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公开(公告)号:CN112289852B
公开(公告)日:2021-05-11
申请号:CN202011471670.3
申请日:2020-12-15
申请人: 北京芯可鉴科技有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网思极紫光(青岛)微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 西安电子科技大学 , 国家电网有限公司 , 国网山东省电力公司营销服务中心(计量中心)
发明人: 赵东艳 , 王于波 , 陈燕宁 , 付振 , 刘芳 , 王立城 , 庞振江 , 彭业凌 , 张宏涛 , 任晨 , 张龙涛 , 马晓华 , 曹艳荣 , 赵扬 , 周芝梅 , 万勇 , 陈琳 , 杜艳
IPC分类号: H01L29/10 , H01L29/78 , H01L21/336 , H01L21/762
摘要: 本发明提供一种降低埋氧层泄漏电流的SOI器件结构和一种降低埋氧层泄漏电流的SOI器件结构的制作方法,所述SOI器件结构包括:衬底;形成于所述衬底上的埋氧层;以及形成于所述埋氧层上的有源区;所述有源区划分有栅区以及位于所述栅区两端的源区和漏区,所述栅区下方即所述源区和漏区之间形成有沟道;所述栅区为由二氧化硅层、高K介质层和多晶硅由下而上层叠形成的多晶硅栅极结构;所述源区和漏区上方为源极和漏极;所述栅区与所述源极和漏极之间的器件表面被SiN钝化层覆盖;所述埋氧层由表面向下形成有沟槽,所述沟槽的深度大于源电场及漏电场所能扩展的纵向距离。本发明在减小SOI器件结构的泄漏电流的同时提高了SOI器件结构的散热性能。
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公开(公告)号:CN112289852A
公开(公告)日:2021-01-29
申请号:CN202011471670.3
申请日:2020-12-15
申请人: 北京芯可鉴科技有限公司 , 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网思极紫光(青岛)微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 西安电子科技大学 , 国家电网有限公司 , 国网山东省电力公司营销服务中心(计量中心)
发明人: 赵东艳 , 王于波 , 陈燕宁 , 付振 , 刘芳 , 王立城 , 庞振江 , 彭业凌 , 张宏涛 , 任晨 , 张龙涛 , 马晓华 , 曹艳荣 , 赵扬 , 周芝梅 , 万勇 , 陈琳 , 杜艳
IPC分类号: H01L29/10 , H01L29/78 , H01L21/336 , H01L21/762
摘要: 本发明提供一种降低埋氧层泄漏电流的SOI器件结构和一种降低埋氧层泄漏电流的SOI器件结构的制作方法,所述SOI器件结构包括:衬底;形成于所述衬底上的埋氧层;以及形成于所述埋氧层上的有源区;所述有源区划分有栅区以及位于所述栅区两端的源区和漏区,所述栅区下方即所述源区和漏区之间形成有沟道;所述栅区为由二氧化硅层、高K介质层和多晶硅由下而上层叠形成的多晶硅栅极结构;所述源区和漏区上方为源极和漏极;所述栅区与所述源极和漏极之间的器件表面被SiN钝化层覆盖;所述埋氧层由表面向下形成有沟槽,所述沟槽的深度大于源电场及漏电场所能扩展的纵向距离。本发明在减小SOI器件结构的泄漏电流的同时提高了SOI器件结构的散热性能。
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公开(公告)号:CN112834890B
公开(公告)日:2021-11-30
申请号:CN202011598468.7
申请日:2020-12-29
申请人: 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京芯可鉴科技有限公司 , 国网思极紫光(青岛)微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 北京大学
IPC分类号: G01R31/26
摘要: 本发明提供一种检测PMOS器件NBTI退化的电路,包括:第一D触发器、第二D触发器以及包含多个被测PMOS器件的反相器链,反相器链中的每个反相器包括至少一个被测PMOS器件;反相器链的输出端与第一D触发器的时钟输入端相连接;除反相器链的输出端以外的任一反相器的输出端与第二D触发器的时钟输入端相连接;第一D触发器的Q信号输出端和第二D触发器的Q信号输出端通过至少一个异或门与反相器链的输入端相连接。本发明提供的电路是将占空比的测量转化为环形振荡器振荡周期的测量电路,通过得到的环形振荡周期可以直接计算得到反相器链的占空比的方法,从而能直观评估PMOS器件的NBTI退化效应,检测的时效性高且方便快捷。
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公开(公告)号:CN112834890A
公开(公告)日:2021-05-25
申请号:CN202011598468.7
申请日:2020-12-29
申请人: 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京芯可鉴科技有限公司 , 国网思极紫光(青岛)微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 北京大学
IPC分类号: G01R31/26
摘要: 本发明提供一种检测PMOS器件NBTI退化的电路,包括:第一D触发器、第二D触发器以及包含多个被测PMOS器件的反相器链,反相器链中的每个反相器包括至少一个被测PMOS器件;反相器链的输出端与第一D触发器的时钟输入端相连接;除反相器链的输出端以外的任一反相器的输出端与第二D触发器的时钟输入端相连接;第一D触发器的Q信号输出端和第二D触发器的Q信号输出端通过至少一个异或门与反相器链的输入端相连接。本发明提供的电路是将占空比的测量转化为环形振荡器振荡周期的测量电路,通过得到的环形振荡周期可以直接计算得到反相器链的占空比的方法,从而能直观评估PMOS器件的NBTI退化效应,检测的时效性高且方便快捷。
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公开(公告)号:CN112614536A
公开(公告)日:2021-04-06
申请号:CN202011452068.5
申请日:2020-12-09
申请人: 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京芯可鉴科技有限公司 , 国网思极紫光(青岛)微电子科技有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司 , 北京航空航天大学
摘要: 本发明提供一种MRAM存储阵列温度自检测方法、存储控制方法和系统,属于存储器领域。所述方法包括:为第一存储阵列分区分配对应的写错误检测区域地址和读错误检测区域地址;生成多个随机数组,将多个随机数组中的每一个随机数组分别在写错误检测区域地址对应的第一存储阵列中执行一次读写操作,得到第一存储阵列的写错误率测量值;生成固定数组,将固定数组写入读错误检测区域地址对应的第二存储阵列中,执行多次读操作,得到第二存储阵列的读错误率测量值;根据写错误率基础值、读错误率基础值、写错误率测量值和读错误率测量值,判断第一存储阵列和第二存储阵列所属的第一存储阵列分区当前的温度范围。
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公开(公告)号:CN114185822B
公开(公告)日:2024-05-24
申请号:CN202111308502.7
申请日:2021-11-05
摘要: 本发明涉及数据缓存技术领域,提供一种多指针弹性缓冲器、增删控制字符的方法及存储介质。所述多指针弹性缓冲器,包括写指针、读指针、存储器,还包括:字符集检测模块和缓冲阈值测量模块;所述字符集检测模块配置有多组根据不同的接口协议定义的控制字符集检测逻辑,用于选择当前的控制字符集检测逻辑,检测输入数据中的控制字符集,在检测到控制字符集的情况下生成字符集检测信号;所述缓冲阈值测量模块用于确定存储器中有效数据的状态,在获取到字符集检测信号的情况下,根据存储器中当前的有效数据的状态确定读指针的递增值。本发明提高了弹性缓冲器设计的复用性和应用范围,且逻辑结构简单。
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公开(公告)号:CN113901754B
公开(公告)日:2022-11-01
申请号:CN202111131813.0
申请日:2021-09-26
申请人: 清华大学 , 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网山东省电力公司信息通信公司 , 国网思极紫光(青岛)微电子科技有限公司 , 国家电网有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司
IPC分类号: G06F30/398
摘要: 本申请提出一种基于FPGA的以太网MACIP的板级验证结构和方法,该方法包括:选择不同的测试case设置,对对端平台进行寄存器配置,并通过SPI对待测试端平台的硬件进行测试模式的配置,保证对端平台和待测试端平台的配置参数分别对应;控制待测试端平台进行测试并对测试过程进行监控得到测试数据;在对端平台将原始产生的随机数据和从待测试端传输过来的测试数据进行比对,收集错误情况得出当前case的测试结果;将各个case下的数据验证结果进行记录和搜集,将一些错误数据存储在RAM中待查,将结果通过uart接口打印到对端平台连接的电脑屏幕上。本申请构建了一套全自动的板级验证方法学,成本较低,测试场景构建简单,能够灵活适用于各种实现方式的MACIP的板级验证。
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公开(公告)号:CN113901754A
公开(公告)日:2022-01-07
申请号:CN202111131813.0
申请日:2021-09-26
申请人: 清华大学 , 北京智芯微电子科技有限公司 , 国网山东省电力公司信息通信公司 , 国网思极紫光(青岛)微电子科技有限公司 , 国家电网有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司
IPC分类号: G06F30/398
摘要: 本申请提出一种基于FPGA的以太网MACIP的板级验证结构和方法,该方法包括:选择不同的测试case设置,对对端平台进行寄存器配置,并通过SPI对待测试端平台的硬件进行测试模式的配置,保证对端平台和待测试端平台的配置参数分别对应;控制待测试端平台进行测试并对测试过程进行监控得到测试数据;在对端平台将原始产生的随机数据和从待测试端传输过来的测试数据进行比对,收集错误情况得出当前case的测试结果;将各个case下的数据验证结果进行记录和搜集,将一些错误数据存储在RAM中待查,将结果通过uart接口打印到对端平台连接的电脑屏幕上。本申请构建了一套全自动的板级验证方法学,成本较低,测试场景构建简单,能够灵活适用于各种实现方式的MACIP的板级验证。
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公开(公告)号:CN113176974B
公开(公告)日:2021-10-15
申请号:CN202110735623.3
申请日:2021-06-30
申请人: 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京理工大学 , 国网山东省电力公司信息通信公司 , 国网思极紫光(青岛)微电子科技有限公司 , 国家电网有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司
IPC分类号: G06F11/22 , G06F11/263
摘要: 本发明公开了一种用于验证IP核的方法、装置及系统,本发明通过控制板卡生成测试数据;将测试数据发送至验证板卡,以使得验证板卡基于验证板卡内的IP核和测试数据对目标存储器进行读写访问操作;获取验证板卡从目标存储器读取的第一数据;根据测试数据及第一数据得到验证结果。通过在控制板卡中生成测试数据,并根据控制板卡中的程序控制验证板卡实现IP核的读写验证,避免了传统IP核验证需要硬件验证人员编写硬件验证语言导致开发时间长且灵活性差的缺陷,提高了IP核的验证效率。
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公开(公告)号:CN113177388A
公开(公告)日:2021-07-27
申请号:CN202110735624.8
申请日:2021-06-30
申请人: 北京智芯微电子科技有限公司 , 北京理工大学 , 国网山东省电力公司信息通信公司 , 国网思极紫光(青岛)微电子科技有限公司 , 国家电网有限公司 , 国网信息通信产业集团有限公司
IPC分类号: G06F30/398
摘要: 本发明实施例提供一种用于IP核测试与验证的装置、系统及方法。该装置包括:数据生成与控制板卡,用于生成测试数据,以及控制核心验证板卡的IP核进行测试与验证;核心验证板卡,通过链路层与数据生成与控制板卡连接,并用于根据数据生成与控制板卡的控制指令进行对应的操作。本发明不仅提高了测试数据生成的密度、速度以及测试速度,并且还提高了测试方法的可扩展性和灵活性。
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