设置的高压引入套管和水平设置的与高压引入套管连接的试验筒体,高压引入套管和试验筒体具有贯通的密封腔,高压引入套管内设有高压引入装置,试验筒体内设有与高压引入装置电连接的高压导体,高压导体悬伸配置在试验筒体内,所述的试验筒体上离开与高压引入套管的连接处的顶部或底部设有与试验筒体电连接的绝缘子接地端安装座,高压导体上设有与绝缘子接地端安装座相对设置的绝缘子高压端安装座,绝缘子接地端安装座与绝缘子高压端安装座间用于试验时支撑装配被测试绝缘子,解决了目前的绝缘子绝缘试验装置不能满足直流绝缘子试验要求的问题。

    环氧浇注绝缘件微小气孔缺陷的超声小波检测方法

    公开(公告)号:CN105973992B

    公开(公告)日:2019-01-01

    申请号:CN201610395320.0

    申请日:2016-06-06

    IPC分类号: G01N29/07 G06F17/14

    摘要: 本发明涉及环氧浇注绝缘件微小气孔缺陷的超声小波检测方法:检测在待测绝缘材料中的超声波速度;对待测绝缘件发射超声波脉冲,并且检测反射波,将反射波转换为时间‑电压信号,记录气孔缺陷上、下表面反射波的混叠信号;对混叠信号进行小波变换。本发明的方法,通过气孔缺陷上、下表面的超声反射波分别进行小波变换,求解出小波系数极大值。根据不同阶数小波变换结果,确定出上、下表面超声波反射信号的对应分解阶数,进而在相应阶数小波系数极大值求解结果中找到小波系数极大值对应位置。

    一种电容分压结构及气体绝缘金属封闭输电设备

    公开(公告)号:CN105761919B

    公开(公告)日:2018-12-21

    申请号:CN201610148899.0

    申请日:2016-03-16

    摘要: 本发明涉及一种电容分压结构及气体绝缘金属封闭输电设备,一种气体绝缘金属封闭输电设备,包括电容分压结构,电容分压结构包括轴线沿左右方向延伸的高压导体、供高压导体左右穿装的壳体、设置于高压导体径向一侧的低压极板和设置于高压导体和低压极板之间的中间极板,低压极板与壳体密封固定连接,本发明的电容分压结构相当于现有技术中的电压互感器,设置中间极板和低压极板与现有技术需要单独设置一个高压臂电容相比,本发明使用原有的高压导体和壳体,大大减小了电容式电压互感器的体积,且结构简单,降低了生产成本。

    环氧浇注绝缘部件用表面涂覆材料及表面改性方法

    公开(公告)号:CN105462434B

    公开(公告)日:2018-12-14

    申请号:CN201510880646.8

    申请日:2015-12-03

    IPC分类号: C09D163/00 C09D7/61 C08J7/04

    摘要: 本发明公开了一种环氧浇注绝缘部件用表面涂覆材料及表面改性方法,属于高分子材料及电器绝缘技术领域。环氧浇注绝缘部件用表面涂覆材料由质量比为1:0.8~0.9:0.1~0.2的复合液态环氧树脂、固化剂和填料组成,复合液态环氧树脂由质量比为5:2.8~3.2:1.8~2.2的双酚A型环氧树脂、多官能团环氧树脂和脂环族环氧树脂组成。本发明通过将上述三种组分复配得到表面涂覆材料,经浸渍和固化处理对绝缘部件进行表面涂层改性,在其表面形成涂覆膜层,使得改性后的绝缘部件具有与本体材料相当的电气强度,表面电阻率更低,并且交流条件下的闪络电压得到大幅提升,提高了绝缘子的运行可靠性。

    开关触头特性测量试验装置

    公开(公告)号:CN105301488B

    公开(公告)日:2018-04-03

    申请号:CN201510735318.9

    申请日:2015-11-03

    IPC分类号: G01R31/327

    摘要: 本发明公开了一种开关触头特性测量试验装置,该试验装置包括固定支架及可相对固定支架直线往复运动的活动支架,固定支架上设有静触头连接导体,静触头连接导体上设有静触头安装部及用于连接静触头电阻测量线的静接线端,活动支架上设有动触头连接导体,动触头连接导体上设有动触头安装部及用于连接动触头电阻测量线的动接线端。本发明的试验装置可以更换不同的动静触头进行模拟动静触头闭合、断开的过程的试验,不依赖于对整个高压开关进行触头试验,通用性较强。克服了只能在开关灭弧室内进行试验的局限性,使得导电回路短,没有其他干扰因素影响,测量数据更准确。