半导体装置及其制造方法

    公开(公告)号:CN111344856A

    公开(公告)日:2020-06-26

    申请号:CN201780096691.1

    申请日:2017-11-14

    Inventor: 细见刚

    Abstract: 半导体装置具有:半导体器件(2),其在半导体芯片(1)的主面具有电极以及配线;第1树脂构造体(A),其配置于该半导体芯片(1)的主面侧,在所述半导体器件(2)的特定的电极(3)的侧方以及上方,与该特定的电极(3)之间构成中空构造(8);第2树脂构造体(B),其将所述第1树脂构造体(A)的外侧覆盖,介电常数小于或等于该第1树脂构造体(A);以及绝缘膜(11),其将所述第2树脂构造体(B)的外侧覆盖,透湿性小于该第2树脂构造体(B)。

    半导体装置
    8.
    发明授权

    公开(公告)号:CN106469686B

    公开(公告)日:2019-05-14

    申请号:CN201610694218.0

    申请日:2016-08-19

    Inventor: 细见刚

    Abstract: 本发明得到一种在封装件的封装后能够观察内部,并且能够容易地辨识封装件的外观的半导体装置。半导体装置具有:半导体芯片(2),其具有电子部件(3);以及封装件(1),其将半导体芯片(2)封装。封装件(1)具有对可见光不透明而对近红外光或者近紫外光透明的透明部(5)。透明部(5)配置于能够通过近红外光或者近紫外光而从外部观察电子部件(3)的位置。

Patent Agency Ranking