一种基于辅助粒子滤波的IGBT剩余寿命估算方法

    公开(公告)号:CN111832226B

    公开(公告)日:2024-04-26

    申请号:CN202010666870.8

    申请日:2020-07-13

    IPC分类号: G06F30/27 G06F119/04

    摘要: 本公开提供了一种剩余寿命估算方法及装置。获取开关的剩余寿命的统计数据;基于该统计数据结合晶体管的性能,确定性能指标,所述性能指标为退化机制以及退化直接相关的指数;基于所述性能指标建立剩余寿命的的估算体系;在所述估算体系结合晶体管的运行环境的前提下评估开关的剩余寿命,其中,通过该统计数据和晶体管的性能,确定性能指标,从而提高性能指标的有效性,降低随机噪声,并且该性能指标为退化机制以及退化直接相关的指数,另外,在所述估算体系结合晶体管的运行环境的前提下评估开关的剩余寿命,根据评估结果进行评价,可以确定更准确的开关的剩余寿命曲线,以便于科学合理地制定检修决策方案。

    一种基于辅助粒子滤波的IGBT剩余寿命估算方法

    公开(公告)号:CN111832226A

    公开(公告)日:2020-10-27

    申请号:CN202010666870.8

    申请日:2020-07-13

    IPC分类号: G06F30/27 G06F119/04

    摘要: 本公开提供了一种剩余寿命估算方法及装置。获取开关的剩余寿命的统计数据;基于该统计数据结合晶体管的性能,确定性能指标,所述性能指标为退化机制以及退化直接相关的指数;基于所述性能指标建立剩余寿命的的估算体系;在所述估算体系结合晶体管的运行环境的前提下评估开关的剩余寿命,其中,通过该统计数据和晶体管的性能,确定性能指标,从而提高性能指标的有效性,降低随机噪声,并且该性能指标为退化机制以及退化直接相关的指数,另外,在所述估算体系结合晶体管的运行环境的前提下评估开关的剩余寿命,根据评估结果进行评价,可以确定更准确的开关的剩余寿命曲线,以便于科学合理地制定检修决策方案。

    电气设备维修决策优化方法
    8.
    发明公开

    公开(公告)号:CN113887990A

    公开(公告)日:2022-01-04

    申请号:CN202111205424.8

    申请日:2021-10-15

    摘要: 本申请涉及一种电气设备维修决策优化方法。所述方法包括:获取电气设备的延迟代价成本最小的抽检计划序列,作为最优抽检计划序列;根据最优抽检序列,确定各待测维修决策;根据预设的集成模型的约束条件,当各待测维修决策满足约束条件时,计算各待测维修决策的选择性维修成本、抽检质量成本和抽检计划延迟成本;根据选择性维修成本、抽检质量成本和抽检计划延迟成本,计算得到各待测维修决策的集成总成本;根据各待测维修决策的集成总成本,以集成总成本最小为目标,确定最优集成总成本,并将最优集成总成本对应的待测维修决策作为最优维修决策。采用本方法能够降低维修决策总成本。