一种光轴铅垂标校系统及标校方法

    公开(公告)号:CN118960785A

    公开(公告)日:2024-11-15

    申请号:CN202411152366.0

    申请日:2024-08-21

    Abstract: 本发明提供了一种光轴铅垂标校系统及标校方法,包括支撑架,支撑架上设有精密测角仪,精密测角仪中的旋转臂上设有被调校物,被调校物通过快捷装拆机构与旋转臂连接;还设有平行光管,平行光管设在被调校物正下方,平行光管通过带三脚架的经纬仪矫正,用于提供铅垂标校目标。该光轴铅垂标校系统通过其创新的设计和精密的组件,实现了高效、准确、安全的标校过程,可精准标定设备的铅垂位置,经鉴定试验和用户试用证明,本发明经济适用,操作便捷,效率高,调校后的设备工作稳定可靠。

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