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公开(公告)号：CN101236221B
公开(公告)日：2010-09-01
申请号：CN200810007403.3
申请日：2008-03-07
Applicant: 北京邮电大学
IPC: G01R27/02
Abstract: 本发明公开了一种精密定位测试接触电阻的方法及装置，包含精密定位单元、运动控制单元、接触电阻测试单元、计算机控制平台单元及反馈单元，预先确定标准样块上表面交点至测试样片上接触斑点的平面距离参数，计算机控制平台单元发送定位指令，运动控制单元接收定位指令及反馈指令并转化为控制电压指令输出，控制精密定位单元，反馈单元将精密定位单元的距离信息反馈到运动控制单元，然后，计算机控制平台单元发送接触压力指令和测试指令，接触电阻测试单元开始进行接触电阻测试，从而实现接触区域内接触斑点精密定位、重定位，可进行多点、多接触压力下接触电阻的自动连续测试。
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公开(公告)号：CN102353480B
公开(公告)日：2013-05-08
申请号：CN201110193695.6
申请日：2011-07-12
Applicant: 北京邮电大学
Abstract: 本发明公开了一种法向压力施加装置：双膜片弹簧及其固定和定位装置，包括上、下膜片弹簧和压紧环，压紧环通过螺纹与套筒相连接；中心轴及其固定和定位部件，包括中心轴和上、下压紧螺母，中心轴穿过膜片弹簧的内孔，压紧螺母通过螺纹与中心轴配合；触头固定及定位部件，包括触头卡爪组件I和触头卡爪组件II，触头卡爪组件I与中心轴通过螺纹连接，旋转触头卡爪组件I可挤压触头卡爪组件II；套筒及其锁紧部件，包括套筒、支撑板和锁紧螺母，套筒通过T型螺纹与支撑板和锁紧螺母相连接。应用本发明，可以大幅降低实验中侧向剪切力对实验结果的影响，提高法向压力施加的准确性，提高装置的紧凑性和稳定性。
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公开(公告)号：CN102565537A
公开(公告)日：2012-07-11
申请号：CN201210007486.2
申请日：2012-01-11
Applicant: 北京邮电大学
Abstract: 本发明公开了一种滑动电接触模拟测试系统，包括滑动台单元、滑动测量单元和滑动控制单元。将样片和触头安装好后，启动滑动电接触模拟测试系统，在滑动控制单元中设定指令参数信息，并向滑动台单元发送；滑动台单元根据接受的指令参数，产生设定的滑动运动，并反馈位置信息对每一个采样数据点进行准确定位；滑动测量单元采集接触对电压降信号，并将采集信号输送至计算机单元进行数据存储、处理和图形显示，然后计算出接触电阻值，本单元还可测量与电阻值对应位置的接触界面温度。应用本发明能够增加滑动接触电阻的测试通道，并可准确定位，测量对应位置的接触电阻值和接触界面温度值，提高滑动接触电阻测试的精度，降低实验操作的复杂性。
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公开(公告)号：CN102353480A
公开(公告)日：2012-02-15
申请号：CN201110193695.6
申请日：2011-07-12
Applicant: 北京邮电大学
Abstract: 本发明公开了一种法向压力施加装置：双膜片弹簧及其固定和定位装置，包括上、下膜片弹簧和压紧环，压紧环通过螺纹与套筒相连接；中心轴及其固定和定位部件，包括中心轴和上、下压紧螺母，中心轴穿过膜片弹簧的内孔，压紧螺母通过螺纹与中心轴配合；触头固定及定位部件，包括触头卡爪组件I和触头卡爪组件II，触头卡爪组件I与中心轴通过螺纹连接，旋转触头卡爪组件I可挤压触头卡爪组件II；套筒及其锁紧部件，包括套筒、支撑板和锁紧螺母，套筒通过T型螺纹与支撑板和锁紧螺母相连接。应用本发明，可以大幅降低实验中侧向剪切力对实验结果的影响，提高法向压力施加的准确性，提高装置的紧凑性和稳定性。
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公开(公告)号：CN101236221A
公开(公告)日：2008-08-06
申请号：CN200810007403.3
申请日：2008-03-07
Applicant: 北京邮电大学
IPC: G01R27/02
Abstract: 本发明公开了一种精密定位测试接触电阻的方法及装置，包含精密定位单元、运动控制单元、接触电阻测试单元、计算机控制平台单元及反馈单元，预先确定标准样块上表面交点至测试样片上接触斑点的平面距离参数，计算机控制平台单元发送定位指令，运动控制单元接收定位指令及反馈指令并转化为控制电压指令输出，控制精密定位单元，反馈单元将精密定位单元的距离信息反馈到运动控制单元，然后，计算机控制平台单元发送接触压力指令和测试指令，接触电阻测试单元开始进行接触电阻测试，从而实现接触区域内接触斑点精密定位、重定位，可进行多点、多接触压力下接触电阻的自动连续测试。
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公开(公告)号：CN101236220A
公开(公告)日：2008-08-06
申请号：CN200810007402.9
申请日：2008-03-07
Applicant: 北京邮电大学
IPC: G01R27/02
Abstract: 本发明公开了一种测试微动接触电阻的系统和方法，包含微动台单元、微动接触电阻测试单元、数据采集单元及计算机单元，启动测试微动接触电阻系统，进行初始化，设置计算机单元微动及控制指令参数信息，向微动台单元发送；微动台单元根据接收的微动及控制指令参数信息，进行微动，并根据自身形成的反馈微动幅值信息，对微动幅值进行调节；微动接触电阻测试单元对微动中的连接器接触对进行接触电阻测试，数据采集单元对接触电压信号进行采样，将采样信号输出至计算机单元进行数据存储、处理和图形显示。应用本发明能够根据需要对测试参数进行调节控制，拓展微动接触电阻的测试通道，提高微动接触电阻测试的精度。
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公开(公告)号：CN102565537B
公开(公告)日：2015-10-07
申请号：CN201210007486.2
申请日：2012-01-11
Applicant: 北京邮电大学
Abstract: 本发明公开了一种滑动电接触模拟测试系统，包括滑动台单元、滑动测量单元和滑动控制单元。将样片和触头安装好后，启动滑动电接触模拟测试系统，在滑动控制单元中设定指令参数信息，并向滑动台单元发送；滑动台单元根据接受的指令参数，产生设定的滑动运动，并反馈位置信息对每一个采样数据点进行准确定位；滑动测量单元采集接触对电压降信号，并将采集信号输送至计算机单元进行数据存储、处理和图形显示，然后计算出接触电阻值，本单元还可测量与电阻值对应位置的接触界面温度。应用本发明能够增加滑动接触电阻的测试通道，并可准确定位，测量对应位置的接触电阻值和接触界面温度值，提高滑动接触电阻测试的精度，降低实验操作的复杂性。
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公开(公告)号：CN102262046B
公开(公告)日：2014-07-02
申请号：CN201110101719.0
申请日：2011-04-22
Applicant: 北京邮电大学
Abstract: 本发明公开了连接器使用寿命的测试系统及测试方法，该装置能实现连接器使用寿命及插拔力的测试。其包含机械单元、人机交互单元、运动控制单元、插拔力测试单元。进行插拔测试时，预先通过人机交互单元设定运动参数及控制指令信息，控制单元按照设定信息控制机械单元运转。机械单元在插拔运动中，运动控制单元接受接近开关的反馈检测信号，控制机械单元旋转运动部分；进行插拔力测试时，插拔力测试单元将采样信号输出至人机交互单元进行数据存储、处理和图形显示。应用本发明能够根据测试需要对相关参数自行设定，满足不同连接器的插拔寿命测试需求。
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公开(公告)号：CN104345094A
公开(公告)日：2015-02-11
申请号：CN201410612113.7
申请日：2014-11-04
Applicant: 北京邮电大学
IPC: G01N29/09
Abstract: 本发明公开了一种对手机防尘网抗污染能力的评估方法，属于工程材料技术领域。所述评估方法首先建立评估方案，通过对待评估手机防尘网进行结构参数和涂层参数分析，建立防尘网参数评估方案，根据待评估样品的具体特性参数，确定实验对比组和实验所需样品数；其次实施污染模拟实验，包括油雾挥发沉积实验和油脂涂覆粘接实验；最后通过声阻检测评定抗污染能力。本评估方法基于污染物沉积原理，针对具体防尘网参数，可以准确有效地建立防尘网抗污染能力的评估体系。
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公开(公告)号：CN102914492A
公开(公告)日：2013-02-06
申请号：CN201210397811.0
申请日：2012-10-18
Applicant: 北京邮电大学
IPC: G01N15/08
Abstract: 本发明涉及一种利用亚硫酸溶液测定贵金属镀层孔隙率的方法。镀金触点表面的微孔率是表征镀层质量的重要指标，它表明了镀层对基体防护作用的优劣程度，应作为评判镀层质量的最主要指标。目前国内外贵金属镀层表面出现微孔较多，传统的贵金属镀层孔隙率检测通常采用强酸介质如硫酸或硝酸蒸汽等腐蚀实验来进行检测，这种方法的特点是需要大量腐蚀试剂，腐蚀时间长，而且腐蚀后的贵金属镀层表面覆盖有大量腐蚀生成物，给孔隙率的测试造成困难，容易造成错误判断。为了克服现有的贵金属镀层孔隙率检测方法的不足,本发明提供一种检测方法，本发明采用KMnO4和SO2溶液量比较小，对环境产生的损害小；测试方法简单，迅速，快捷；该方法可以精确的检测出贵金属镀层的微孔率。
