数据存储装置及其操作方法与数据处理系统

    公开(公告)号:CN105718385B

    公开(公告)日:2020-11-06

    申请号:CN201510969163.5

    申请日:2015-12-22

    Abstract: 本发明提供了一种操作数据存储装置的方法,其能够补偿多个存储器单元的初始阈电压漂移。所述方法包括:产生针对第一写地址的第一压缩值,所述第一写地址对应于在不同的时间间隔中的第一时间间隔期间输入的第一写请求;以及将第一压缩值存储在多个表中的第一表中。本发明还提供了一种数据存储装置和数据处理系统。

    数字拍摄设备和控制该数字拍摄设备的方法

    公开(公告)号:CN102025904A

    公开(公告)日:2011-04-20

    申请号:CN201010280402.3

    申请日:2010-09-08

    Inventor: 李东焕

    CPC classification number: H04N9/735

    Abstract: 数字拍摄设备和控制该数字拍摄设备的方法,以及存储执行所述方法的程序的记录介质,所述数字拍摄设备包括:手动白平衡功能,用于根据选择的光源来调整白平衡;白平衡包围曝光功能,用于以单次快门输入来捕获多幅图像,其中,用户可在多幅图像的产生期间调整白平衡的增益。

    显示设备
    7.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1818747A

    公开(公告)日:2006-08-16

    申请号:CN200510068832.8

    申请日:2005-05-12

    CPC classification number: G02F1/13452 G02F2001/13456

    Abstract: 本发明涉及一种显示设备,其中印刷电路板具有基础基板、倒装芯片和粘合部件。倒装芯片通过倒装芯片与基础基板第一面之间的粘合部件安装在基础基板的第一面上。第一显示板设置在基础基板的与第一面相反的第二面上,且第二显示板安装在基础基板具有倒装芯片的第一面上。由此,安装在印刷电路板上的芯片制得更小,可以使用释放出的空间安装第二显示板。

    形成图案的方法和制造半导体存储器装置的方法

    公开(公告)号:CN118475113A

    公开(公告)日:2024-08-09

    申请号:CN202311426428.8

    申请日:2023-10-30

    Abstract: 提供了形成图案的方法和制造半导体存储器装置的方法,所述方法包括以下步骤:在包括第一区域和第二区域的基底上方形成蚀刻目标层;在蚀刻目标层上方形成硬掩模结构;形成包括第一光致抗蚀剂图案和第二光致抗蚀剂图案的光致抗蚀剂图案,第一光致抗蚀剂图案包括位于第一区域中的雕刻图案,第二光致抗蚀剂图案包括位于第二区域中的压花图案;形成包括多个开口的上硬掩模图案;形成填充第一区域中的所述多个开口的可逆硬掩模图案;以及形成包括位于第一区域中的第一图案和位于第二区域中的第二图案的特征图案,其中,第一图案包括多个岛状图案和平面地围绕所述多个岛状图案的坝结构。

    半导体装置
    9.
    发明公开
    半导体装置 审中-实审

    公开(公告)号:CN116471834A

    公开(公告)日:2023-07-21

    申请号:CN202310002803.X

    申请日:2023-01-03

    Abstract: 提供半导体装置。所述半导体装置包括:位线结构,在基底上;下接触塞,在基底的与位线结构邻近的部分上;上接触塞,包括下接触塞上的第一金属图案和接触第一金属图案的上表面和上侧壁的第二金属图案;以及电容器,在上接触塞上。第一金属图案的上表面相对于基底的上表面在位线结构的上表面上方。

    半导体存储器件
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116419564A

    公开(公告)日:2023-07-11

    申请号:CN202310007877.2

    申请日:2023-01-04

    Abstract: 提供了一种半导体存储器件。该半导体存储器件包括:在基板上的导电线、沿导电线的上表面延伸的盖图案、沿导电线的侧表面和盖图案的侧表面延伸的间隔物结构、在间隔物结构的侧表面上的电连接到基板的掩埋接触、沿掩埋接触和间隔物结构延伸的阻挡导电膜、以及在阻挡导电膜和盖图案上的电连接到掩埋接触的着落焊盘,其中间隔物结构的上部包括低于或等于盖图案的最上表面的间隔物凹槽,阻挡导电膜沿间隔物凹槽延伸并且不覆盖盖图案的最上表面。

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