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公开(公告)号：CN115391713A
公开(公告)日：2022-11-25
申请号：CN202210838677.7
申请日：2022-07-18
Applicant: 北京空间飞行器总体设计部
IPC: G06F17/10
Abstract: 本发明提出一种基于斜入射的卫星电离总剂量解析分析方法，考虑了斜入射带来的屏蔽厚度增厚、总剂量变低效应，显著降低电离总剂量数据。具体包括以下步骤：步骤一、根据卫星运行轨道参数分析卫星电离总剂量与垂直入射条件下等效屏蔽厚度的关系；步骤二、根据所述卫星电离总剂量与垂直入射条件下等效铝屏蔽厚度的关系获取所述卫星电离总剂量与垂直入射条件下等效屏蔽铝厚度关系的拟合公式及拟合系数；步骤三、利用所述拟合公式及拟合系数分析考虑斜入射效应的各向同性入射条件下的卫星电离总剂量与等效铝屏蔽厚度的计算公式；步骤四、根据所述计算公式分析卫星内部单机中器件的电离总剂量。
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公开(公告)号：CN112257226A
公开(公告)日：2021-01-22
申请号：CN202010982709.1
申请日：2020-09-17
Applicant: 北京空间飞行器总体设计部
IPC: G06F30/20
Abstract: 一种不依赖器件工艺参数的重离子单粒子翻转率分析方法，属于空间辐射技术领域。本发明通过获取器件重离子单粒子翻转截面试验数据及拟合结果；建立器件单粒子翻转率分析模型；计算器件所处轨道的重离子LET谱；分析器件在轨单粒子翻转率。本发明的方法仅采用器件重离子单粒子翻转试验数据，就可以构建确定的单粒子翻转率分析模型，并进行单粒子翻转率分析，解决了以往单粒子模型参数依赖器件工艺参数、难以确定、无法形成统一标准的问题。
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公开(公告)号：CN115438559B
公开(公告)日：2023-03-10
申请号：CN202211262139.4
申请日：2022-10-14
Applicant: 北京空间飞行器总体设计部 , 哈尔滨工业大学(深圳)
IPC: G06F30/25 , G06F16/27 , G06F119/04
Abstract: 本发明公开了一种模拟星表材料在轨剂量分布的地面辐照试验方法，包括：基于卫星轨道参数和设计寿命，分析卫星在寿命期内遭遇的包含低能等离子体的电子和质子能谱；基于星表材料面密度、应用状态以及轨道上的粒子能谱，分析星表材料在轨剂量‑深度分布曲线；计算地面容易获得的单能质子或电子在材料中沉积的电离剂量随深度分布数据，形成地面试验单能粒子剂量分布数据库；基于星表材料的在轨剂量‑深度分布曲线，从试验粒子数据库中挑选合适的粒子能量、粒子类型及总通量，使选取的试验粒子产生的剂量‑深度分布曲线组合后，完整包络星表材料厚度范围内的在轨剂量‑深度分布曲线；基于此，本发明完整重现星表材料在轨服役期间遭受的电离剂量分布。
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公开(公告)号：CN115685307A
公开(公告)日：2023-02-03
申请号：CN202211201618.5
申请日：2022-09-29
Applicant: 北京空间飞行器总体设计部
Abstract: 一种基于粒子输运分析的月表中子来源的月壤深度追踪方法，包括：获取月球表面的高能粒子谱；建立粒子输运模型；根据高能粒子谱和粒子输运模型，向月壤模型发射初始粒子，进入月壤后与月壤相互作用形成事件和径迹；先形成初始轨迹记录，并传递给事件记录集；中子径迹按步进行输运，根据该作用造成中子的性质变化更新当前事件记录；中子在月壤中进行弹性碰撞运动，到中子输运结束，形成末尾径迹记录，将其传递给事件记录集；本事件全部输运结束，输出事件记录集中的全部信息；根据高能粒子谱统计得到月球表面不同能量中子所来源的月壤深度，为月表寻水钻取深度设计提供依据。
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公开(公告)号：CN110568347B
公开(公告)日：2021-11-09
申请号：CN201910726753.3
申请日：2019-08-07
Applicant: 北京空间飞行器总体设计部
IPC: G01R31/307 , G01R31/28 , G06F30/34
Abstract: 本发明提供一种星载FPGA单粒子功能中断率的快速预估方法，包括如下步骤：计算目标FPGA和已在轨运行的相似FPGA在任务轨道环境条件下、考虑资源使用情况后的单粒子翻转率PM1和PM2,计算结构复杂度系数；利用在轨相似FPGA数据，计算未采取防护措施情况下，目标FPGA在轨由于单粒子软错误导致功能异常的概率PF1；确定目标FPGA采取防护措施后的防护系数βp，计算目标FPGA功能中断率；在目标FPGA功能中断率不满足设计要求时，进行改进，直至目标FPGA功能中断率满足设计要求。本发明对评价航天器系统级功能中断率、快速发现单粒子防护薄弱环节并快速改进设计具有重要意义。
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公开(公告)号：CN105893664B
公开(公告)日：2019-01-15
申请号：CN201610192270.6
申请日：2016-03-30
Applicant: 北京空间飞行器总体设计部
IPC: G06F17/50
Abstract: 本发明公开了一种系统级单粒子效应影响表征参数及评价方法：根据系统功能分析，建立以元器件为底事件的系统功能模型，结合元器件单粒子敏感性分析，建立系统单粒子效应影响功能模型；基于单粒子效应试验数据，计算分析敏感元器件的单粒子事件率，采用故障注入、重离子辐照试验法或系统历史数据分析方法确定系统各层次间单粒子效应影响传递因子；基于单粒子事件的叠加性原理，计算系统单粒子事件率；结合单粒子效应影响中断时间，计算系统单粒子效应危害度和可用性。本发明采用定量的方法表征单粒子效应对系统的影响，并评价系统单粒子效应的影响后果，该方法可用于指导系统级单粒子效应风险的量化控制。
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公开(公告)号：CN118731554A
公开(公告)日：2024-10-01
申请号：CN202410983844.6
申请日：2024-07-22
Applicant: 北京空间飞行器总体设计部
IPC: G01R31/00
Abstract: 一种航天器系统级瞬态电磁兼容性分析方法，包括：将瞬态电磁特征进行分解，分解为不同的区域，计算每个区域的电磁特征参数；根据两个瞬态电磁干扰源瞬态电磁特征分解后得到的电磁特征参数，计算两个瞬态电磁干扰源的相似性参数；根据相似性参数评估两个瞬态电磁源的一致性，评估航天器在不同瞬态电磁特性下的电磁兼容性。本发明方法面向瞬态干扰源的特性，通过分析瞬态干扰源之间的特性差别，评估航天器在不同瞬态电磁环境中的电磁兼容性。
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公开(公告)号：CN110677967A
公开(公告)日：2020-01-10
申请号：CN201910883278.0
申请日：2019-09-18
Applicant: 北京空间飞行器总体设计部
IPC: H05H1/00
Abstract: 本发明涉及一种基于法拉第杯的卫星表面等离子体充电电流监测方法。通过确定卫星表面充电电流的测量对象及范围；设计法拉第杯探头；法拉第杯探头在卫星上的安装；确定卫星表面充电电流真实数据与法拉第杯探头测量数据的关系，实现对空间等离子对卫星表面充电电流的包络和有效反演。本发明的方法能够有效反映卫星表面等离子体充电电流大小，为卫星表面带电状态和带电风险的评估提供依据。
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公开(公告)号：CN110568347A
公开(公告)日：2019-12-13
申请号：CN201910726753.3
申请日：2019-08-07
Applicant: 北京空间飞行器总体设计部
IPC: G01R31/307 , G01R31/28 , G06F17/50
Abstract: 本发明提供一种星载FPGA单粒子功能中断率的快速预估方法，包括如下步骤：计算目标FPGA和已在轨运行的相似FPGA在任务轨道环境条件下、考虑资源使用情况后的单粒子翻转率PM1和PM2,计算结构复杂度系数；利用在轨相似FPGA数据，计算未采取防护措施情况下，目标FPGA在轨由于单粒子软错误导致功能异常的概率PF1；确定目标FPGA采取防护措施后的防护系数βp，计算目标FPGA功能中断率；在目标FPGA功能中断率不满足设计要求时，进行改进，直至目标FPGA功能中断率满足设计要求。本发明对评价航天器系统级功能中断率、快速发现单粒子防护薄弱环节并快速改进设计具有重要意义。
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公开(公告)号：CN110209547A
公开(公告)日：2019-09-06
申请号：CN201910368564.3
申请日：2019-05-05
Applicant: 北京空间飞行器总体设计部
IPC: G06F11/26
Abstract: 一种SRAM型FPGA单粒子翻转加固定时刷新频率确定方法及系统，需要对SRAM型FPGA应用的加固措施进行验证与评估，利用故障注入作为验证手段，通过向FPGA的配置区注入翻转，观察FPGA应用的运行状态确定应用的单粒子翻转设计有效性，同时解决了现有技术无法定量评估FPGA应用加固有效性的问题，并能够确定FPGA的刷新频率取值范围，计算简便，方法可靠性高。
