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公开(公告)号:CN112614536A
公开(公告)日:2021-04-06
申请号:CN202011452068.5
申请日:2020-12-09
申请人: 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京芯可鉴科技有限公司 , 国网思极紫光(青岛)微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 北京航空航天大学
摘要: 本发明提供一种MRAM存储阵列温度自检测方法、存储控制方法和系统,属于存储器领域。所述方法包括:为第一存储阵列分区分配对应的写错误检测区域地址和读错误检测区域地址;生成多个随机数组,将多个随机数组中的每一个随机数组分别在写错误检测区域地址对应的第一存储阵列中执行一次读写操作,得到第一存储阵列的写错误率测量值;生成固定数组,将固定数组写入读错误检测区域地址对应的第二存储阵列中,执行多次读操作,得到第二存储阵列的读错误率测量值;根据写错误率基础值、读错误率基础值、写错误率测量值和读错误率测量值,判断第一存储阵列和第二存储阵列所属的第一存储阵列分区当前的温度范围。
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公开(公告)号:CN112581995A
公开(公告)日:2021-03-30
申请号:CN202011497059.8
申请日:2020-12-17
申请人: 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京芯可鉴科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国网思极紫光(青岛)微电子科技有限公司 , 北京航空航天大学
IPC分类号: G11C11/16
摘要: 本发明提供一种磁性存储介质的数据处理方法、系统及装置,属于芯片技术领域。所述方法包括:获取磁性存储介质的设定位置处的磁感应强度;在确定所述磁感应强度小于等于配置的磁感应强度阈值时,保持所述磁性存储介质的工作状态;在确定所述磁感应强度大于所述磁感应强度阈值时,备份所述磁性存储介质中的存储数据至备用存储介质,其中,所述备用存储介质的磁场屏蔽值大于所述磁性存储介质的磁场屏蔽值。本发明可用于智能电表中磁性存储介质的数据防护。
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公开(公告)号:CN112834890B
公开(公告)日:2021-11-30
申请号:CN202011598468.7
申请日:2020-12-29
申请人: 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京芯可鉴科技有限公司 , 国网思极紫光(青岛)微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 北京大学
IPC分类号: G01R31/26
摘要: 本发明提供一种检测PMOS器件NBTI退化的电路,包括:第一D触发器、第二D触发器以及包含多个被测PMOS器件的反相器链,反相器链中的每个反相器包括至少一个被测PMOS器件;反相器链的输出端与第一D触发器的时钟输入端相连接;除反相器链的输出端以外的任一反相器的输出端与第二D触发器的时钟输入端相连接;第一D触发器的Q信号输出端和第二D触发器的Q信号输出端通过至少一个异或门与反相器链的输入端相连接。本发明提供的电路是将占空比的测量转化为环形振荡器振荡周期的测量电路,通过得到的环形振荡周期可以直接计算得到反相器链的占空比的方法,从而能直观评估PMOS器件的NBTI退化效应,检测的时效性高且方便快捷。
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公开(公告)号:CN112834890A
公开(公告)日:2021-05-25
申请号:CN202011598468.7
申请日:2020-12-29
申请人: 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京芯可鉴科技有限公司 , 国网思极紫光(青岛)微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 北京大学
IPC分类号: G01R31/26
摘要: 本发明提供一种检测PMOS器件NBTI退化的电路,包括:第一D触发器、第二D触发器以及包含多个被测PMOS器件的反相器链,反相器链中的每个反相器包括至少一个被测PMOS器件;反相器链的输出端与第一D触发器的时钟输入端相连接;除反相器链的输出端以外的任一反相器的输出端与第二D触发器的时钟输入端相连接;第一D触发器的Q信号输出端和第二D触发器的Q信号输出端通过至少一个异或门与反相器链的输入端相连接。本发明提供的电路是将占空比的测量转化为环形振荡器振荡周期的测量电路,通过得到的环形振荡周期可以直接计算得到反相器链的占空比的方法,从而能直观评估PMOS器件的NBTI退化效应,检测的时效性高且方便快捷。
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公开(公告)号:CN112289852B
公开(公告)日:2021-05-11
申请号:CN202011471670.3
申请日:2020-12-15
申请人: 北京芯可鉴科技有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网思极紫光(青岛)微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 西安电子科技大学 , 国家电网有限公司 , 国网山东省电力公司营销服务中心(计量中心)
发明人: 赵东艳 , 王于波 , 陈燕宁 , 付振 , 刘芳 , 王立城 , 庞振江 , 彭业凌 , 张宏涛 , 任晨 , 张龙涛 , 马晓华 , 曹艳荣 , 赵扬 , 周芝梅 , 万勇 , 陈琳 , 杜艳
IPC分类号: H01L29/10 , H01L29/78 , H01L21/336 , H01L21/762
摘要: 本发明提供一种降低埋氧层泄漏电流的SOI器件结构和一种降低埋氧层泄漏电流的SOI器件结构的制作方法,所述SOI器件结构包括:衬底;形成于所述衬底上的埋氧层;以及形成于所述埋氧层上的有源区;所述有源区划分有栅区以及位于所述栅区两端的源区和漏区,所述栅区下方即所述源区和漏区之间形成有沟道;所述栅区为由二氧化硅层、高K介质层和多晶硅由下而上层叠形成的多晶硅栅极结构;所述源区和漏区上方为源极和漏极;所述栅区与所述源极和漏极之间的器件表面被SiN钝化层覆盖;所述埋氧层由表面向下形成有沟槽,所述沟槽的深度大于源电场及漏电场所能扩展的纵向距离。本发明在减小SOI器件结构的泄漏电流的同时提高了SOI器件结构的散热性能。
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公开(公告)号:CN112710706A
公开(公告)日:2021-04-27
申请号:CN202011443736.8
申请日:2020-12-08
申请人: 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京芯可鉴科技有限公司 , 中国科学院半导体研究所 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 国网思极紫光(青岛)微电子科技有限公司
IPC分类号: G01N27/22
摘要: 本发明实施例提供一种湿度传感器,属于传感器技术领域。所述湿度传感器包括:第一电极、第二电极、湿度敏感材料层;所述湿度敏感材料层位于第一电极和第二电极之间;所述第二电极为多孔电极,开孔的形状为圆形或三角形。通过本发明提供的技术方案,能够实现对环境湿度的高灵敏度、高精度的检测,同时提高了传感器的可集成度与稳定性能。
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公开(公告)号:CN112289852A
公开(公告)日:2021-01-29
申请号:CN202011471670.3
申请日:2020-12-15
申请人: 北京芯可鉴科技有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网思极紫光(青岛)微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 西安电子科技大学 , 国家电网有限公司 , 国网山东省电力公司营销服务中心(计量中心)
发明人: 赵东艳 , 王于波 , 陈燕宁 , 付振 , 刘芳 , 王立城 , 庞振江 , 彭业凌 , 张宏涛 , 任晨 , 张龙涛 , 马晓华 , 曹艳荣 , 赵扬 , 周芝梅 , 万勇 , 陈琳 , 杜艳
IPC分类号: H01L29/10 , H01L29/78 , H01L21/336 , H01L21/762
摘要: 本发明提供一种降低埋氧层泄漏电流的SOI器件结构和一种降低埋氧层泄漏电流的SOI器件结构的制作方法,所述SOI器件结构包括:衬底;形成于所述衬底上的埋氧层;以及形成于所述埋氧层上的有源区;所述有源区划分有栅区以及位于所述栅区两端的源区和漏区,所述栅区下方即所述源区和漏区之间形成有沟道;所述栅区为由二氧化硅层、高K介质层和多晶硅由下而上层叠形成的多晶硅栅极结构;所述源区和漏区上方为源极和漏极;所述栅区与所述源极和漏极之间的器件表面被SiN钝化层覆盖;所述埋氧层由表面向下形成有沟槽,所述沟槽的深度大于源电场及漏电场所能扩展的纵向距离。本发明在减小SOI器件结构的泄漏电流的同时提高了SOI器件结构的散热性能。
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公开(公告)号:CN113887734B
公开(公告)日:2022-04-22
申请号:CN202111482824.3
申请日:2021-12-07
申请人: 北京芯可鉴科技有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 北京航空航天大学
摘要: 本发明实施例提供一种随机磁隧道结器件及应用方法,属于半导体器件领域。所述随机磁隧道结器件包括:由顶端电极、参考层、隧穿势垒层和自由调控层依次层叠组成的叠层结构;其中,所述自由调控层包括:自由层、底端电极和位于磁隧道结周围任意位置的导线层,所述导线层用于产生调控所述自由层磁化取向的奥斯特场。本发明方案将传统通过势垒层两端电压控制器件翻转概率的方法修改为通过底端电极电压与磁场协同控制翻转概率,在自由层端增设一个奥斯特场,基于该奥斯特场进行自由层磁化取向控制。避免了传统方法中需要自旋转移矩电流需要连续不断的通过磁隧道结的超薄隧穿势垒层,从而造成势垒层寿命降低的问题。
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公开(公告)号:CN113889163B
公开(公告)日:2022-03-01
申请号:CN202111485264.7
申请日:2021-12-07
申请人: 北京芯可鉴科技有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 北京航空航天大学
IPC分类号: G11C11/16
摘要: 本发明实施例提供一种翻转概率可控的随机磁隧道结器件及应用方法,属于半导体器件领域。所述器件包括:基础磁隧道结三明治结构,自上而下包括参考层、隧穿势垒层和自由层;位于所述参考层上方的顶端电极,所述顶端电极具有顶端电极端口;位于所述自由层下方的调控层,用于为所述自由层提供偏置磁场,所述调控层包括重叠布置的交换偏置场层和底端电极;所述底端电极两端分别具有底端第一电极端口和底端第二电极端口;所述顶端电极端口、所述底端第一电极端口和所述底端第二电极端口用于单个或任意组合使用以调控所述随机隧道结器件的翻转概率。本发明方案实现了随机磁隧道结器件翻转概率可控。
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公开(公告)号:CN113887734A
公开(公告)日:2022-01-04
申请号:CN202111482824.3
申请日:2021-12-07
申请人: 北京芯可鉴科技有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 北京航空航天大学
摘要: 本发明实施例提供一种随机磁隧道结器件及应用方法,属于半导体器件领域。所述随机磁隧道结器件包括:由顶端电极、参考层、隧穿势垒层和自由调控层依次层叠组成的叠层结构;其中,所述自由调控层包括:自由层、底端电极和位于磁隧道结周围任意位置的导线层,所述导线层用于产生调控所述自由层磁化取向的奥斯特场。本发明方案将传统通过势垒层两端电压控制器件翻转概率的方法修改为通过底端电极电压与磁场协同控制翻转概率,在自由层端增设一个奥斯特场,基于该奥斯特场进行自由层磁化取向控制。避免了传统方法中需要自旋转移矩电流需要连续不断的通过磁隧道结的超薄隧穿势垒层,从而造成势垒层寿命降低的问题。
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