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公开(公告)号:CN102525034A
公开(公告)日:2012-07-04
申请号:CN201110373179.1
申请日:2011-11-22
申请人: 中国科学院合肥物质科学研究院
IPC分类号: A43D1/02
摘要: 本发明公开了一种脚型参数测量装置及测量方法,装置包括封装箱体、计算机,以及分别嵌入封装箱体中的足底扫描测试平台、多个摄像头、带有光栅的点光源。本发明通过实际集成化设备,将平面扫描仪,点光源和两个摄像头设备有机结合,形成一个脚型参数测量装置,直接提供完整的足部特征位置、数据信息以及三维重构的足部模型。
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公开(公告)号:CN102525034B
公开(公告)日:2015-04-15
申请号:CN201110373179.1
申请日:2011-11-22
申请人: 中国科学院合肥物质科学研究院
摘要: 本发明公开了一种脚型参数测量装置及测量方法,装置包括封装箱体、计算机,以及分别嵌入封装箱体中的足底扫描测试平台、多个摄像头、带有光栅的点光源。本发明通过实际集成化设备,将平面扫描仪,点光源和两个摄像头设备有机结合,形成一个脚型参数测量装置,直接提供完整的足部特征位置、数据信息以及三维重构的足部模型。
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