光学记录媒介、管理其缺陷区的方法、其记录方法及其记录/再现装置

    公开(公告)号:CN1823372B

    公开(公告)日:2010-12-22

    申请号:CN200480020123.6

    申请日:2004-07-15

    Inventor: 金进镛 徐相运

    CPC classification number: G11B20/1883 G11B2220/20

    Abstract: 本发明提供了一种管理可高速记录的光盘的缺陷区的方法、其记录/再现方法及其记录/再现装置,通过它们提供缺陷区的精确判定。此外,最佳记录速度可应用于特定区域中的重新记录,从而能确保数据的高可靠性。在具备用于高速可记录光盘内的缺陷管理的缺陷管理区的光盘中,本发明包括验证在以高速进行记录时是否产生缺陷区,如果在高速下产生缺陷区则通过将记录速度变成低速来重新验证相应区域的缺陷的是否存在,并在缺陷管理区中记录以管理在高速下被判定为缺陷区而在低速下被判定为非缺陷区的区域的位置信息。

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